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產(chǎn)品中心

儀器網(wǎng)>產(chǎn)品中心>測量計量儀器>表面測量儀器 更新時間:2026-04-14 11:40:28

表面測量儀器

(共286件相關(guān)產(chǎn)品信息)
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產(chǎn)品分類:
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綜合
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    3D光學干涉 輪廓儀 非接觸式

    日立 Nano-2000 江蘇 蘇州
    深圳瑞塞奇精密儀器有限公司
    NanoX-2000/3000系列 3D光學干涉輪廓儀建立在移相干涉測量(PSI)、白光垂直掃描干涉測量(VSI)和單色光垂直掃描干涉測量(CSI)等技術(shù)的基礎(chǔ)上,以其納米級測量準確度和重復性(穩(wěn)定性)定量地反映出被測件的表面粗糙度、表面輪廓、臺階高度、關(guān)鍵部位的尺寸及其形貌特征等。廣泛應用于集成電路制造、MEMS、航空航天、精密加工、表面工程技術(shù)、材料、太陽能電池技術(shù)等領(lǐng)域

    輪廓儀

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    ¥600000

    美國KLA(科磊)光學輪廓儀Zeta-20

    美國KLA Zeta-20-18604053809 美洲 美國
    北京中海遠創(chuàng)材料科技有限公司
    Zeta?-20是一個高度集成的光學輪廓顯微鏡,可在緊湊、耐用的包裝下提供3D量測和成像功能。該系統(tǒng)采用ZDot?技術(shù),可同時收集高分辨率3D形貌信息和樣品表面真彩色圖像。Zeta-20 3D顯微鏡支持研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境,具有多模光學器件、易于使用的軟件和性價比高等優(yōu)勢。 18604053809

    輪廓儀

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    ¥350000

    美國KLA(科磊)光學輪廓儀P3D

    美國KLA P3D 美洲 美國
    北京中海遠創(chuàng)材料科技有限公司
    2D價格、3D性能 Profilm3D是經(jīng)濟實惠、Z先進的光學輪廓儀。使用行業(yè)標準的白光干涉儀 (WLI) 和可選的相移干涉儀 (PSI) 來生成高質(zhì)量的表面輪廓和無限深度的真彩色圖像。 王樹剛 18604053809

    輪廓儀

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    SuperView W1光學3D表面輪廓儀

    盧森堡Artec 3D SuperView W1 歐洲 其它
    寧波福萊德三維科技有限公司

    輪廓儀

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    SuperView W1光學3D表面輪廓儀

    福萊德 SuperView W1 浙江 寧波
    寧波福萊德三維科技有限公司
    SuperView W1光學3D表面輪廓儀是一款用于對各種精密器件及 材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。

    輪廓儀

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    ¥2500

    雙屏粗糙度儀 金屬表面粗糙度檢測儀

    中科普銳 PR110 山東 濰坊
    山東普銳智能科技有限公司
    可選擇4種測量參數(shù)Ra、Rz、Rt、Rq;采用雙屏設(shè)計,便于在測量時從頂部視窗讀數(shù);采用ARM處理器進行數(shù)據(jù)處理和計算,速度快,功耗低,精度高;OLED液晶顯示,高亮度,全視角,寬溫度,適合各種場合;

    粗糙度儀

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    ¥4500

    供應便攜式粗糙度儀 手持粗糙度儀 金屬表面粗糙度檢測

    中科普銳 TR200 山東 濰坊
    山東普銳智能科技有限公司
    ●采用ARM進行控制和數(shù)據(jù)處理,速度快,功耗低;●大量程,多參數(shù)Ra,Rz,Rq,Rt,Rp,Rv,R3z等13個參數(shù);●兼容ISO、DIN、ANSI、JIS多個***;●可擴展MicroSD卡存儲,可達16G,機內(nèi)FLASH可存儲200組原始數(shù)據(jù)及波形;●兼容多種傳感器;

