陰較為熒光系統(tǒng)（Cathodoluminescence, CL）通常配置在掃描電鏡或透射電鏡中，能夠?qū)崿F(xiàn)形貌觀察、結(jié)構(gòu)和成分分析同陰較為熒光光譜的結(jié)合研究，實(shí)現(xiàn)全光譜熒光掃描成像。

Norcada提供科學(xué)領(lǐng)域的mems器件的定制設(shè)計(jì)和制造，以滿足客戶的具體要求。這種定制設(shè)計(jì)包括非標(biāo)準(zhǔn)尺寸、較薄的膜、多窗口陣列和帶圖案電較為的窗口。

Norcada提供了廣泛的MEMS電偏壓和電化學(xué)芯片。Norcada還可以提供客戶定制的軟件包，包括用于基于 STXM的應(yīng)用程序的支架和MEMS芯片。

InSEM HT（高溫）通過在真空環(huán)境中單加熱尖端和樣品來測(cè)量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM?HT與掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）或立真空室兼容。

TNI LF-2000是目前市面上基于SEM電鏡下使用的自動(dòng)化程度高的納米操作系統(tǒng)，也是一種能夠在SEM電鏡下提供可重復(fù)定位、低漂移、閉環(huán)運(yùn)動(dòng)控制定位的納米操作系統(tǒng)。

NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進(jìn)行各種原位力學(xué)測(cè)試；也可以直接在大氣環(huán)境下測(cè)試樣品的硬度、楊氏模量或者其它物理力學(xué)性能。

LiteScope?掃描探針顯微鏡（SPM），便于集成到各種掃描電子顯微鏡（SEM）中?；パa(bǔ)SPM和SEM技術(shù)的結(jié)合（CPEM）可以進(jìn)行復(fù)雜的樣品分析，包括表面形貌、機(jī)械性能、電性能、化學(xué)成分、磁性等