本文由 武漢尚測試驗設(shè)備有限公司 整理匯編

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• GB/T 5170.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法 振動（隨機）試驗用液壓振動臺

  GB/T5170.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法振動（隨機）試驗用液壓振動臺規(guī)定了振動（隨機）試驗用液壓振動臺在進行定型鑒定，S次檢驗和定期檢驗時的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗條件、檢驗時的一般規(guī)定、檢驗方法及檢驗結(jié)果等內(nèi)容。武漢尚測試驗設(shè)備有限公司振動試驗臺有調(diào)頻功能、掃頻功能、對數(shù)功能、可程式功能、倍頻功能五種試驗功能，能模擬振動環(huán)境對產(chǎn)品結(jié)構(gòu)強度、材料耐磨、零部件的標準偏移、元器件額接觸不良、電路短路等現(xiàn)象進行振動檢測，提早將不良品篩檢。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法 振動（隨機）試驗用液壓振動臺

  GBT5170.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法振動（隨機）試驗用液壓振動臺下載地址：http://www.hongda17.cn[詳細]

  2018-08-19 10:00

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• GBT 5170.14-2009 環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法 振動（正弦）試驗用電動振動臺

  標準編號:GB/T5170.14-2009中文標準名稱:環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法振動（正弦）試驗用電動振動臺代替標準號:GB/T5170.14-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用電動振動臺,標準簡介:本部分規(guī)定了振動（正弦）試驗用電動振動臺在進行定型鑒定、出廠檢驗和定期檢驗時的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗條件、檢驗時的一般規(guī)定、檢驗方法及檢驗結(jié)果等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.10《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第2部分:試驗方法　試驗Fc和導(dǎo)則:振動（正弦）》進行振動試驗用電動振動臺系統(tǒng)（以下簡稱振動臺）基本參數(shù)的檢驗方法。對于帶有水平工作臺的振動臺,檢驗項目中除頻率指示誤差、頻率穩(wěn)定度、振動幅值指示誤差、掃頻速率誤差、臺面溫度外,其余均應(yīng)參照檢驗方法中的相應(yīng)條款進行檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。國際標準分類號:19.040ZG標準分類號:K04標準狀態(tài):現(xiàn)行標準前言:GB/T5170分為如下部分:---GB/T5170.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則---GB/T5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備---GB/T5170.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備---GB/T5170.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法鹽霧試驗設(shè)備---GB/T5170.9電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法太陽輻射試驗設(shè)備---GB/T5170.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備---GB/T5170.11電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備---GB/T5170.13電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用機械振動臺---GB/T5170.14電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用電動振動臺---GB/T5170.15電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用液壓振動臺---GB/T5170.16電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離心機---GB/T5170.17電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備---GB/T5170.18電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備---GB/T5170.19電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動（正弦）綜合試驗設(shè)備---GB/T5170.20電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備---GB/T5170.21電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法振動（隨機）試驗用液壓振動臺本部分是GB/T5170的第14部分。本部分代替GB/T5170.14-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用電動振動臺《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用電動振動臺》。本部分與GB/T5170.14-1985相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:---標準名稱《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用電動振動臺》改為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法振動（正弦）試驗用電動振動臺》。---增加了范圍一章。---增加了規(guī)范性引用文件一章。---增加了術(shù)語和定義一章。---在檢驗用主要儀器及要求一章中,給出了檢驗用儀器的測量結(jié)果擴展不確定度（d=2）的要求。---增加了檢驗條件一章。---在一般規(guī)定一章,要求檢驗用負載表面光潔度不低于7級改為表面粗糙度Ra優(yōu)于6.4μm;將第3條移至范圍一章。---在檢驗方法一章,對圖1進行了修改,刪除了圖2~圖7;關(guān)于Zda動態(tài)力的檢驗,運動部件等效質(zhì)量改用動圈質(zhì)量,并刪除了對應(yīng)的附錄運動部件等效質(zhì)量的測量方法;增加了8.3.4臺面一階共振頻率的檢驗和圖2;加速度單位由改為m/s2;加速度波形失真度的檢驗改為臺面加速度諧波失真度的檢驗;對臺面加速度幅值均勻度的檢驗1條進行了修改;本底噪聲加速度的檢驗改為試驗系統(tǒng)加速度信噪比的檢驗;修改了8.12掃頻速率誤差的檢驗。---增加了數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果一章。---增加了檢驗周期一章。---附錄A改為資料性附錄,并對檢驗項目的選擇作出了修改。---附錄B改為資料性附錄,并對基本參數(shù)的指標要求作出了修改。本部分的附錄A、附錄B為資料性附錄。本部分由ZG電器工業(yè)協(xié)會提出。本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會歸口。本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。本部分主要起草人:鄭術(shù)力、肖建紅。本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為:---GB/T5170.14-1985。引用標準:下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fc:振動（正弦）電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fc和導(dǎo)則:振動（正弦）（IEC6006826:1995,IDT）GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則標準關(guān)注次數(shù):11次標準上傳日期:2009-9-13[詳細]

