本文由 東莞市貝爾試驗設(shè)備有限公司 整理匯編

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• GB/T 5170.8-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法鹽霧試驗設(shè)備

  GB/T5170.8-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法鹽霧試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡介GB/T5170的本部分規(guī)定了鹽霧試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于GB/T5170.17《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗Ｋａ：鹽霧試驗方法》和GB/T5170.18《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗Ｋｂ：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）》所用鹽霧試驗設(shè)備的S次檢驗／驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GBT 5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 鹽霧試驗設(shè)備

  GBT 5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 鹽霧試驗設(shè)備[詳細(xì)]

  2013-11-21 00:00

  標(biāo)準(zhǔn)

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• GB 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 鹽霧試驗設(shè)備

  GB-T5170[1].8-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法鹽霧試驗設(shè)備[詳細(xì)]

  2024-09-28 02:41

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• GB/T5170.8-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法_鹽霧試驗設(shè)備

  GB/T5170.8-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法_鹽霧試驗設(shè)備1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了鹽霧試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

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• GBT 5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 鹽

  GBT 5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 鹽[詳細(xì)]

  2024-09-19 03:55

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• GB-T5170 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 鹽霧試驗

  GB-T5170[1].8-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法鹽霧試驗設(shè)備[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

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• GB-T5170電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 鹽霧試驗

  GB-T5170[1].8-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法鹽霧試驗設(shè)備[詳細(xì)]

  2024-09-28 02:41

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• GB/T 5170.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備

  GB/T5170.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于電工電子產(chǎn)品腐蝕氣體試驗所用的試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備

  GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡介本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》、GB/T2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫》和GB/T2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分代替GB/T5170.2-1996。與GB/T5170.2-1996相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法　溫度試驗設(shè)備”；所有用詞“檢定”更改為“檢驗”；增加了“術(shù)語和定義”一章；增加了“溫度波動度”檢驗項目；增加了“溫度均勻度”檢驗項目；增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗項目；增加了“溫度指示誤差”檢驗項目；增加了“溫度過沖量”檢驗項目；增加了“溫度過沖恢復(fù)時間”檢驗項目；增加了“噪聲”檢驗項目；刪除了“相對濕度”檢驗項目；在“檢驗用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴展不確定度（k＝２）的要求增加了“檢驗負(fù)載”一章；修改了“溫度變化速率”的計算方法；測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；刪除了“檢定過程中的處理”部分；附錄Ａ“測量記錄表格示例”更改為“檢驗項目的選擇”；刪除了附錄Ｂ“溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備

  GB/T5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡介GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗Cab：恒定濕熱試驗》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗Db：交變濕熱試驗方法》和GB/T2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗J：長霉》所用試驗設(shè)備的S次檢驗／驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備

  GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。恒溫恒濕試驗箱武漢尚測試驗設(shè)備有限公司專業(yè)生產(chǎn)，通過模擬高低溫濕熱環(huán)境來確定電工、電子產(chǎn)品對高低溫環(huán)境及濕熱環(huán)境的適應(yīng)性（特別是產(chǎn)品的電氣性能和機械性能的變化情況），也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備

  GB/T5170.11-2008本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。在試驗設(shè)備溫度和相對濕度達(dá)到標(biāo)稱值后，通入腐蝕氣體（二氧化硫或硫化氫）并達(dá)到標(biāo)稱濃度值，穩(wěn)定30min，而后在1h內(nèi)每隔10min測量一次腐蝕氣體濃度值，共測7次，試驗采用二氧化硫試驗箱進(jìn)行。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 5170.8-2008 鹽霧試驗設(shè)備

  GB/T5170.8-2008鹽霧試驗設(shè)備主要是規(guī)定了鹽霧試驗設(shè)備的技術(shù)條件，為電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法中鹽霧試驗的綱領(lǐng)性文件。它對溫度均勻度的檢測以及鹽霧沉降量的檢測都有十分詳細(xì)的標(biāo)準(zhǔn)和方法。對于一般廠家比較忽視的鹽霧試驗箱噪聲問題也做了很詳細(xì)具體的規(guī)定。武漢尚測試驗設(shè)備有限公司供應(yīng)的鹽霧試驗箱符合GB/T5170.8-2008鹽霧試驗設(shè)備的要求，為廣大客戶提供符合標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品是我們基本的質(zhì)量意識和品牌意識。鹽霧試驗箱按試驗室空間大小進(jìn)行區(qū)分和編號，比如：YWX/Q-150，即工作室容積為150L，以此類推。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:01

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• GB/T5170-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法

  GB/T5170-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法主要涉及溫濕度試驗方法，鹽霧試驗方法，振動試驗方法，高低溫低壓試驗方法等，主要設(shè)備有恒溫恒濕試驗箱，鹽霧試驗箱，振動試驗臺等設(shè)備[詳細(xì)]

  2018-11-17 10:00

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• GB/T 5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備

  GB/T5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡介本部分規(guī)定了高低溫低氣壓(含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓)試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M：低氣壓試驗方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗方法》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備

  GB/T5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。GB/T5170.10-2008適用于對GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M：低氣壓試驗方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗方法》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。檢驗設(shè)備包括高低溫試驗箱、高低溫濕熱試驗箱、高低溫交變濕熱試驗箱、恒溫恒濕試驗箱等溫度試驗設(shè)備。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T5170.9-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法_太陽輻射試驗設(shè)備

  GB/T5170.9-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法_太陽輻射試驗設(shè)備1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了太陽輻射試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

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• GB/T5170.5-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法_濕熱試驗設(shè)備

  GB/T5170.5-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法_濕熱試驗設(shè)備1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備[詳細(xì)]

  2013-11-15 00:00

  標(biāo)準(zhǔn)

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備[詳細(xì)]

  2013-12-27 00:00

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