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KLA P-17 探針式臺階儀

品牌：美國KLA 型號：P-17 產(chǎn)地：美洲美國

廠商：優(yōu)尼康科技有限公司

簡介：KLA P-17 探針式臺階儀是P系列探針式臺階儀的產(chǎn)品。該系統(tǒng)具備可編程掃描平臺、低噪聲電子分辨率，垂直范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)高分辨率掃描，能夠覆蓋樣品表面整個區(qū)域。 KLA P-17 探針式臺階儀的優(yōu)點(diǎn)包括200mm掃描平臺，可以在無需拼接的情況下測量整個基片。UltraLite傳感器組件結(jié)合了線性垂直測量和恒定力控制，可測量各種材料和地形。頂視圖和側(cè)視圖光學(xué)系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)簡單的位置教學(xué)、圖案識別，并在測量
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探針式輪廓儀/臺階儀Alpha-Step D500 /D600

品牌：KLA 型號：Alpha-Step D500 /D600 產(chǎn)地：美洲美國

廠商：深圳市錫成科學(xué)儀器有限公司
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布魯克第十代臺階儀DektakXT

品牌：德國布魯克型號：DektakXT 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：上海爾迪儀器科技有限公司
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布魯克第十代臺階儀DektakXT

品牌：德國布魯克型號：DektakXT 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：上海爾迪儀器科技有限公司
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bruker臺階儀探針

品牌：德國布魯克型號：產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：上海爾迪儀器科技有限公司

簡介：bruker臺階儀探針布魯克臺階儀（探針式表面輪廓儀）探針，是布魯克臺階儀（探針式表面輪廓儀）專用探針。
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KLA P-17 探針式臺階儀

品牌：美國KLA 型號：P-17 產(chǎn)地：美洲美國

廠商：優(yōu)尼康科技有限公司

簡介：KLA P-17 探針式臺階儀是P系列探針式臺階儀的產(chǎn)品。該系統(tǒng)具備可編程掃描平臺、低噪聲電子分辨率，垂直范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)高分辨率掃描，能夠覆蓋樣品表面整個區(qū)域。 KLA P-17 探針式臺階儀的優(yōu)點(diǎn)包括200mm掃描平臺，可以在無需拼接的情況下測量整個基片。UltraLite傳感器組件結(jié)合了線性垂直測量和恒定力控制，可測量各種材料和地形。頂視圖和側(cè)視圖光學(xué)系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)簡單的位置教學(xué)、圖案識別，并在測量
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KLA P-170全自動探針式表面輪廓儀

品牌：美國KLA 型號：P-170 產(chǎn)地：美洲美國

廠商：優(yōu)尼康科技有限公司

簡介：KLA P-170 全自動探針式表面輪廓儀一款盒對盒型臺階儀，具有KLA P-17 探針式表面輪廓儀的臺式系統(tǒng)測量性能和HRP260系統(tǒng)經(jīng)生產(chǎn)驗(yàn)證的處理程序。該系統(tǒng)提供了一個可編程的掃描平臺、低噪音和整個垂直范圍內(nèi)的亞安格倫電子分辨率，可以在樣品表面的任何地方進(jìn)行高分辨率掃描。
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KLA D600 探針式表面輪廓儀

品牌：美國KLA 型號：D-600 產(chǎn)地：美洲美國

廠商：優(yōu)尼康科技有限公司

簡介：KLA D600 探針式表面輪廓儀采用光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率、較大的高度測量范圍和準(zhǔn)確的微力控制。探針的接觸式測量技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)是直接測量，與材料特性無關(guān)。多種力度調(diào)節(jié)和探針尺寸選擇可以讓機(jī)臺對各種結(jié)構(gòu)和材料進(jìn)行準(zhǔn)確測量。這些功能可以表征因添加或移除材料而引起的形貌特征改變，以及測量由材料結(jié)構(gòu)改變引起的粗糙度和應(yīng)力變化。
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KLA D500 探針式表面輪廓儀

品牌：美國KLA 型號：D-500 產(chǎn)地：美洲美國

廠商：優(yōu)尼康科技有限公司

簡介：KLA D500 探針式表面輪廓儀的光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率、較大的高度測量范圍和準(zhǔn)確的微力控制。探針的接觸式測量技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)是直接測量，與材料特性無關(guān)。多種力度調(diào)節(jié)和探針尺寸選擇可以讓機(jī)臺對各種結(jié)構(gòu)和材料進(jìn)行準(zhǔn)確測量。這些功能可以表征因添加或移除材料而引起的形貌特征改變，以及測量由材料結(jié)構(gòu)改變引起的粗糙度和應(yīng)力變化。
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KLA P-7 探針式臺階儀