  2018-09-05 10:00

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• GB/T 5170.13-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用機械振動臺

  GB/T5170.13-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用機械振動臺規(guī)定了振動（正弦）試驗用機械振動臺在進行定型鑒定、出廠檢驗和定期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、檢定時的一般規(guī)定、檢定方法及檢定結(jié)果等內(nèi)容。機械振動臺適用于玩具、電子、家具、禮品、陶瓷、包裝等產(chǎn)品進行模擬運輸測試，電磁振動試驗臺模擬產(chǎn)品在運輸過程中可能出現(xiàn)的各種不良，以評定其結(jié)構(gòu)的耐振性、可靠性和完好性。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GBT 5170.15-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用液壓振動臺

  標準編號:GB/T5170.15-2005中文標準名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用液壓振動臺代替標準號:GB/T5170.15-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用液壓振動臺,標準簡介:本部分規(guī)定了振動（正弦）實驗用液壓振動臺在進行定型鑒定,出廠檢驗和定期檢定時的檢定項、檢定用主要儀器及要求、鑒定條件、檢定時的一般規(guī)定、檢定方法及檢定結(jié)果等內(nèi)容。國際標準分類號:19.040ZG標準分類號:K04標準狀態(tài):現(xiàn)行標準關(guān)注次數(shù):48次標準上傳日期:2010-7-29發(fā)布日期:2005-03-03實施日期:2005-08-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標準名稱:Inspectionmethodsforbasicparametersofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproductshydraulicvibratingtypemachinesforvibration（sinusoidal）test采用國際標準:無標準類別:國家標準標準頁數(shù):11主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會起草人:肖建紅、鄭術(shù)力起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細]

  2018-09-05 10:00

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• 環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法 振動(正弦)試驗用電動振

  環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法 振動(正弦)試驗用電動振[詳細]

  2012-11-15 00:00

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• GB/T 5170.14-2009電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法

  GB/T5170.14-2009電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法規(guī)定了振動（正弦）試驗用電動振動臺在進行定型鑒定、出廠檢驗和定期檢驗時的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗條件、檢驗時的一般規(guī)定、及檢驗方法和結(jié)果等內(nèi)容。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GBT 5170.13-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用機械振動臺

  標準編號:GB/T5170.13-2005中文標準名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用機械振動臺代替標準號:GB/T5170.13-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用機械振動臺,標準簡介:本部分規(guī)定了振動（正弦）試驗用機械振動臺在進行定型鑒定、出廠檢驗和定期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、鑒定條件、檢定時的一般規(guī)定、檢驗方法及檢定結(jié)果等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.10《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程第2部分:試驗方法試驗Fc:振動（正弦）試驗方法》進行振動試驗用機械振動臺（以下簡稱振動臺）基本參數(shù)的檢定方法。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢定。國際標準分類號:19.040ZG標準分類號:K04標準狀態(tài):現(xiàn)行標準關(guān)注次數(shù):48次標準上傳日期:2010-5-13發(fā)布日期:2005-03-03實施日期:2005-08-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標準名稱:InspectionmethodsforbasicparametersofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproductsMechanicalvibratingtypemachinesforvibration（sinusoidal）test采用國際標準:無標準類別:國家標準標準頁數(shù):12主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會起草人:肖建紅、鄭術(shù)力起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細]

  2018-09-05 10:00

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• GBT5170.14-2009 環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法

