WinSPM EDU 系統(tǒng)榮獲“全國(guó)教學(xué)儀器設(shè)備評(píng)比較好獎(jiǎng)”,該獎(jiǎng)項(xiàng)由國(guó)家教育裝備委員會(huì)頒發(fā)，表彰其在納米教育實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)方面的創(chuàng)新設(shè)計(jì)、穩(wěn)定性能和在全國(guó)高校廣泛應(yīng)用中的突出表現(xiàn)。

EM-AFM可在SEM中同時(shí)提供原子力顯微鏡成像和納米機(jī)械測(cè)量。它綜合了這兩種技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)，可高速獲得高分辨率的三維圖像，并且在微納米和亞納米尺度上實(shí)時(shí)觀察納米級(jí)力的相互作用，與常規(guī)SEM/FIB兼容，

CSI是一家法國(guó)科學(xué)設(shè)備制造商，擁有專(zhuān)業(yè)的AFM設(shè)計(jì)概念，以及為現(xiàn)有的AFM提供設(shè)計(jì)選項(xiàng)。它避免了激光對(duì)準(zhǔn)需要預(yù)先定位針尖的系統(tǒng)，針尖/樣品的頂部和側(cè)視圖，結(jié)合垂直的馬達(dá)控制系統(tǒng)，使預(yù)先趨近更加容易。

Park Systems推出NX-3DM全自動(dòng)原子力顯微鏡系統(tǒng)，專(zhuān)為垂懸輪廓、高分辨率側(cè)壁成像和臨界角的測(cè)量而設(shè)計(jì)。

對(duì)于工程師來(lái)說(shuō)，識(shí)別介質(zhì)/平面基底的納米級(jí)缺陷的任務(wù)是一個(gè)非常耗時(shí)的過(guò)程，Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可以自動(dòng)缺陷識(shí)別，通過(guò)與各種光學(xué)儀器的聯(lián)用可以提高缺陷檢測(cè)效率。

高精度探針針尖變量的亞埃米級(jí)表面粗糙度測(cè)量，晶圓的表面粗糙度對(duì)于確定半導(dǎo)體器件的性能是至關(guān)重要的，對(duì)于先進(jìn)的元件制造商，芯片制造商和晶圓供應(yīng)商都要求對(duì)晶圓商超平坦表面進(jìn)行更精確的粗糙度控制。

Park NX-Hivac通過(guò)為失效分析工程師提供高真空環(huán)境來(lái)提高測(cè)量敏感度以及原子力顯微鏡測(cè)量的可重復(fù)性。與一般環(huán)境或干燥N2條件相比，高真空測(cè)量具有準(zhǔn)確度好、可重復(fù)性好及針尖和樣本損傷低等優(yōu)點(diǎn)。

Park Systems的PTR系列是針對(duì)全自動(dòng)工業(yè)級(jí)線上的原子力顯微鏡解決方案，適用于（不限于）長(zhǎng)形條、磁頭萬(wàn)向節(jié)組件(HGA)級(jí)滑塊以及單滑塊的沉降自動(dòng)測(cè)量。

Park NX12-Bio是一個(gè)強(qiáng)大的三合一生物研究工具，將掃描離子電導(dǎo)顯微鏡(SICM)與原子力顯微鏡(AFM)和倒置光學(xué)顯微鏡(IOM)融合在同一平臺(tái)上。

傅立葉變化紅外光譜(Fourier Transform infrared spectroscopy, FTIR)應(yīng)用于各種化學(xué)分析，尤其是聚合物和有機(jī)化合物分析，為現(xiàn)代化學(xué)提供了重要的分析手段。

隨著近些年對(duì)于納米光子學(xué)、表面等離較為化激元、二維材料以及范德華異質(zhì)結(jié)構(gòu)等領(lǐng)域的深入研究，掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡已成為研究這些領(lǐng)域的不可或缺的表征手段。

sMIM是由美國(guó)PrimeNano公司聯(lián)合美國(guó)頂尖高校（斯坦福大學(xué)）發(fā)展起來(lái)的一款基于AFM的電學(xué)測(cè)量設(shè)備。在測(cè)量樣品表面形貌的同時(shí)得到樣品的電學(xué)性質(zhì)，如導(dǎo)電率，介電常數(shù)，載流子濃度，載流子類(lèi)型等。

VertiSenseTM 掃描熱學(xué)顯微鏡通過(guò)使用特殊帶熱電偶的針尖，掃描樣品時(shí)，熱電偶的溫度，通過(guò)熱信號(hào)成像放大器，通過(guò)AFM處理，同時(shí)得到熱成像圖和形貌圖。

強(qiáng)大全面的分析能力，Park NX20具備的功能，可快速幫助客戶找到產(chǎn)品失效的原因，并幫助客戶制定出更多具有創(chuàng)意的解決方案。

Park XE15具備多個(gè)特殊功能，是共享實(shí)驗(yàn)室處理各種樣品，研究員進(jìn)行多變量實(shí)驗(yàn)，失效分析時(shí)研究晶片等的不二選擇，合理的價(jià)格搭配強(qiáng)健的性能設(shè)置，Park XE15能夠?qū)崿F(xiàn)多樣品一次性自動(dòng)成像。

在同級(jí)產(chǎn)品中，Park XE7 能夠帶來(lái)納米級(jí)分辨率的測(cè)量效果。得益于原子力顯微鏡架構(gòu)，即立的 XY 軸和 Z 軸柔性掃描器，XE7 能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線性的掃描測(cè)量，從而精確成像和測(cè)量樣品的特征。