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上海納騰儀器有限公司
認(rèn)證：工商信息已核實(shí)
- 產(chǎn)品分類
- 品牌分類
- （ 日本）TOUDENKI
- （ 美國）復(fù)合
- （ 韓國）SHNTI
- （ 長寧區(qū)）徠卡
- （ 英國）Nanomagnetics
- （ 徐匯區(qū)）Lumina
- （ 韓國）韓國Park Systems
- （ 法國）CSI instruments
- （ 英國）Swift Instruments
- （ 美國）美國KLA
- （ 徐匯區(qū)）納騰
- （ 俄羅斯）俄羅斯NT-MDT
- （ 日本）日本KOSAKA
- （ 瑞士）瑞士戴通
- （ 日本）日本奧林巴斯
- （ 美國）美國納米應(yīng)用
- （ 美國）美國Molecular Vistaista
- （ 南京）美國首創(chuàng)納米
- （ 浦東新區(qū)）舒峰/Easy Peak
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儀企號
上海納騰儀器有限公司
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友情鏈接
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膜厚測試儀 F3 單點(diǎn)膜厚測試儀價格：面議- 品牌：納騰
- 型號：F3
- 產(chǎn)地：上海 徐匯區(qū)
Filmetrics具有F10-HC、F20、F32、F40、F50、F60-t等多款產(chǎn)品，可測量從幾mm到450mm大小的樣品，薄膜厚度測量范圍1nm到mm級。
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膜厚測試儀 F60 全自動膜厚測試儀價格：面議- 品牌：納騰
- 型號：F60
- 產(chǎn)地：上海 徐匯區(qū)
KLA的Filmetrics系列利用光譜反射技術(shù)實(shí)現(xiàn)薄膜厚度的精確測量，其測量范圍從nm-mm，可實(shí)現(xiàn)如光刻膠、氧化物、硅或者其他半導(dǎo)體膜、有機(jī)薄膜、導(dǎo)電透明薄膜等膜厚精確測量。
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膜厚測試儀F30 在線膜厚測試儀價格：面議- 品牌：納騰
- 型號：F30
- 產(chǎn)地：上海 徐匯區(qū)
KLA的Filmetrics系列利用光譜反射技術(shù)實(shí)現(xiàn)薄膜厚度的精確測量，其測量范圍從nm-mm，可實(shí)現(xiàn)如光刻膠、氧化物、硅或者其他半導(dǎo)體膜、有機(jī)薄膜、導(dǎo)電透明薄膜等膜厚精確測量。
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棱鏡耦合儀SPA-4000耦合儀價格：面議- 品牌：納騰
- 型號：SPA-4000
- 產(chǎn)地：上海 徐匯區(qū)
對于厚膜折射率的測量，單色光被直接照射到被測樣品上，這樣，從薄膜表面反射回來的光的干涉小值就會發(fā)生變化，光的入射角也會發(fā)生變化。
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膜厚測量儀F10-RT薄膜厚度價格：面議- 品牌：納騰
- 型號：10-RT
- 產(chǎn)地：上海 徐匯區(qū)
被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、微電子、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。
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膜厚儀F50/F54自動膜厚測量儀價格：面議- 品牌：納騰
- 型號：F50/F54
- 產(chǎn)地：上海 徐匯區(qū)
KLA的 Filmetrics 系列利用光譜反射技術(shù)實(shí)現(xiàn)薄膜厚度的精確測量，其測量范圍從 nm-mm，可實(shí)現(xiàn)如光刻膠、氧化物、硅或者其他半導(dǎo)體膜、有機(jī)薄膜、導(dǎo)電透明薄膜等膜厚準(zhǔn)確測量。
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薄膜厚度 F40顯微膜厚測量儀價格：面議- 品牌：納騰
- 型號：F40
- 產(chǎn)地：上海 徐匯區(qū)
Filmetrics 具有 F10-HC、F20、F32、F40、F50、F60- t 等多款產(chǎn)品，可測量從幾 mm 到 450mm 大小的樣品，薄膜厚度測量范圍1nm到mm級。
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薄膜厚度 F20單點(diǎn)膜厚測量儀價格：面議- 品牌：納騰
- 型號：F20
- 產(chǎn)地：上海 徐匯區(qū)
KLA的 Filmetrics 系列利用光譜反射技術(shù)實(shí)現(xiàn)薄膜厚度的精確測量，其測量范圍從 nm-mm，可實(shí)現(xiàn)如光刻膠、氧化物、硅或者其他半導(dǎo)體膜、有機(jī)薄膜、導(dǎo)電透明薄膜等膜厚精確測量。
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橢圓偏振儀UVISEL Plus光譜型橢偏儀價格：面議- 品牌：納騰
- 型號：UVISEL Plus
- 產(chǎn)地：上海 徐匯區(qū)
UVISEL光譜型相調(diào)制橢圓偏振儀(SPME)是一款的儀器，它采用光彈性晶體來調(diào)制偏振光，而不是傳統(tǒng)橢偏技術(shù)中的機(jī)械偏光裝置。
滬公網(wǎng)安備 31011502008050號