WinSPM EDU 系統(tǒng)榮獲“全國(guó)教學(xué)儀器設(shè)備評(píng)比較好獎(jiǎng)”,該獎(jiǎng)項(xiàng)由國(guó)家教育裝備委員會(huì)頒發(fā)，表彰其在納米教育實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)方面的創(chuàng)新設(shè)計(jì)、穩(wěn)定性能和在全國(guó)高校廣泛應(yīng)用中的突出表現(xiàn).

WinSPM EDU是專為高校納米科技教學(xué)設(shè)計(jì)的掃描探針顯微鏡系統(tǒng)，集成多種成像模式，支持多種探針類型，搭載智能控制軟件平臺(tái)，廣泛用于教學(xué)實(shí)驗(yàn)、課程開發(fā)與科研訓(xùn)練。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

· 無(wú)需激光調(diào)節(jié)，操作簡(jiǎn)便，安全性高

· 兼容壓電自感知探針，實(shí)現(xiàn)力曲線與納米壓痕分析

· 小體積集成設(shè)計(jì)，便于教學(xué)實(shí)驗(yàn)部署

· 支持原子級(jí)分辨率，適合高等教育與科研訓(xùn)練

· 功能覆蓋科研與教學(xué)多任務(wù)場(chǎng)景

·模塊化設(shè)計(jì)，升級(jí)空間大，維護(hù)成本低

技術(shù)

技術(shù)規(guī)格

· 支持接觸模式、輕敲模式、相位成像、頻率調(diào)制成像等多種掃描模式；

· 較大掃描范圍：20×20×3μm3,   較小分辨率優(yōu)于0.1 nm;

· 平臺(tái)支持樣品較大尺寸：直徑20 mm,  厚 度 ≤ 5 mm;

· 探針支持：自感知壓電探針/激光調(diào)頻探針；

·掃描控制器支持閉環(huán)反饋與圖像拼接功能；

· 兼容光學(xué)模塊與視頻接口，支持在線監(jiān)控；

· 軟件平臺(tái)支持：圖像分析、高度統(tǒng)計(jì)、截面測(cè)量、3D 渲染等；

·硬件接口豐富，預(yù)留升級(jí)通道，兼容STEM 課程集成。

應(yīng)用

教學(xué)實(shí)驗(yàn)方案
· 原子力顯微圖像成像實(shí)驗(yàn)

· 探針力學(xué)行為與納米力曲線測(cè)量

· 表面形貌與微納結(jié)構(gòu)分析

· STM  成像原理驗(yàn)證(可選)

· 納米成像數(shù)據(jù)處理與3D 圖形分析

· 基于圖像識(shí)別的樣品分類實(shí)驗(yàn)

成像效果示例

· 二維材料原子陣列可視化

· 納米顆粒團(tuán)聚結(jié)構(gòu)

· 生物樣品膜結(jié)構(gòu)

· 晶體臺(tái)階高度分析

典型應(yīng)用領(lǐng)域

·半導(dǎo)體工藝教學(xué)與失效分析

· 材料科學(xué)研究

· 光電器件表征

· 表面工程與粗糙度分析

· 微納加工課程支持

· 高等院校與科研機(jī)構(gòu)通識(shí)納米實(shí)驗(yàn)平臺(tái)