    粗糙度儀

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    KLA 臺階儀 D-500

    美國KLA D-500 美洲 美國
    北京中海遠創(chuàng)材料科技有限公司
    臺階高度:幾納米至1200μm 低觸力:0.03至15mg 視頻:500萬像素高分辨率彩色攝像頭 梯形失真校正:消除側(cè)視光學系統(tǒng)引起的失真 圓弧校正:消除由于探針的弧形運動引起的誤差 緊湊尺寸:小占地面積的臺式探針式輪廓儀 主要應用 臺階高度:2D臺階高度 紋理:2D粗糙度和波紋度 形式:2D翹曲和形狀 應力:2D薄膜應力 應用領(lǐng)域 大學,研究實驗室和研究所 半導體和復合半導體 SIMS:二次離子質(zhì)譜 LED:發(fā)光二極管 太陽能 MEMS:微電子機械系統(tǒng) 汽車 醫(yī)療設(shè)備

    臺階儀

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    KLA 臺階儀 D-300

    美國KLA D-300 美洲 美國
    北京中海遠創(chuàng)材料科技有限公司
    Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。光學杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量,大垂直范圍和低觸力測量功能。 探針測量技術(shù)的一個優(yōu)點是它是一種直接測量,與材料特性無關(guān)??烧{(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結(jié)構(gòu)和材料進行測量。通過測量粗糙度和應力,可以對工藝進行量化,確定添加或去除的材料量,以及結(jié)構(gòu)的任何變化。 設(shè)備特點 臺階高度:幾納米至1000μm 低觸力:0.5至15mg 視頻:500萬像素率彩色攝像頭 梯形失真校正:消除側(cè)視光學系統(tǒng)引起的失真 圓弧校正:消除由于探針的弧形運動引起的誤差 緊湊尺寸:小占地面積的臺式探針式輪廓儀 主要應用 臺階高度:2D臺階高度 紋理:2D粗糙度和波紋度 形式:2D翹曲和形狀 應力:2D薄膜應力 應用領(lǐng)域 半導體和復合半導體 SIMS:二次離子質(zhì)譜 LED:發(fā)光二極管 太陽能 MEMS:微電子機械系統(tǒng) 汽車 醫(yī)療設(shè)備

    臺階儀

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    美國KLA臺階儀

    美國KLA P7 美洲 美國
    倬昊納米科技(上海)中心

    臺階儀

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    美國Nanovea ST400三維表面形貌儀

    美國Nanovea ST400 美洲 美國
    倬昊納米科技(上海)中心

    三維表面形貌儀

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    美國Nanovea PS50光學輪廓儀

    美國Nanovea PS50 美洲 美國
    倬昊納米科技(上海)中心

    輪廓儀

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    美國Nanovea JR25便攜式三維輪廓儀

    美國Nanovea JR25 美洲 美國
    倬昊納米科技(上海)中心

    輪廓儀

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    三維光學輪廓儀ContourX-100

    德國布魯克 ContourX-100 歐洲 德國
    瑞科和利(北京)科技有限公司
    ContourX-100 三維光學輪廓儀該小尺寸系統(tǒng)采用流線型設(shè)計,結(jié)合了數(shù)十年專有的布魯克白光干涉儀(WLI)創(chuàng)新,可提供毫不遜色的2D/ 3D高分辨率測量功能。滿足計量要求的臺式系統(tǒng)具有業(yè)界最先進的友好用戶界面,可直觀訪問多種預編程濾鏡和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜和摩擦學應用分析。

    輪廓儀

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    EC3600A/EC36008/EC3600C真圓度儀

    日本小坂 EC3600A/EC36008/EC3600C 亞洲 日本
    無錫浩輝者新材料科技有限公司

    圓度儀/圓柱度儀

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    EC4100H真圓度儀

    日本小坂 EC4100H 亞洲 日本
    無錫浩輝者新材料科技有限公司

    圓度儀/圓柱度儀

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    SE800-C5W (3D)表面粗糙度儀

    日本小坂 SE800-C5W (3D) 亞洲 日本
    無錫浩輝者新材料科技有限公司

    粗糙度儀

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    探針式輪廓儀 Dektak XTL

    德國布魯克 Dektak XTL 歐洲 德國
    廣州淘儀科技有限公司
    Dektak XTL探針式輪廓儀自動化設(shè)置和操作,基于參考位置和眾多測量位置進行編程,以Z大限度地提高測試通量并Z大限度地減少出錯。 Dektak XTL探針式輪廓儀雙攝像機控制,更快地簡化測量設(shè)置和定位到感興趣點。容易分析和數(shù)據(jù)收集,自動執(zhí)行分析程序,僅報告復雜樣本上所需的特征。

