本文由 武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司 整理匯編

2018-10-08 10:00 792閱讀次數(shù)

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• GB/T 5170.14-2009電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法

  GB/T5170.14-2009電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法規(guī)定了振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)在進(jìn)行定型鑒定、出廠檢驗(yàn)和定期檢驗(yàn)時(shí)的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)時(shí)的一般規(guī)定、及檢驗(yàn)方法和結(jié)果等內(nèi)容。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GBT5170.14-2009 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法

  GBT5170.14-2009環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)上海覽浩儀器設(shè)備有限公司電話：021-5978838159788382傳真：021-39651412更多產(chǎn)品信息請(qǐng)瀏覽:[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

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• GBT 5170.14-2009 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法 振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)

  標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T5170.14-2009中文標(biāo)準(zhǔn)名稱:環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)代替標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T5170.14-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái),標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:本部分規(guī)定了振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)在進(jìn)行定型鑒定、出廠檢驗(yàn)和定期檢驗(yàn)時(shí)的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)時(shí)的一般規(guī)定、檢驗(yàn)方法及檢驗(yàn)結(jié)果等內(nèi)容。本部分適用于對(duì)GB/T2423.10《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分:試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)（正弦）》進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)系統(tǒng)（以下簡(jiǎn)稱振動(dòng)臺(tái)）基本參數(shù)的檢驗(yàn)方法。對(duì)于帶有水平工作臺(tái)的振動(dòng)臺(tái),檢驗(yàn)項(xiàng)目中除頻率指示誤差、頻率穩(wěn)定度、振動(dòng)幅值指示誤差、掃頻速率誤差、臺(tái)面溫度外,其余均應(yīng)參照檢驗(yàn)方法中的相應(yīng)條款進(jìn)行檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào):19.040ZG標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào):K04標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)前言:GB/T5170分為如下部分:---GB/T5170.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則---GB/T5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.9電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.11電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.13電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)---GB/T5170.14電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)---GB/T5170.15電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)---GB/T5170.16電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī)---GB/T5170.17電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.18電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.19電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.20電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.21電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法振動(dòng)（隨機(jī)）試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)本部分是GB/T5170的第14部分。本部分代替GB/T5170.14-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)》。本部分與GB/T5170.14-1985相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:---標(biāo)準(zhǔn)名稱《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)》改為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)》。---增加了范圍一章。---增加了規(guī)范性引用文件一章。---增加了術(shù)語和定義一章。---在檢驗(yàn)用主要儀器及要求一章中,給出了檢驗(yàn)用儀器的測(cè)量結(jié)果擴(kuò)展不確定度（d=2）的要求。---增加了檢驗(yàn)條件一章。---在一般規(guī)定一章,要求檢驗(yàn)用負(fù)載表面光潔度不低于7級(jí)改為表面粗糙度Ra優(yōu)于6.4μm;將第3條移至范圍一章。---在檢驗(yàn)方法一章,對(duì)圖1進(jìn)行了修改,刪除了圖2~圖7;關(guān)于Zda動(dòng)態(tài)力的檢驗(yàn),運(yùn)動(dòng)部件等效質(zhì)量改用動(dòng)圈質(zhì)量,并刪除了對(duì)應(yīng)的附錄運(yùn)動(dòng)部件等效質(zhì)量的測(cè)量方法;增加了8.3.4臺(tái)面一階共振頻率的檢驗(yàn)和圖2;加速度單位由改為m/s2;加速度波形失真度的檢驗(yàn)改為臺(tái)面加速度諧波失真度的檢驗(yàn);對(duì)臺(tái)面加速度幅值均勻度的檢驗(yàn)1條進(jìn)行了修改;本底噪聲加速度的檢驗(yàn)改為試驗(yàn)系統(tǒng)加速度信噪比的檢驗(yàn);修改了8.12掃頻速率誤差的檢驗(yàn)。---增加了數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果一章。---增加了檢驗(yàn)周期一章。---附錄A改為資料性附錄,并對(duì)檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇作出了修改。---附錄B改為資料性附錄,并對(duì)基本參數(shù)的指標(biāo)要求作出了修改。本部分的附錄A、附錄B為資料性附錄。本部分由ZG電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。本部分主要起草人:鄭術(shù)力、肖建紅。本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:---GB/T5170.14-1985。引用標(biāo)準(zhǔn):下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc:振動(dòng)（正弦）電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)（正弦）（IEC6006826:1995,IDT）GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則標(biāo)準(zhǔn)關(guān)注次數(shù):11次標(biāo)準(zhǔn)上傳日期:2009-9-13[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

