X射線-熒光雙模態(tài)成像系統(tǒng)
高分辨率X射線成像系統(tǒng) 高分辨率X射線成像系統(tǒng)
X射線探測(cè)器
X射線分離行為分散儀
X射線熒光光譜儀-德國(guó)斯派克SPECTRO XEPOS能量色散X射線熒光光譜儀
儀器簡(jiǎn)介：
理學(xué)臺(tái)式波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀,它很好的解決了能量色散難于分析的F,Na,Mg,Al,Si的定量分析,組分較為復(fù)雜的樣品定性分析方面,發(fā)揮了極大的作用.
具有WDX特有的良好波長(zhǎng)分辨率.可輕易分開(kāi)Al和Si元素的能譜峰,并對(duì)其實(shí)行定量分析.
具有WDX特有的良好的輕元素的高靈敏度,分析元素范圍從9F-92U.
無(wú)需液氮和冷卻水.
主要特點(diǎn)：
小型化與高性能的完 美結(jié)合.
引入了小型化和WDX優(yōu)異的特性相結(jié)合的新概念.
打破尺寸概念,開(kāi)創(chuàng)臺(tái)式新局面.
可根據(jù)研究開(kāi)發(fā),質(zhì)量管理的不同應(yīng)用目的進(jìn)行選擇.
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已咨詢909次精巧型波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀
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已咨詢1796次X射線熒光光譜儀
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已咨詢2494次臺(tái)式波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀XRF
采用水平雙桿差動(dòng)法，糾正和消除了波動(dòng)造成的漂移。
先進(jìn)的爐體結(jié)構(gòu)。 強(qiáng)大的軟件功能。
室溫-1500℃
使用雙桿差動(dòng)膨脹測(cè)量系統(tǒng)，消除測(cè)量機(jī)制本身熱膨脹/收縮造成的影響。
該產(chǎn)品采用一體化設(shè)計(jì)，集成Skimer專利技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)四項(xiàng)測(cè)試實(shí)時(shí)同步進(jìn)行，有效避免外界干擾。其獨(dú)特的接口設(shè)計(jì)及無(wú)碎片光離子化技術(shù)，質(zhì)量數(shù)高達(dá)400，能全面覆蓋并準(zhǔn)確測(cè)量逸出氣體中的微量氫。
該系統(tǒng)結(jié)合了θ - θ型x射線衍射儀和DSC，可以在相同的溫度和氣氛下同時(shí)測(cè)量DSC和XRD。同時(shí)得到有關(guān)相變溫度和能量的信息及相變前后的晶體狀態(tài)。
該設(shè)備是一款高性能的波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀，適用于從鈹?shù)解櫟脑胤治觥Ｅ渲昧?kW或3kW的端窗式Rh靶X射線管、雙真空系統(tǒng)和可選的48樣品自動(dòng)交換器。
1.小型化、高性能、高速度、易操作，Be-U高靈敏度、高精度分析 2.可同時(shí)分析40種元素 3.采用固定道扣背景專利技術(shù)，可選配輕、重元素掃描測(cè)角儀
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