在藥品開(kāi)發(fā)的過(guò)程中，XRD承擔(dān)著原料藥多晶型篩選、制劑中晶相鑒定、質(zhì)量管理等諸多重要職責(zé)。

不少技術(shù)人員也常被"昨天的測(cè)定和今天的峰位略有偏差""強(qiáng)度比每次都不一樣""出現(xiàn)了從未見(jiàn)過(guò)的峰"等"原因不明的問(wèn)題"所困擾。

特別是藥品等有機(jī)物，往往具有易于取向、粉碎后會(huì)轉(zhuǎn)變?yōu)闊o(wú)定形或其他多晶型等對(duì)XRD測(cè)定極為敏感的性質(zhì)，稍有不慎就會(huì)影響多晶型判定和鑒定結(jié)果。

本文將以通俗易懂的方式，不僅限于藥品領(lǐng)域，對(duì)實(shí)際工作中常見(jiàn)的、容易在XRD測(cè)定判斷上產(chǎn)生困惑的案例及其規(guī)避思路進(jìn)行詳細(xì)解說(shuō)。

藥品的多晶型判定，不僅需要峰位信息，強(qiáng)度比同樣至關(guān)重要。

然而，強(qiáng)度比不穩(wěn)定的情況非常多見(jiàn)，令人感到頗為苦惱。

藥品現(xiàn)場(chǎng)處理的粉末，往往容易混入粗大顆粒，或因針狀、板狀結(jié)晶而產(chǎn)生強(qiáng)烈取向，這些條件都會(huì)導(dǎo)致強(qiáng)度比出現(xiàn)波動(dòng)。

大顆粒的問(wèn)題很好理解，當(dāng)粒徑過(guò)大時(shí)，X射線無(wú)法在各個(gè)隨機(jī)方向上發(fā)生衍射，強(qiáng)度比便不穩(wěn)定。

擇優(yōu)取向的問(wèn)題，此處以針狀晶體為例說(shuō)明：針狀結(jié)晶會(huì)使特定晶面優(yōu)先排列，導(dǎo)致某些峰的強(qiáng)度異常偏高。

狹縫寬度不同，入射X射線的總量和照射區(qū)域就會(huì)發(fā)生變化，尤其在低角度側(cè)衍射峰強(qiáng)度會(huì)產(chǎn)生大幅波動(dòng)。特別是在多臺(tái)儀器共用或儀器更新時(shí)，很容易忽略入射狹縫寬度，這是常見(jiàn)問(wèn)題。

若選擇的入射狹縫過(guò)大，則在低角度下覆蓋區(qū)域增加，有時(shí)甚至照到玻璃樣品架上或被浪費(fèi)在其他區(qū)域，導(dǎo)致強(qiáng)度反而更低。

圖3. 狹縫寬度導(dǎo)致的圖譜差異

在藥品分析中，當(dāng)出現(xiàn)未知峰時(shí)，往往會(huì)擔(dān)心"是不是分解了？""是不是出現(xiàn)了新晶型？"，但實(shí)際上，由裝置或樣品架引起的情況非常常見(jiàn)。

鋁制樣品架等材質(zhì)，可能會(huì)產(chǎn)生其固有的峰。

只需嘗試無(wú)樣品的空白測(cè)定(blank測(cè)定)，原因可能立即水落石出。

圖4. 各種樣品架的空白測(cè)定

當(dāng)Kβ線混入時(shí)，在強(qiáng)度較高的峰附近（低角度側(cè)）可能會(huì)出現(xiàn)陌生的峰。

這種現(xiàn)象的顯著特點(diǎn)是，容易發(fā)生在裝置更新后、移機(jī)后、維護(hù)后等裝置環(huán)境發(fā)生變化的時(shí)期。

大多數(shù)情況下，原因是去除Kβ線的濾光片未安裝，或?yàn)V光片厚度不適當(dāng)。

圖5. 有/無(wú)Kβ濾光片

X射線管球長(zhǎng)時(shí)間使用后，可能因內(nèi)部發(fā)射裝置部件老化而產(chǎn)生不純的衍射線，如燈絲的WL α 等。

當(dāng)光管經(jīng)常持續(xù)運(yùn)作，且使用時(shí)間接近規(guī)定值，或感覺(jué)整體衍射強(qiáng)度下降時(shí)，可視為光管開(kāi)始劣化的信號(hào)。

這種情況下，建議考慮更換光管或進(jìn)行適當(dāng)?shù)木S護(hù)。

圖6. 光源不純線的示意圖譜