FA8失效分析探針臺(tái)是專為失效分析實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)的一款量測(cè)設(shè)備，具光學(xué)特性、激光特性，設(shè)備結(jié)構(gòu)穩(wěn)定，系統(tǒng)性能優(yōu)異，人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，操作便捷，支持多功能升級(jí)，產(chǎn)品功能豐富齊全。

H12探針臺(tái)具有優(yōu)異的機(jī)械性能和的測(cè)試功能，其卡盤(pán)移動(dòng)技術(shù)，可滿足客戶對(duì)整片晶圓高效測(cè)試的需求；同時(shí)基于UPStart?模塊化開(kāi)放式設(shè)計(jì)，H系列可搭配不同的套件實(shí)現(xiàn)更寬泛的測(cè)試功能，H系列6"...

CG高低溫真空探針臺(tái)能夠?qū)崿F(xiàn)樣品在真空高低溫環(huán)境下的精確電性、光強(qiáng)、波長(zhǎng)、磁場(chǎng)等測(cè)試，其在超低溫，超高真空，自動(dòng)控制，激光模擬方面發(fā)揮著較為有的技術(shù)優(yōu)勢(shì)

C12高低溫探針臺(tái)具有優(yōu)異的機(jī)械系統(tǒng)，結(jié)構(gòu)性能穩(wěn)定，人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，操作便捷，支持多功能升級(jí)，功能豐富全面。該產(chǎn)品主要應(yīng)用于集成電路，LED，LCD，太陽(yáng)能電池，半導(dǎo)體行業(yè)的制造和研究領(lǐng)域。

M系列探針臺(tái)簡(jiǎn)易輕便，占有空間小且移動(dòng)方便。在保證測(cè)試精度的前提下，又較為具性價(jià)比，非常適合高校教學(xué)實(shí)驗(yàn)使用。如果測(cè)試器件的PAD點(diǎn)大于30μm，M系列則是其中的主選設(shè)備之一。

E 系列是一款功能進(jìn)階級(jí)探針臺(tái)，能實(shí)現(xiàn) 1μm 以上的電較為 Pad 測(cè)試，工效學(xué)設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單易操作，靈活的 UPStart? 模塊化設(shè)計(jì)， 客戶可通過(guò)較低的成本升級(jí)更多的測(cè)試功能，如：毫米波 mmW，F(xiàn)

X12半自動(dòng)探針臺(tái)是一款專業(yè)應(yīng)對(duì)各類先進(jìn)芯片性能測(cè)試的綜合型高效半自動(dòng)晶圓探針臺(tái)，集成了電學(xué)、光波、微波等多功能，具有目前行業(yè)較高的溫寬區(qū)和測(cè)試精度。