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上海納騰儀器有限公司
認(rèn)證：工商信息已核實(shí)
- 產(chǎn)品分類
- 品牌分類
- （ 日本）TOUDENKI
- （ 美國）復(fù)合
- （ 韓國）SHNTI
- （ 長寧區(qū)）徠卡
- （ 英國）Nanomagnetics
- （ 徐匯區(qū)）Lumina
- （ 韓國）韓國Park Systems
- （ 法國）CSI instruments
- （ 英國）Swift Instruments
- （ 美國）美國KLA
- （ 徐匯區(qū)）納騰
- （ 俄羅斯）俄羅斯NT-MDT
- （ 日本）日本KOSAKA
- （ 瑞士）瑞士戴通
- （ 日本）日本奧林巴斯
- （ 美國）美國納米應(yīng)用
- （ 美國）美國Molecular Vistaista
- （ 南京）美國首創(chuàng)納米
- （ 浦東新區(qū)）舒峰/Easy Peak
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儀企號
上海納騰儀器有限公司
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友情鏈接
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輪廓儀 Alpha-Step? D-500探針式輪廓儀價(jià)格：面議- 品牌：美國KLA
- 型號：Alpha-Step? D-500
- 產(chǎn)地：美洲 美國
Alpha-Step? D-500 是最新一代 Alpha-Step 探針式輪廓儀。創(chuàng)新的光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率、較大的高度測量范圍和精準(zhǔn)的微力控制。
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KLA單點(diǎn)膜厚測量儀F20價(jià)格：面議- 品牌：美國KLA
- 型號：F20
- 產(chǎn)地：美洲 美國
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KLA全自動(dòng)膜厚測試儀F60價(jià)格：面議- 品牌：美國KLA
- 型號：F60
- 產(chǎn)地：美洲 美國
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KLA白光共聚焦顯微鏡輪廓儀ZETA-20價(jià)格：面議- 品牌：美國KLA
- 型號：ZETA-20
- 產(chǎn)地：美洲 美國
非接觸式優(yōu)點(diǎn)就是測量裝置探測部分不與被測表面的直接接觸，保護(hù)了測量裝置，同時(shí)避免了與測量裝置直接接觸引入的測量誤差。 Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀集成了六種光學(xué)計(jì)量技術(shù)。 ZDot 測量模式同時(shí)采集...
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KLA晶圓探針式輪廓儀/臺階儀P-7價(jià)格：面議- 品牌：美國KLA
- 型號：P-7
- 產(chǎn)地：美洲 美國
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KLA高精度臺階儀Alpha-Step D-600價(jià)格：面議- 品牌：美國KLA
- 型號：D-600
- 產(chǎn)地：美洲 美國
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KLA高精度臺式納米壓痕儀iNano價(jià)格：面議- 品牌：美國KLA
- 型號：iNano
- 產(chǎn)地：美洲 美國
iNano高精度臺式納米壓痕儀是一種緊湊，用戶友好的納米機(jī)械測量系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于硬涂層，薄膜和少量材料。該系統(tǒng)旨在進(jìn)行準(zhǔn)確，可重復(fù)的納米級機(jī)械測試，包括壓痕，硬度，劃痕和通用納米級測試。iNano具有很...
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kla 白光干涉儀三位輪廓儀Profilm 3D價(jià)格：面議- 品牌：美國KLA
- 型號：Profilm 3D
- 產(chǎn)地：美洲 美國
Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術(shù)的經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀，其可以用于多種用途的高精度表面測量。 我司有此機(jī)器可測樣。
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KLA R-50方阻測試儀價(jià)格：面議- 品牌：美國KLA
- 型號：R50
- 產(chǎn)地：美洲 美國
Filmetrics R50 是KLA電阻測試家族的Z新產(chǎn)品。R50方阻測試儀是KLA超45年電阻測量技術(shù)地位之作。電阻測量和監(jiān)控對于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都至關(guān)重要，從半導(dǎo)體制造到可穿戴技術(shù)所需的柔...
美國KLA
KLA-Tencor成立于1975年，位于美國加利福尼亞州的米爾皮塔斯，致力于半導(dǎo)體（芯片）設(shè)備領(lǐng)域的探索。產(chǎn)品主要有芯片缺陷檢測儀、芯片量測儀、實(shí)時(shí)等離子蝕刻晶圓溫度測量系統(tǒng)、套刻量測系統(tǒng)、表面輪廓儀、納米機(jī)械測試儀、芯片封裝設(shè)備等，產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體產(chǎn)品研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造、檢測等領(lǐng)域。
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