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銀牌會(huì)員 第 11 年
上海納騰儀器有限公司
認(rèn)證：工商信息已核實(shí)
- 產(chǎn)品分類
- 品牌分類
- （ 日本）TOUDENKI
- （ 美國(guó)）復(fù)合
- （ 韓國(guó)）SHNTI
- （ 長(zhǎng)寧區(qū)）徠卡
- （ 英國(guó)）Nanomagnetics
- （ 徐匯區(qū)）Lumina
- （ 韓國(guó)）韓國(guó)Park Systems
- （ 法國(guó)）CSI instruments
- （ 英國(guó)）Swift Instruments
- （ 美國(guó)）美國(guó)KLA
- （ 徐匯區(qū)）納騰
- （ 俄羅斯）俄羅斯NT-MDT
- （ 日本）日本KOSAKA
- （ 瑞士）瑞士戴通
- （ 日本）日本奧林巴斯
- （ 美國(guó)）美國(guó)納米應(yīng)用
- （ 美國(guó)）美國(guó)Molecular Vistaista
- （ 南京）美國(guó)首創(chuàng)納米
- （ 浦東新區(qū)）舒峰/Easy Peak
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儀企號(hào)
上海納騰儀器有限公司
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友情鏈接
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光學(xué)表面缺陷分析儀Lumina AT系列價(jià)格：面議- 品牌：Lumina
- 型號(hào)：Lumina AT
- 產(chǎn)地：上海 徐匯區(qū)
LuminaAT1光學(xué)表面缺陷分析儀，創(chuàng)新的激光掃描設(shè)備能檢測(cè)薄到0.5nm的薄膜缺陷。
Lumina
Lumina
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