品牌：美國KLA 型號：P-7 產(chǎn)地：美洲美國

廠商：優(yōu)尼康科技有限公司

簡介：KLA P-7 探針式臺階儀是KLA公司的探針式臺階儀系統(tǒng)。KLA P-7 探針式表面輪廓儀建立在P-17臺式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。它保持了P-17技術(shù)的測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了性價比。KLA P-7 探針式臺階儀可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測量，其掃描可達(dá)150mm而無需圖像拼接。
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輪廓儀 P7 晶圓探針式輪廓儀/臺階儀

品牌：納騰型號：P7 產(chǎn)地：上海徐匯區(qū)

廠商：上海納騰儀器有限公司

簡介：P-7建立在市場領(lǐng)先的P-17臺式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。它保持了P-17技術(shù)的測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了好的性價比。
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臺階儀 D600 高精度探針式輪廓儀/臺階儀

品牌：納騰型號：D600 產(chǎn)地：上海徐匯區(qū)

廠商：上海納騰儀器有限公司

簡介：KLA先進(jìn)的探針式臺階儀Alpha-Step D-600，可測量納米級至1200um臺階高度，并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度、應(yīng)力。且其具有5.0A (1σ)或0.1%臺階高度重復(fù)性以及亞埃級的分辨率
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臺階儀 D300 經(jīng)濟(jì)型高精度臺階儀

品牌：納騰型號：D300 產(chǎn)地：上海徐匯區(qū)

廠商：上海納騰儀器有限公司

簡介：Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測量。光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。
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探針式輪廓儀 P17 自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀

品牌：納騰型號：P17 產(chǎn)地：上海徐匯區(qū)

廠商：上海納騰儀器有限公司

簡介：P-17是第八代臺式探針輪廓儀。該系統(tǒng)領(lǐng)先業(yè)界，支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測量，其掃描可達(dá)200mm而無需圖像拼接。
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臺階儀 D500 高精度臺階儀

品牌：納騰型號：D500 產(chǎn)地：上海徐匯區(qū)

廠商：上海納騰儀器有限公司

簡介：Alpha-Step D-500 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測量。創(chuàng)新的光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。
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KLA晶圓探針式輪廓儀/臺階儀P-7

品牌：美國KLA 型號：P-7 產(chǎn)地：美洲美國

廠商：上海納騰儀器有限公司
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KLA高精度臺階儀Alpha-Step D-600

品牌：美國KLA 型號：D-600 產(chǎn)地：美洲美國

廠商：上海納騰儀器有限公司
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BRUKER臺階儀-探針式表面輪廓儀DektaKXT

品牌：德國布魯克型號：DektaKXT 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

簡介：布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）設(shè)計創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性高達(dá) 5?。第十代 DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。
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KOSAKA - ET200A臺階儀

品牌：日本小坂型號：KOSAKA - ET200A 產(chǎn)地：亞洲日本

廠商：岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司

簡介：二維／三維表面粗度解析及臺階測定可實(shí)現(xiàn)高精度、高辨識能力及*的安全性用于平板顯示器、硅片、硬盤等的微細(xì)形狀臺階／粗度測定另外也可利用微小測定力來對應(yīng)軟質(zhì)樣品表面測定
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KOSAKA - ET4000臺階儀

品牌：日本小坂型號：KOSAKA - ET4000 產(chǎn)地：亞洲日本

廠商：岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司

簡介：高精度臺階儀ET4000系列理想的高性能通微細(xì)形狀測定機(jī) ET4000M 多功能的全自動微細(xì)形狀測定機(jī) ET4000A 多目的?多功能的全自動二次元?三次元微細(xì)形狀測定機(jī) ET4000AK
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BRUKER - 臺階儀

品牌：德國布魯克型號：Bruker - Stylus Profilers 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：香港電子器材有限公司

簡介：從傳統(tǒng)的二維表面粗糙度和臺階高度測量，到更高級的三維表面成像和薄膜應(yīng)力測試，Dektak 臺階儀適用面極廣，為用戶提供準(zhǔn)確性高，重復(fù)性佳的測量結(jié)果。在教育丶科研領(lǐng)域和半導(dǎo)體制程控制，Dektak 廣泛用於膜厚丶應(yīng)力丶表面粗糙度和面形的測量。近年來，在迅速成長的新能源領(lǐng)域 (太陽能行業(yè)，LED 行業(yè)，觸摸屏行業(yè))，Dektak 以其優(yōu)異性能被多數(shù)主要的工廠采用，作為工藝控制的必要手段。
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布魯克DektakXT臺階儀