  GBT5170.14-2009環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法振動（正弦）試驗用電動振動臺上海覽浩儀器設(shè)備有限公司電話：021-5978838159788382傳真：021-39651412更多產(chǎn)品信息請瀏覽:[詳細]

  2018-09-03 10:00

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• GB/T 5170.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備

  GB/T5170.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于電工電子產(chǎn)品腐蝕氣體試驗所用的試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。[詳細]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備

  GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備標準簡介本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》、GB/T2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫》和GB/T2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分代替GB/T5170.2-1996。與GB/T5170.2-1996相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：標準名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法　溫度試驗設(shè)備”；所有用詞“檢定”更改為“檢驗”；增加了“術(shù)語和定義”一章；增加了“溫度波動度”檢驗項目；增加了“溫度均勻度”檢驗項目；增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗項目；增加了“溫度指示誤差”檢驗項目；增加了“溫度過沖量”檢驗項目；增加了“溫度過沖恢復(fù)時間”檢驗項目；增加了“噪聲”檢驗項目；刪除了“相對濕度”檢驗項目；在“檢驗用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴展不確定度（k＝２）的要求增加了“檢驗負載”一章；修改了“溫度變化速率”的計算方法；測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；刪除了“檢定過程中的處理”部分；附錄Ａ“測量記錄表格示例”更改為“檢驗項目的選擇”；刪除了附錄Ｂ“溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。[詳細]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備

  GB/T5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備標準簡介GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗Cab：恒定濕熱試驗》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗Db：交變濕熱試驗方法》和GB/T2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗J：長霉》所用試驗設(shè)備的S次檢驗／驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。[詳細]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備

  GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。恒溫恒濕試驗箱武漢尚測試驗設(shè)備有限公司專業(yè)生產(chǎn)，通過模擬高低溫濕熱環(huán)境來確定電工、電子產(chǎn)品對高低溫環(huán)境及濕熱環(huán)境的適應(yīng)性（特別是產(chǎn)品的電氣性能和機械性能的變化情況），也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備

  GB/T5170.11-2008本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。在試驗設(shè)備溫度和相對濕度達到標稱值后，通入腐蝕氣體（二氧化硫或硫化氫）并達到標稱濃度值，穩(wěn)定30min，而后在1h內(nèi)每隔10min測量一次腐蝕氣體濃度值，共測7次，試驗采用二氧化硫試驗箱進行。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備

  GB/T5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備標準簡介本部分規(guī)定了高低溫低氣壓(含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓)試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M：低氣壓試驗方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗方法》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。[詳細]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.20-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 水試驗設(shè)備

  GB/T5170.20-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備規(guī)定了水試驗設(shè)備在進行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點數(shù)量及位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理與檢定結(jié)果等內(nèi)容。武漢尚測試驗設(shè)備有限公司生產(chǎn)的箱式淋雨試驗箱、擺管淋雨試驗機、滴水試驗裝置等外殼防護試驗設(shè)備適用于電工電子產(chǎn)品（包括元件）在運輸和使用期間可能受到滴水,沖水和浸水影響的水試驗.[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備

  GB/T5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。GB/T5170.10-2008適用于對GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M：低氣壓試驗方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗方法》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。檢驗設(shè)備包括高低溫試驗箱、高低溫濕熱試驗箱、高低溫交變濕熱試驗箱、恒溫恒濕試驗箱等溫度試驗設(shè)備。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T5170-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法

  GB/T5170-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法主要涉及溫濕度試驗方法，鹽霧試驗方法，振動試驗方法，高低溫低壓試驗方法等，主要設(shè)備有恒溫恒濕試驗箱，鹽霧試驗箱，振動試驗臺等設(shè)備[詳細]

  2018-11-17 10:00

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• GB/T 5170.8-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法鹽霧試驗設(shè)備

  GB/T5170.8-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法鹽霧試驗設(shè)備標準簡介GB/T5170的本部分規(guī)定了鹽霧試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于GB/T5170.17《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗Ｋａ：鹽霧試驗方法》和GB/T5170.18《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗Ｋｂ：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）》所用鹽霧試驗設(shè)備的S次檢驗／驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。[詳細]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T5170.9-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法_太陽輻射試驗設(shè)備

  GB/T5170.9-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法_太陽輻射試驗設(shè)備1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了太陽輻射試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等。[詳細]

  2018-09-05 10:00

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