    輪廓儀

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    探針式輪廓儀 Dektak XTL

    德國布魯克 Dektak XTL 歐洲 德國
    廣州淘儀科技有限公司
    Dektak XTL探針式輪廓儀自動化設(shè)置和操作,基于參考位置和眾多測量位置進行編程,以Z大限度地提高測試通量并Z大限度地減少出錯。 Dektak XTL探針式輪廓儀雙攝像機控制,更快地簡化測量設(shè)置和定位到感興趣點。 容易分析和數(shù)據(jù)收集,自動執(zhí)行分析程序,僅報告復雜樣本上所需的特征。

    輪廓儀

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    ¥5500

    表面粗糙度儀

    格倫姆 GLENM150 河北 石家莊
    河北格倫姆工業(yè)科技有限公司
    高精度 表面粗糙度儀GLENM150能測量Z新國際標準的主要參數(shù),嚴格執(zhí)行了國際標準,測量參數(shù)符合國際標準并兼容美國、德國、日本、英國等國家的標準。 適用范圍:可對多種機械加工零件表面的粗糙度進行測量,包括平面、斜面、外圓柱面,曲面,小孔,溝槽及車軸等。 獨具特點:操作簡便,功能全面,測量快捷,精度穩(wěn)定,攜帶方便,不受南方環(huán)境溫濕度影響。

    粗糙度儀

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    ¥188888

    Veeco/Wyko NT1100 表面輪廓儀/粗糙度儀 白光干涉儀 銷售維修

    美國Veeco NT1100 美洲 美國
    佛山宗本光學儀器有限公司
    Veeco/Wyko NT1100 表面輪廓儀/粗糙度儀 白光干涉儀 銷售維修 產(chǎn)品信息 品牌:Wyko 型號:NT1100

    粗糙度儀

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    ¥65000

    日本小坂KOSAKA ET4000L 探針式輪廓儀 表面輪廓測量儀 現(xiàn)貨 議價

    日本小坂 ET4000L 亞洲 日本
    深圳市華美行自動化設(shè)備有限公司

    輪廓儀

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    光學輪廓儀 Profilm3D

    科磊 光學輪廓儀 Profilm3D 美洲 美國
    深圳市今浩儀器設(shè)備有限公司
    Filmetrics? Profilm3D?和Filmetrics Profilm3D-200光學輪廓儀采用白光干涉測量(WLI)技術(shù),是經(jīng)濟實用的非接觸式3D表面形貌測量系統(tǒng)。Profilm3D系列可以測量從納米到毫米級的表面特征,并生成高分辨率3D表面數(shù)據(jù)和TotalFocus?圖像(景深等于垂直掃描距離的彩色3D圖像)。Profilm3D的菜單設(shè)置簡單而靈活,可進行單次多點掃描或自動多點測量,非常適合研發(fā)和量產(chǎn)應用。

    輪廓儀

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    $65000

    臺階儀

    科磊 D600 美洲 美國
    深圳市今浩儀器設(shè)備有限公司
    Alpha-Step D-600 探針式輪廓儀能夠測量從幾納米到 1200微米的2D和3D臺階高度。D-600 還支持2D和3D的粗糙度測量,以及用于研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)節(jié)的2D翹曲度和應力測量。D-600 包含一個帶有200 毫米樣品載臺的電動樣品臺和具有增強影像控制的高級光學器件。

    臺階儀

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    $50000

    探針式輪廓儀

    科磊 D500 美洲 美國
    深圳市今浩儀器設(shè)備有限公司
    Alpha-Step D-500探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D測量。 創(chuàng)新的光學杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量,大垂直范圍和低觸力測量功能。 探針測量技術(shù)的一個優(yōu)點是它是一種直接測量,與材料特性無關(guān)。 可調(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結(jié)構(gòu)和材料進行精確測量。 通過測量粗糙度和應力,可以對工藝進行量化,確定添加或去除的材料量,以及結(jié)構(gòu)的任何變化。

    輪廓儀

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Zeta-300支持3D量測和成像的功能,并提供整合隔離工作臺和靈活的配置,可用于處理更大的樣品。該系統(tǒng)采用ZDot?技術(shù),可同時采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color(真彩)無限遠焦點圖像。Zeta-300具備Multi-Mode(多模式)光學系統(tǒng)、簡單易用的軟件、以及低擁有成本,適用于研發(fā)及生產(chǎn)環(huán)境。

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