品牌：德國布魯克型號：產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：廣州領(lǐng)拓儀器科技有限公司

簡介：
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DektakXT臺階儀,表面輪廓儀

品牌：布魯克型號：DektakXT 產(chǎn)地：美洲美國

廠商：冠乾科技（上海）有限公司

簡介：精確快速操作簡單
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Bruker - 光學(xué)輪廓儀/臺階儀/FTIR

品牌：德國布魯克型號：Ultima 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：香港電子器材有限公司
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全自動臺階儀 JS1000A

品牌：安徽澤攸科技型號： JS1000A 產(chǎn)地：安徽銅陵

廠商：北京儀光科技有限公司

簡介：國產(chǎn)全自動臺階儀JS1000A，擁有高精度、高分解能，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測量。
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半自動臺階儀 JS100A

品牌：安徽澤攸科技型號：JS100A 產(chǎn)地：安徽銅陵

廠商：北京儀光科技有限公司

簡介：國產(chǎn)半自動臺階儀JS100A，國產(chǎn)臺階儀擁有高精度、高分解能，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測量。
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手動臺階儀 JS10A

品牌：安徽澤攸科技型號： JS10A 產(chǎn)地：安徽銅陵

廠商：北京儀光科技有限公司

簡介：國產(chǎn)手動臺階儀 JS10A，穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測量，采用金剛石探針，無畸變的觀察樣品區(qū)，實(shí)時觀察掃描區(qū)域，突破三個核心技術(shù)，國內(nèi)研發(fā)生產(chǎn)，便于售后服務(wù)。
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全自動臺階儀 JS1000A

品牌：安徽澤攸科技型號：JS1000A 產(chǎn)地：安徽銅陵

廠商：北京儀光科技有限公司

簡介：JS1000A提供兩個彩色攝像頭對樣品和針尖同時成像，可無畸變的觀察樣品區(qū)，方便定位特征區(qū)域，同時探針掃描時可實(shí)時觀察掃描區(qū)域。

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新品推薦: 探針式輪廓儀/臺階儀Alpha-Step D500 /D600; 輪廓儀 P7 晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
P-7建立在市場領(lǐng)先的P-17臺式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。它保持了P-17技術(shù)的測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了好的性價比。; 臺階儀 D600 高精度探針式輪廓儀/臺階儀
KLA先進(jìn)的探針式臺階儀Alpha-Step D-600，可測量納米級至1200um臺階高度，并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度、應(yīng)力。且其具有5.0A (1σ)或0.1%臺階高度重復(fù)性以及亞埃級的分辨率; 臺階儀 D300 經(jīng)濟(jì)型高精度臺階儀
Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測量。光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。; 臺階儀 D500 高精度臺階儀
Alpha-Step D-500 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測量。創(chuàng)新的光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。; 探針式輪廓儀 P17 自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
P-17是第八代臺式探針輪廓儀。該系統(tǒng)領(lǐng)先業(yè)界，支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測量，其掃描可達(dá)200mm而無需圖像拼接。; 臺階儀
Alpha-Step D-600 探針式輪廓儀能夠測量從幾納米到 1200微米的2D和3D臺階高度。D-600 還支持2D和3D的粗糙度測量，以及用于研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)節(jié)的2D翹曲度和應(yīng)力測量。D-600 包含一個帶有200 毫米樣品載臺的電動樣品臺和具有增強(qiáng)影像控制的高級光學(xué)器件。; KLA 臺階儀 D-500
臺階高度：幾納米至1200μm 低觸力：0.03至15mg 視頻：500萬像素高分辨率彩色攝像頭梯形失真校正：消除側(cè)視光學(xué)系統(tǒng)引起的失真圓弧校正：消除由于探針的弧形運(yùn)動引起的誤差緊湊尺寸：小占地面積的臺式探針式輪廓儀主要應(yīng)用臺階高度：2D臺階高度紋理：2D粗糙度和波紋度形式：2D翹曲和形狀應(yīng)力：2D薄膜應(yīng)力應(yīng)用領(lǐng)域大學(xué)，研究實(shí)驗(yàn)室和研究所半導(dǎo)體和復(fù)合半導(dǎo)體 SIMS：二次離子質(zhì)譜 LED：發(fā)光二極管太陽能 MEMS：微電子機(jī)械系統(tǒng) 汽車醫(yī)療設(shè)備