本文由 武漢尚測試驗設(shè)備有限公司 整理匯編

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• GB/T 5170.20-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 水試驗設(shè)備

  GB/T5170.20-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備規(guī)定了水試驗設(shè)備在進行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點數(shù)量及位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理與檢定結(jié)果等內(nèi)容。武漢尚測試驗設(shè)備有限公司生產(chǎn)的箱式淋雨試驗箱、擺管淋雨試驗機、滴水試驗裝置等外殼防護試驗設(shè)備適用于電工電子產(chǎn)品（包括元件）在運輸和使用期間可能受到滴水,沖水和浸水影響的水試驗.[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GBT 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定 水試驗設(shè)備

  GBT5170.20-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備[詳細]

  2018-09-14 10:00

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• GB 5170.20-1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法

  中華人民共和國國家標準：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法【水試驗設(shè)備方法】本標準（GB5170.20-1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法）規(guī)定了電工電子產(chǎn)品按GB2423.38《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗R:水試驗方法》進行水試驗時所用試驗設(shè)備的檢定方法。本標準適用于電工電子產(chǎn)品環(huán)境水試驗設(shè)備。上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地閔行經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)，是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)。歷經(jīng)市場洗禮和多年的拼搏積淀，林頻儀器現(xiàn)已發(fā)展成為環(huán)境試驗設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)之一。公司專業(yè)生產(chǎn)各類環(huán)境試驗設(shè)備：高低溫低氣壓試驗箱、液氮深冷低溫箱、CASS交變鹽霧箱、高低溫沖擊試驗箱、太陽能光伏組件濕凍試驗設(shè)備、溫度老化試驗室及各類非標產(chǎn)品,“林頻”生產(chǎn)的試驗設(shè)備可滿足GB、GJB、MIL、DIL、IEC等各行業(yè)各國家的標準，關(guān)于產(chǎn)品細節(jié)請致電021-34098999，如果您需要下載相關(guān)標準或產(chǎn)品技術(shù)資料，請登陸：http://www.linpin.com.cn！[詳細]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB 5170.19-1989 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法

  中華人民共和國國家標準：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法【溫度/振動（正弦）綜合試驗設(shè)備方法】本標準（GB5170.19-89電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法）規(guī)定了溫度/振動正弦）綜合試驗設(shè)備的基本參數(shù)檢定方法。本標準適用于溫度/振動（正弦）綜合試驗設(shè)備。本標準所確定的檢定方法與按GB2423.35《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗方法》和GB2423.36《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗方法》進行試驗時所用試驗設(shè)備（以下簡稱設(shè)備）的基本參數(shù)的檢定方法相一致。上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地閔行經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)，是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)。歷經(jīng)市場洗禮和多年的拼搏積淀，林頻儀器現(xiàn)已發(fā)展成為環(huán)境試驗設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)之一。公司專業(yè)生產(chǎn)各類環(huán)境試驗設(shè)備：高低溫低氣壓試驗箱、液氮深冷低溫箱、CASS交變鹽霧箱、高低溫沖擊試驗箱、太陽能光伏組件濕凍試驗設(shè)備、溫度老化試驗室及各類非標產(chǎn)品,“林頻”生產(chǎn)的試驗設(shè)備可滿足GB、GJB、MIL、DIL、IEC等各行業(yè)各國家的標準，關(guān)于產(chǎn)品細節(jié)請致電021-34098999，如果您需要下載相關(guān)標準或產(chǎn)品技術(shù)資料，請登陸：http://www.linpin.com.cn！[詳細]

  2018-09-03 10:00

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• GB 5170.18-1987 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定

  GB 5170.18-1987 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定[詳細]

  2024-09-18 18:06

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• GB 5170.19-1989 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定

  GB 5170.19-1989 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定[詳細]

  2024-09-28 06:13

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• GB 5170.20-1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定

  GB 5170.20-1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定[詳細]

  2024-09-14 01:07

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• GBT5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備

  GBT5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備本資料來源：http://www.hongda17.cn[詳細]

  2018-08-19 10:00

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• GBT 5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備

  GBT 5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備[詳細]

  2014-01-09 00:00

  標準

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• GBT 5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備

  GBT 5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備[詳細]

  2013-11-20 00:00

  應用文章

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• GB/T 5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備

  GB/T5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備規(guī)定了溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備在進行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點數(shù)量及位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。GB/T5170.18-2005適用于GB/T2423.34-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法》所用試驗設(shè)備的周期檢定。溫度/濕度組合循環(huán)試驗在同一試驗箱內(nèi)進行時，應符合本部分的所有規(guī)定；溫度/濕度組合循環(huán)試驗在兩個獨立試驗箱進行時，溫熱試驗箱應符合本部分所有規(guī)定；低溫試驗箱應符合GB/T5170.2-1996《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備》的規(guī)定。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的周期檢定。試驗采用高低溫交變濕熱試驗箱。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 5170.17-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備

