本文由 東莞市貝爾試驗(yàn)設(shè)備有限公司 整理匯編

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• GB/T 5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡介本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》、GB/T2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫》和GB/T2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分代替GB/T5170.2-1996。與GB/T5170.2-1996相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗(yàn)設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法　溫度試驗(yàn)設(shè)備”；所有用詞“檢定”更改為“檢驗(yàn)”；增加了“術(shù)語和定義”一章；增加了“溫度波動度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“溫度均勻度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“溫度指示誤差”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“溫度過沖量”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“溫度過沖恢復(fù)時間”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“噪聲”檢驗(yàn)項(xiàng)目；刪除了“相對濕度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；在“檢驗(yàn)用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k＝２）的要求增加了“檢驗(yàn)負(fù)載”一章；修改了“溫度變化速率”的計(jì)算方法；測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；刪除了“檢定過程中的處理”部分；附錄Ａ“測量記錄表格示例”更改為“檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇”；刪除了附錄Ｂ“溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。恒溫恒濕試驗(yàn)箱武漢尚測試驗(yàn)設(shè)備有限公司專業(yè)生產(chǎn)，通過模擬高低溫濕熱環(huán)境來確定電工、電子產(chǎn)品對高低溫環(huán)境及濕熱環(huán)境的適應(yīng)性（特別是產(chǎn)品的電氣性能和機(jī)械性能的變化情況），也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

  標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T5170.2-2008中文標(biāo)準(zhǔn)名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備代替標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備,標(biāo)準(zhǔn)簡介:本部分規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫》、GB/T2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫》和GB/T2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分代替GB/T5170.21996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備。與GB/T5170.21996相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗(yàn)設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法　溫度試驗(yàn)設(shè)備”;所有用詞“檢定”更改為“檢驗(yàn)”;增加了“術(shù)語和定義”一章;增加了“溫度波動度”檢驗(yàn)項(xiàng)目;增加了“溫度均勻度”檢驗(yàn)項(xiàng)目;增加了“每5MIN溫度平均變化速率”檢驗(yàn)項(xiàng)目;增加了“溫度指示誤差”檢驗(yàn)項(xiàng)目;增加了“溫度過沖量”檢驗(yàn)項(xiàng)目;增加了“溫度過沖恢復(fù)時間”檢驗(yàn)項(xiàng)目;增加了“噪聲”檢驗(yàn)項(xiàng)目;刪除了“相對濕度”檢驗(yàn)項(xiàng)目;在“檢驗(yàn)用主要儀器及要求”一章中,給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（K=2）的要求增加了“檢驗(yàn)負(fù)載”一章;修改了“溫度變化速率”的計(jì)算方法;測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù);刪除了“檢定過程中的處理”部分;附錄A“測量記錄表格示例”更改為“檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇”;刪除了附錄B“溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。國際標(biāo)準(zhǔn)分類號:19.040ZG標(biāo)準(zhǔn)分類號:K04標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)目錄:前言Ⅲ1范圍12規(guī)范性引用文件13術(shù)語和定義14檢驗(yàn)項(xiàng)目15檢驗(yàn)用主要儀器及要求26檢驗(yàn)負(fù)載27檢驗(yàn)條件28檢驗(yàn)方法29數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果710檢驗(yàn)周期7附錄A（規(guī)范性附錄）檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇8引用標(biāo)準(zhǔn):下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫（GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫,IDTIEC60068-2-1:1環(huán)境試驗(yàn).第2-1部分:試驗(yàn).試驗(yàn)A:低溫990）GB/T2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫（GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫,IDTIEC60068-2-2環(huán)境測試.第2-2部分:試驗(yàn).試驗(yàn)B:干熱:1974）GB/T2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化（GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化,IEC60068-2-14環(huán)境試驗(yàn).第2-14部分:試驗(yàn).試驗(yàn)N:溫度的改變:1984,IDT）GB/T2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)（GB/T2424.5-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn),IEC60068-3-5:2001,IDT）GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則GB/T16839.1熱電偶第1部分:分度表（GB/T16839.1-1997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件標(biāo)準(zhǔn)關(guān)注次數(shù):7次標(biāo)準(zhǔn)上傳日期:2009-12-15發(fā)布日期:2008-06-16實(shí)施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標(biāo)準(zhǔn)名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Temperaturetestingequipments采用國際標(biāo)準(zhǔn):無標(biāo)準(zhǔn)類別:國家標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù):13頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備.pdf

  GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備.pdf[詳細(xì)]

  2015-06-08 00:00

  操作手冊

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• GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備.pdf

  GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備.pdf[詳細(xì)]

  2014-10-28 00:00

  課件

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]

  2013-11-15 00:00

  標(biāo)準(zhǔn)

