WinSPM EDU 系統(tǒng)榮獲“全國教學(xué)儀器設(shè)備評比較好獎”,該獎項(xiàng)由國家教育裝備委員會頒發(fā)，表彰其在納米教育實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)方面的創(chuàng)新設(shè)計(jì)、穩(wěn)定性能和在全國高校廣泛應(yīng)用中的突出表現(xiàn)。

日本東宇 是業(yè)界知名的氮?dú)獍l(fā)生器廠家,擁有30年豐富的銷售經(jīng)驗(yàn)及專業(yè)的售后支持團(tuán)隊(duì)。 日本京都的研發(fā)生產(chǎn)中心, 與合作實(shí)驗(yàn)室持續(xù)開發(fā)新機(jī)型。 在日本、 中國等多國取得多項(xiàng)技術(shù)專利。工廠通過ISO9...

電子束曝光指利用聚焦電子束在光刻膠上制造圖形的工藝 ， 是光刻工藝的延伸應(yīng)用 。 電子束曝光系統(tǒng)是實(shí)現(xiàn)電子束曝光 技術(shù)的硬件平臺，系統(tǒng)的性能決定了曝光工藝關(guān)鍵尺寸、拼接和套刻精度等參數(shù)。

ADR低溫恒溫器是 FormFactor公司利用多年的低溫經(jīng)驗(yàn)來提供優(yōu)秀的干式mK系統(tǒng)。可替代更昂貴，更占用空間的稀釋制冷機(jī)（DR）。

KLA Candela光學(xué)表面缺陷分析儀（OSA）可對半導(dǎo)體及光電子材料進(jìn)行先進(jìn)的表面檢測。Candela系列既能夠檢測Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板，又能對SiC、GaN、藍(lán)寶石和玻璃等透明材料進(jìn)

Lumina AT1光學(xué)表面缺陷分析儀可對玻璃、半導(dǎo)體及光電子材料進(jìn)行表面檢測。

自由曲面光學(xué)元件應(yīng)用于智能車載顯示、AR 顯示、手機(jī)鏡頭、激光顯示、照明、 光刻等前沿領(lǐng)域，自由曲面三維面型檢測儀，能夠非接觸測量光學(xué)鏡面元件的三維面型數(shù)據(jù)，開展三維輪廓分析和三維誤差比對。

具備三維翹曲（平整度）及薄膜應(yīng)力的檢測功能，適用于半導(dǎo)體晶圓生產(chǎn)、半導(dǎo)體制程工藝開發(fā)、玻璃及陶瓷晶圓生產(chǎn)。

具備化合物晶圓內(nèi)應(yīng)力分布測量及缺陷篩查等檢測功能

全新的BI-4500表面等離?子體激元共振(SPR)儀具有多通道流動模式，有助于對固定量低和分?子量小(<100 Da)的分析物的準(zhǔn)確檢測。

全新的BI-2500小型臺式表面等離子體共振(SPR)儀具有3通道流動模式, 能夠準(zhǔn)確地檢測小分子(100Da與蛋白質(zhì)的相互作用, 可用于蛋白質(zhì)親和常數(shù)的測定。

SPRm200 表面等離子共振顯微鏡 工作原理基于表面等離子共振（SPR）技術(shù)。是將表面等離子體共振技術(shù)和光學(xué)顯微鏡巧妙結(jié)合為一體的生物傳感檢測儀。

Filmetrics具有F10-HC、F20、F32、F40、F50、F60-t等多款產(chǎn)品，可測量從幾mm到450mm大小的樣品，薄膜厚度測量范圍1nm到mm級。

KLA的Filmetrics系列利用光譜反射技術(shù)實(shí)現(xiàn)薄膜厚度的精確測量，其測量范圍從nm-mm，可實(shí)現(xiàn)如光刻膠、氧化物、硅或者其他半導(dǎo)體膜、有機(jī)薄膜、導(dǎo)電透明薄膜等膜厚精確測量。

KLA的Filmetrics系列利用光譜反射技術(shù)實(shí)現(xiàn)薄膜厚度的精確測量，其測量范圍從nm-mm，可實(shí)現(xiàn)如光刻膠、氧化物、硅或者其他半導(dǎo)體膜、有機(jī)薄膜、導(dǎo)電透明薄膜等膜厚精確測量。

對于厚膜折射率的測量，單色光被直接照射到被測樣品上，這樣，從薄膜表面反射回來的光的干涉小值就會發(fā)生變化，光的入射角也會發(fā)生變化。