  GB/T5170.17-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備規(guī)定了低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備在進行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點數(shù)量及布放位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。武漢尚測試驗設(shè)備有限公司生產(chǎn)制造的恒溫恒濕試驗箱可用于電工電子、橡膠塑料、車輛制造、汽車制造、印染紡織、建材、食品、油漆、涂料、材料研究等的溫濕度變化產(chǎn)品試驗檢測。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB 5170.18-1987 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度 濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備

  中華人民共和國國家標準：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法【溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備方法】本標準（GB5170.18-1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度、濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備）規(guī)定了按GB2423.34-86《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗方法試驗Z/AD:濕度/濕度組合循環(huán)試驗方法》進行溫度/濕度組合循環(huán)試驗時所用試驗設(shè)備（以下簡稱設(shè)備）基本參數(shù)的檢定方法。溫度/濕度組合循環(huán)試驗在同一試驗箱內(nèi)進行時（以下簡稱一箱法），應符合本標準的所有規(guī)定;溫度/濕度組合循環(huán)試驗在一個獨立試驗箱進行時（以下簡稱二箱法），濕熱試驗箱應符合本標準所有規(guī)定;低溫試驗箱應符合GB5170.2-85《電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫試驗設(shè)備》的規(guī)定。本標準與GB5170.1-85《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則》一起使用。上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地閔行經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)，是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)。歷經(jīng)市場洗禮和多年的拼搏積淀，林頻儀器現(xiàn)已發(fā)展成為環(huán)境試驗設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)之一。公司專業(yè)生產(chǎn)各類環(huán)境試驗設(shè)備：高低溫低氣壓試驗箱、液氮深冷低溫箱、CASS交變鹽霧箱、高低溫沖擊試驗箱、太陽能光伏組件濕凍試驗設(shè)備、溫度老化試驗室及各類非標產(chǎn)品,“林頻”生產(chǎn)的試驗設(shè)備可滿足GB、GJB、MIL、DIL、IEC等各行業(yè)各國家的標準，關(guān)于產(chǎn)品細節(jié)請致電021-34098999，如果您需要下載相關(guān)標準或產(chǎn)品技術(shù)資料，請登陸：http://www.linpin.com.cn！[詳細]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則

  GBT5170.1-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則資料下載地址：http://www.hongda17.cn本資料由北京鴻達天矩試驗設(shè)備有限公司編輯提供，供大家參考，希望對您有幫助。[詳細]

  2018-08-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT5170.8-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)

  GBT5170.8-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)[詳細]

  2011-03-16 00:00

  實驗操作

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• 檢定電工電子產(chǎn)品基本參數(shù)的方法的試驗設(shè)備

  根據(jù)相關(guān)國家標準，電子電工產(chǎn)品基本參數(shù)檢定的方法是由振動試驗臺來檢定的。[詳細]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度 濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備

  GBT5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度 濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備[詳細]

  2013-11-16 00:00

  報價單

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• GB/T 5170.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備

  GB/T5170.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于電工電子產(chǎn)品腐蝕氣體試驗所用的試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。[詳細]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備

  GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備標準簡介本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》、GB/T2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫》和GB/T2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分代替GB/T5170.2-1996。與GB/T5170.2-1996相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：標準名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法　溫度試驗設(shè)備”；所有用詞“檢定”更改為“檢驗”；增加了“術(shù)語和定義”一章；增加了“溫度波動度”檢驗項目；增加了“溫度均勻度”檢驗項目；增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗項目；增加了“溫度指示誤差”檢驗項目；增加了“溫度過沖量”檢驗項目；增加了“溫度過沖恢復時間”檢驗項目；增加了“噪聲”檢驗項目；刪除了“相對濕度”檢驗項目；在“檢驗用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴展不確定度（k＝２）的要求增加了“檢驗負載”一章；修改了“溫度變化速率”的計算方法；測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；刪除了“檢定過程中的處理”部分；附錄Ａ“測量記錄表格示例”更改為“檢驗項目的選擇”；刪除了附錄Ｂ“溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。[詳細]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備

  GB/T5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備標準簡介GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗Cab：恒定濕熱試驗》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗Db：交變濕熱試驗方法》和GB/T2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第２部分：試驗方法　試驗J：長霉》所用試驗設(shè)備的S次檢驗／驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。[詳細]

  2018-09-13 10:00

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