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_溫度試驗(yàn)設(shè)備

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_溫度試驗(yàn)設(shè)備售后服務(wù)承諾:用戶的滿意是我們服務(wù)的宗旨，完善的售后服務(wù)使您解除一切后顧之憂，我們堅(jiān)信一個好的企業(yè)賣出去的不僅僅是一臺好的產(chǎn)品，更重要的是良好的服務(wù)。宏展儀器主營:溫度試驗(yàn)箱;高溫試驗(yàn)箱;低溫試驗(yàn)箱;高低溫試驗(yàn)箱;高低溫交變試驗(yàn)箱;濕熱試驗(yàn)箱;高溫高濕試驗(yàn)箱;恒定濕熱試驗(yàn)箱;高低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱;高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱;溫變試驗(yàn)箱;快速溫度變化試驗(yàn)箱;溫度沖擊箱;高低溫沖擊試驗(yàn)箱;環(huán)境試驗(yàn)室;步入式高溫試驗(yàn)室;步入式高低溫試驗(yàn)室;步入式高低溫恒定濕熱試驗(yàn)室;步入式高低溫交變濕熱試驗(yàn)室;高溫試驗(yàn)箱;真空干燥箱;耐候試驗(yàn)箱;紫外耐候試驗(yàn)箱;鹽霧試驗(yàn)箱;鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱；模擬運(yùn)輸振動臺;跌落試驗(yàn)臺;蒸氣老化試驗(yàn)機(jī)等其它環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備．另可依客戶要求之尺寸制作試驗(yàn)室，滿足客戶的要求。歡迎廣大客戶來電來函咨詢訂購!北京宏展環(huán)境科技有限公司聯(lián)系地址：北京市豐臺區(qū)和義東里6區(qū)1號樓7單元502室　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　聯(lián)系電話：010-6799652067957820　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　聯(lián)系傳真：010-67965617聯(lián)系手機(jī)：15001084958聯(lián)系QQ:1796337665Skype:lihuibj聯(lián)系人：李　慧（小姐）聯(lián)系MSN:lihuibj@hotail.com電子郵件：hui.li@hongzhan.com.hk公司網(wǎng)址：http://www.a5317.com　http://www.thermotron.com.cnhttp://www.hongzhan.com.hkhttp://www.hongzhangroup.comhttp://hongzhanbj.cn.alibaba.comhttp://testchamber.en.alibaba.com宏展在用戶身邊用戶在宏展心中愛儀器熱線：400-0000-217[詳細(xì)]

  2018-09-04 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

  GBT5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備資料下載：http://www.hongda17.cn[詳細(xì)]

  2018-08-19 10:00

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• GB/T 5170.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于電工電子產(chǎn)品腐蝕氣體試驗(yàn)所用的試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡介GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第２部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第２部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法》和GB/T2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第２部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)J：長霉》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)／驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.11-2008本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。在試驗(yàn)設(shè)備溫度和相對濕度達(dá)到標(biāo)稱值后，通入腐蝕氣體（二氧化硫或硫化氫）并達(dá)到標(biāo)稱濃度值，穩(wěn)定30min，而后在1h內(nèi)每隔10min測量一次腐蝕氣體濃度值，共測7次，試驗(yàn)采用二氧化硫試驗(yàn)箱進(jìn)行。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡介本部分規(guī)定了高低溫低氣壓(含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓)試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。GB/T5170.10-2008適用于對GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。檢驗(yàn)設(shè)備包括高低溫試驗(yàn)箱、高低溫濕熱試驗(yàn)箱、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱等溫度試驗(yàn)設(shè)備。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T5170.9-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.9-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

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• GB/T5170.5-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_濕熱試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.5-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_濕熱試驗(yàn)設(shè)備1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]

  2013-12-27 00:00

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  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]

  2024-09-28 00:31

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

  一、電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備適用范圍：溫度：【0℃至150℃】，【-20℃至150℃】，【-40℃至150℃】，【-60℃至150℃】，,【-70℃至150℃】濕度：【20%至98%RH】二、電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備表頭控制精度：溫度：【±0.3℃】濕度：【±2.5%RH】三、電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備表頭解析精度：溫度：【0.1℃】濕度：【0.1%RH】四、升溫速率：3度/分鐘。五、降溫速率：1度/分鐘。六、電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備機(jī)器結(jié)構(gòu)與材質(zhì)：1.內(nèi)箱尺寸：【50cm（W）×75cm（H）×60cm（D）】2.外箱尺寸：【105cm（W）×167cm（H）×116cm（D）】3.內(nèi)箱材質(zhì)：SUS＃304耐熱耐寒不銹鋼板。4.外箱材質(zhì)：SUS＃304高張力不銹鋼板，并經(jīng)多道薄膜游離層表面處理。5.保溫材質(zhì)：針對可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱專用高密度玻璃棉及高強(qiáng)度PU發(fā)泡絕緣材料。6.防汗機(jī)件：以系統(tǒng)K型管之熱能作防汗處理。7.門氣密材料：高張力parking耐溫-90至280℃。8.附屬設(shè)備：a.可調(diào)式活動盤2只，可任意改變距離。b.外接用測試孔乙只，可作動態(tài)測試。c.廣角投射照明設(shè)備，采省電GX率日光燈。d.多層真空玻璃窗口，防爆型。e.附可調(diào)固定軸及活動輪4組。七、全自動恒溫恒濕設(shè)備冷凍系統(tǒng)及加熱系統(tǒng)：1.省電型GX率法國泰康壓縮機(jī)。2.采環(huán)保R404A冷煤。3.全程管路系統(tǒng)氮?dú)饧訅簻y漏。4.波浪狀鰭片型強(qiáng)迫送風(fēng)冷凝器。5.斜率式FINTUBE蒸發(fā)器。6.電磁閥；干燥過濾器等冷凍組件。7.內(nèi)螺旋式KTYPE冷媒銅管。8.UTYPE高速電熱管，加熱迅速。9.加溫、降溫系統(tǒng)完全獨(dú)立，不需手動控制。[詳細(xì)]

  2018-10-11 10:00

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• GB/T5170-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法

  GB/T5170-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法主要涉及溫濕度試驗(yàn)方法，鹽霧試驗(yàn)方法，振動試驗(yàn)方法，高低溫低壓試驗(yàn)方法等，主要設(shè)備有恒溫恒濕試驗(yàn)箱，鹽霧試驗(yàn)箱，振動試驗(yàn)臺等設(shè)備[詳細(xì)]

  2018-11-17 10:00

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• GBT5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備

  GBT5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]

  2013-11-19 00:00

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