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• GB/T 5170.12008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法

  GB/T5170.12008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法規(guī)定了環(huán)境設(shè)備檢驗(yàn)所用術(shù)語和定義、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)儀器、檢驗(yàn)周期、檢驗(yàn)負(fù)載、設(shè)備的外觀和安全、檢驗(yàn)記錄表、檢驗(yàn)結(jié)果處理等要求。恒溫恒濕試驗(yàn)箱、溫度沖擊試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱等設(shè)備所經(jīng)受周圍物理、化學(xué)和生物的條件和特性參數(shù)。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 5170.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法 振動(dòng)（隨機(jī)）試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)

  GB/T5170.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法振動(dòng)（隨機(jī)）試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)規(guī)定了振動(dòng)（隨機(jī)）試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)在進(jìn)行定型鑒定，S次檢驗(yàn)和定期檢驗(yàn)時(shí)的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)時(shí)的一般規(guī)定、檢驗(yàn)方法及檢驗(yàn)結(jié)果等內(nèi)容。武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)有調(diào)頻功能、掃頻功能、對(duì)數(shù)功能、可程式功能、倍頻功能五種試驗(yàn)功能，能模擬振動(dòng)環(huán)境對(duì)產(chǎn)品結(jié)構(gòu)強(qiáng)度、材料耐磨、零部件的標(biāo)準(zhǔn)偏移、元器件額接觸不良、電路短路等現(xiàn)象進(jìn)行振動(dòng)檢測(cè)，提早將不良品篩檢。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170濕熱試驗(yàn)設(shè)備檢測(cè)方法規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。GB/T5170濕熱試驗(yàn)設(shè)備檢測(cè)方法部分適用于GB/T2423.3電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)》、GB/T2423.4《電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分；交變濕熱試驗(yàn)方法》和GB/T2423.16《電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。[詳細(xì)]

  2018-10-25 10:00

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• 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振

  環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振[詳細(xì)]

  2012-11-15 00:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法 振動(dòng)（隨機(jī)）試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)

  GBT5170.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法振動(dòng)（隨機(jī)）試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)下載地址：http://www.hongda17.cn[詳細(xì)]

  2018-08-19 10:00

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• GB/T 5170.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于電工電子產(chǎn)品腐蝕氣體試驗(yàn)所用的試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對(duì)GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》、GB/T2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫》和GB/T2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分代替GB/T5170.2-1996。與GB/T5170.2-1996相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗(yàn)設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法　溫度試驗(yàn)設(shè)備”；所有用詞“檢定”更改為“檢驗(yàn)”；增加了“術(shù)語和定義”一章；增加了“溫度波動(dòng)度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“溫度均勻度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“溫度指示誤差”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“溫度過沖量”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“溫度過沖恢復(fù)時(shí)間”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“噪聲”檢驗(yàn)項(xiàng)目；刪除了“相對(duì)濕度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；在“檢驗(yàn)用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測(cè)量系統(tǒng)其測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k＝２）的要求增加了“檢驗(yàn)負(fù)載”一章；修改了“溫度變化速率”的計(jì)算方法；測(cè)量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；刪除了“檢定過程中的處理”部分；附錄Ａ“測(cè)量記錄表格示例”更改為“檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇”；刪除了附錄Ｂ“溫度波動(dòng)度、溫度均勻度檢定方法”。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對(duì)GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第２部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第２部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法》和GB/T2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第２部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)J：長霉》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)／驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。恒溫恒濕試驗(yàn)箱武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司專業(yè)生產(chǎn)，通過模擬高低溫濕熱環(huán)境來確定電工、電子產(chǎn)品對(duì)高低溫環(huán)境及濕熱環(huán)境的適應(yīng)性（特別是產(chǎn)品的電氣性能和機(jī)械性能的變化情況），也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.11-2008本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。在試驗(yàn)設(shè)備溫度和相對(duì)濕度達(dá)到標(biāo)稱值后，通入腐蝕氣體（二氧化硫或硫化氫）并達(dá)到標(biāo)稱濃度值，穩(wěn)定30min，而后在1h內(nèi)每隔10min測(cè)量一次腐蝕氣體濃度值，共測(cè)7次，試驗(yàn)采用二氧化硫試驗(yàn)箱進(jìn)行。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介本部分規(guī)定了高低溫低氣壓(含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓)試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對(duì)GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.20-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.20-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備規(guī)定了水試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)的檢定項(xiàng)目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測(cè)量點(diǎn)數(shù)量及位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理與檢定結(jié)果等內(nèi)容。武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的箱式淋雨試驗(yàn)箱、擺管淋雨試驗(yàn)機(jī)、滴水試驗(yàn)裝置等外殼防護(hù)試驗(yàn)設(shè)備適用于電工電子產(chǎn)品（包括元件）在運(yùn)輸和使用期間可能受到滴水,沖水和浸水影響的水試驗(yàn).[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。GB/T5170.10-2008適用于對(duì)GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。檢驗(yàn)設(shè)備包括高低溫試驗(yàn)箱、高低溫濕熱試驗(yàn)箱、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱等溫度試驗(yàn)設(shè)備。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB 電子電工產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程-交變濕熱試驗(yàn)方法

