BRUKER臺(tái)階儀-探針式表面輪廓儀DektaKXT
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BRUKER臺(tái)階儀-探針式表面輪廓儀DektaKXT
ContourX-200 三維光學(xué)輪廓儀
ContourX-200 三維光學(xué)輪廓儀
ContoruGT 產(chǎn)品系列光學(xué)輪廓儀-表面量測(cè)系統(tǒng)-供生產(chǎn)QC/QA及研發(fā)研用的非接解觸型光學(xué)輪廓儀
。ContoruGT-K0
。ContoruGT-1
。ContoruGT-X
。NPFLEX
ContourGT 系列產(chǎn)品結(jié)合先進(jìn)的64位,多核心運(yùn)作及分析軟件,ZG的白光干涉儀(WLI)硬件,以有前所未具簡(jiǎn)易操作度,為目前所開發(fā)量先進(jìn)的3D光學(xué)表面輪廓儀。ContourGT 系列產(chǎn)品中包含有旗靚級(jí)ContourGT-X, 進(jìn)階級(jí)ContourGT-1及入門等級(jí)的桌上型K0,每款機(jī)型可提供多種加工與制造業(yè)市場(chǎng)上各種應(yīng)用范圍(包括高亮度LED,太陽(yáng)能,眼科,半導(dǎo)體及醫(yī)療裝置等)。NPRLEX 為大尺寸工件精密加工提供非接觸準(zhǔn)確測(cè)量。


Contour GT-1 配備傾斜調(diào)整支架,自動(dòng)樣品臺(tái)和多物鏡自動(dòng)搭臺(tái),實(shí)現(xiàn)全面,精 準(zhǔn)的表面測(cè)量任務(wù),滿足科研和生產(chǎn)各領(lǐng)域檢測(cè)需求。Contour GT-1 采用BrukerZG的搞震測(cè)量技術(shù),及節(jié)省空間高穩(wěn)定性的基座設(shè)計(jì),保證在生產(chǎn)車間測(cè)試環(huán)境條件非常苛刻的情況下,也能完成準(zhǔn)確高效的產(chǎn)品測(cè)量。

報(bào)價(jià):面議
已咨詢1642次德國(guó)Bruker 光譜儀/納米壓痕儀/光學(xué)輪廓儀
報(bào)價(jià):面議
已咨詢1650次德國(guó)Bruker 光譜儀/納米壓痕儀/光學(xué)輪廓儀
報(bào)價(jià):面議
已咨詢7929次輪廓儀
報(bào)價(jià):¥400000
已咨詢166次二手物性儀器
報(bào)價(jià):面議
已咨詢263次光學(xué)輪廓儀
報(bào)價(jià):面議
已咨詢7036次光學(xué)輪廓儀
報(bào)價(jià):面議
已咨詢216次光學(xué)輪廓儀
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已咨詢187次光學(xué)輪廓儀
Zeta-300支持3D量測(cè)和成像的功能,并提供整合隔離工作臺(tái)和靈活的配置,可用于處理更大的樣品。該系統(tǒng)采用ZDot?技術(shù),可同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color(真彩)無(wú)限遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像。Zeta-300具備Multi-Mode(多模式)光學(xué)系統(tǒng)、簡(jiǎn)單易用的軟件、以及低擁有成本,適用于研發(fā)及生產(chǎn)環(huán)境。
P-17支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量,適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量,其掃描可達(dá)200mm而無(wú)需圖像拼接。
P-7支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量,適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量,其掃描可達(dá)150mm而無(wú)需圖像拼接。
Alpha-Step D-600探針式輪廓儀能夠測(cè)量從幾納米到1200微米的2D和3D臺(tái)階高度。 D-600還可以在研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境中支持粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D和3D測(cè)量。 D-600包括一個(gè)電動(dòng)200毫米樣品卡盤和先進(jìn)的光學(xué)系統(tǒng)以及加強(qiáng)視頻控制。
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晶圓幾何形貌測(cè)量及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī)使用高精度高速光譜共焦雙探頭對(duì)射傳感器實(shí)現(xiàn)晶圓的非接觸式測(cè)量,結(jié)合高精度運(yùn)動(dòng)模組及晶圓機(jī)械手可實(shí)現(xiàn)晶圓形貌的亞微米級(jí)精度的測(cè)量,該系統(tǒng)適用于晶圓多種材質(zhì)的晶圓,包括藍(lán)寶石、GaAs、GaN、SiC 以及 Si 等;
晶圓幾何形貌及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī)PLS- F1000/ F1002 是一款專門測(cè)量晶圓厚度、TTV, Bow, Warp, TIR, Sori, Sag, LTV等參數(shù)的自動(dòng)晶圓形貌檢測(cè)及分選機(jī)。