  GB2423.04-1993電子電工產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程-交變濕熱試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

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• GB/T 2423.10-2008 電子電工振動(dòng)（正選）試驗(yàn)方法

  GB/T2423.10-2008/IEC60068-2-6:1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法第二部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc:振動(dòng)（正選）相關(guān)產(chǎn)品：低頻振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)巨也儀器申明：本資源僅用于學(xué)習(xí)交流，如用于商業(yè)用途請(qǐng)按正規(guī)途徑購買！如不能下載，請(qǐng)聯(lián)系本公司，工作人員將以郵件形式免費(fèi)發(fā)給您！上海巨也儀器設(shè)備有限公司www.juyesh.com[詳細(xì)]

  2018-10-02 10:03

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• GB 2423.04-1993 電子電工產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程-交變濕熱試驗(yàn)方法

  中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)：電子電工產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法【交變濕熱試驗(yàn)方法】本標(biāo)準(zhǔn)（GB/T2423.4-93電子電工產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法【交變濕熱試驗(yàn)方法】）等效采用IEC68-2-30《基本環(huán)境實(shí)驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db及導(dǎo)則：交變濕熱（12+12h循環(huán)）》（1980年第二版）及1985年第1號(hào)修正件。規(guī)定了交變濕熱試驗(yàn)的試驗(yàn)程序、嚴(yán)酷等級(jí)和對(duì)試驗(yàn)箱（室）的基本要求等。適用于確定電子電工產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化、產(chǎn)品表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用和貯存得到適應(yīng)性。上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地閔行經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)，是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)。歷經(jīng)市場(chǎng)洗禮和多年的拼搏積淀，林頻儀器現(xiàn)已發(fā)展成為環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)之一。公司專業(yè)生產(chǎn)各類環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備：高低溫低氣壓試驗(yàn)箱、液氮深冷低溫箱、CASS交變鹽霧箱、高低溫沖擊試驗(yàn)箱、太陽能光伏組件濕凍試驗(yàn)設(shè)備、溫度老化試驗(yàn)室及各類非標(biāo)產(chǎn)品,“林頻”生產(chǎn)的試驗(yàn)設(shè)備可滿足GB、GJB、MIL、DIL、IEC等各行業(yè)各國家的標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于產(chǎn)品細(xì)節(jié)請(qǐng)致電021-34098999，如果您需要下載相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品技術(shù)資料，請(qǐng)登陸：http://www.linpin.com.cn！[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

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• GB/T 2423.5-1995 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 沖擊

  GB/T2423.5-1995標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)?zāi)康氖怯脕斫衣稒C(jī)械弱點(diǎn)和（或）性能下降情況，并且利用這些資料，結(jié)合有關(guān)規(guī)范，來決定是否可以接收。GB/T2423.5-1995電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)沖擊標(biāo)準(zhǔn)的沖擊不是用來模擬實(shí)際所遭受的沖擊，可能的話，加于樣品的試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)和沖擊脈沖波形應(yīng)能模擬樣品將要經(jīng)受到的實(shí)際運(yùn)輸和工作環(huán)境的效應(yīng)。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:01

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