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GB/T5170.9-2008_電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法_太陽輻射試驗設備
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2018-09-05 10:00 901閱讀次數
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GB/T5170.9-2008_電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法_太陽輻射試驗設備1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了太陽輻射試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等。
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GB/T5170.9-2008_電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法_太陽輻射試驗設備- GB/T5170.9-2008_電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法_太陽輻射試驗設備1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了太陽輻射試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等。[詳細]
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2018-09-05 10:00
產品樣冊
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- GBT 5170.9-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 太陽輻射試驗設備
- 標準編號:GB/T5170.9-2008中文標準名稱:電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法太陽輻射試驗設備代替標準號:GB/T5170.9-1996電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法太陽輻射試驗設備,標準簡介:GB/T5170的本部分規(guī)定了太陽輻射試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于對GB/T2423.24《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗SA:模擬地面上的太陽輻射》所用試驗設備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。國際標準分類號:19.040ZG標準分類號:K04標準狀態(tài):現行標準目錄:前言……………………………………………………Ⅰ1 范圍………………………………………………12 規(guī)范性引用文件…………………………………13 術語和定義………………………………………14 檢驗項目…………………………………………15 檢驗用主要儀器及要求…………………………16 檢驗負載…………………………………………27 檢驗條件…………………………………………28 檢驗方法…………………………………………29 數據處理結果與檢驗結果………………………610 檢驗周期………………………………………6附錄A（規(guī)范性附錄） 檢驗項目的選擇…………7引用標準:下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據本部分達成協議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.24 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗SA:模擬地面上的太陽輻射（GB/T2423.241995電工電子產品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射,IDTIEC60068-2-5:1975環(huán)境試驗第2-5部分:試驗試驗Sa:地面上的模擬太陽輻射）GB/T5170.12008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則GB/T5170.2 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備GB/T16839.1 熱電偶 第1部分:分度表（GB/T16839.11997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751 工業(yè)鉑電阻敏感元件標準關注次數:39次標準上傳日期:2009-10-22發(fā)布日期:2008-06-16實施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標準名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Solarradiationtestingequipments采用國際標準:無標準類別:國家標準標準頁數:12頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協會歸口單位:469-8全國電工電子產品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產業(yè)部電子第五研究所[詳細]
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2018-09-05 10:00
產品樣冊
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- GB/T5170.5-2008_電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法_濕熱試驗設備
- GB/T5170.5-2008_電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法_濕熱試驗設備1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。[詳細]
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2018-09-05 10:00
產品樣冊
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電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備- 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備[詳細]
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2013-11-15 00:00
標準
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- 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備
- 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備[詳細]
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2013-12-27 00:00
其它
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- 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法_溫度試驗設備
- 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法_溫度試驗設備售后服務承諾:用戶的滿意是我們服務的宗旨，完善的售后服務使您解除一切后顧之憂，我們堅信一個好的企業(yè)賣出去的不僅僅是一臺好的產品，更重要的是良好的服務。宏展儀器主營:溫度試驗箱;高溫試驗箱;低溫試驗箱;高低溫試驗箱;高低溫交變試驗箱;濕熱試驗箱;高溫高濕試驗箱;恒定濕熱試驗箱;高低溫恒定濕熱試驗箱;高低溫交變濕熱試驗箱;溫變試驗箱;快速溫度變化試驗箱;溫度沖擊箱;高低溫沖擊試驗箱;環(huán)境試驗室;步入式高溫試驗室;步入式高低溫試驗室;步入式高低溫恒定濕熱試驗室;步入式高低溫交變濕熱試驗室;高溫試驗箱;真空干燥箱;耐候試驗箱;紫外耐候試驗箱;鹽霧試驗箱;鹽霧腐蝕試驗箱；模擬運輸振動臺;跌落試驗臺;蒸氣老化試驗機等其它環(huán)境試驗設備．另可依客戶要求之尺寸制作試驗室，滿足客戶的要求。歡迎廣大客戶來電來函咨詢訂購!北京宏展環(huán)境科技有限公司聯系地址：北京市豐臺區(qū)和義東里6區(qū)1號樓7單元502室 聯系電話：010-6799652067957820 聯系傳真：010-67965617聯系手機：15001084958聯系QQ:1796337665Skype:lihuibj聯系人：李 慧（小姐）聯系MSN:lihuibj@hotail.com電子郵件：hui.li@hongzhan.com.hk公司網址：http://www.a5317.com http://www.thermotron.com.cnhttp://www.hongzhan.com.hkhttp://www.hongzhangroup.comhttp://hongzhanbj.cn.alibaba.comhttp://testchamber.en.alibaba.com宏展在用戶身邊用戶在宏展心中愛儀器熱線：400-0000-217[詳細]
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2018-09-04 10:00
產品樣冊
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- 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設備
- 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設備[詳細]
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2024-09-28 00:31
操作手冊
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- GB/T5170-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法
- GB/T5170-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法主要涉及溫濕度試驗方法，鹽霧試驗方法，振動試驗方法，高低溫低壓試驗方法等，主要設備有恒溫恒濕試驗箱，鹽霧試驗箱，振動試驗臺等設備[詳細]
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2018-11-17 10:00
產品樣冊
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- GB/T 5170.11-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設備
- GB/T5170.11-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法腐蝕氣體試驗設備本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于電工電子產品腐蝕氣體試驗所用的試驗設備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。[詳細]
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2018-09-13 10:00
產品樣冊
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- GB/T 5170.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備
- GB/T5170.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備標準簡介本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于對GB/T2423.1《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》、GB/T2423.2《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫》和GB/T2423.22《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化》所用試驗設備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分代替GB/T5170.2-1996。與GB/T5170.2-1996相比，技術內容主要有如下變化：標準名稱“電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法 溫度試驗設備”更改為“電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備”；所有用詞“檢定”更改為“檢驗”；增加了“術語和定義”一章；增加了“溫度波動度”檢驗項目；增加了“溫度均勻度”檢驗項目；增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗項目；增加了“溫度指示誤差”檢驗項目；增加了“溫度過沖量”檢驗項目；增加了“溫度過沖恢復時間”檢驗項目；增加了“噪聲”檢驗項目；刪除了“相對濕度”檢驗項目；在“檢驗用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結果的擴展不確定度（k＝２）的要求增加了“檢驗負載”一章；修改了“溫度變化速率”的計算方法；測量數據記錄改為每一分鐘記錄一次數據；刪除了“檢定過程中的處理”部分；附錄Ａ“測量記錄表格示例”更改為“檢驗項目的選擇”；刪除了附錄Ｂ“溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。[詳細]
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2018-09-13 10:00
產品樣冊
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- GB/T 5170.5-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備
- GB/T5170.5-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備標準簡介GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于對GB/T2423.3《電工電子產品環(huán)境試驗 第２部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗》、GB/T2423.4《電工電子產品環(huán)境試驗 第２部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱試驗方法》和GB/T2423.16《電工電子產品環(huán)境試驗 第２部分：試驗方法 試驗J：長霉》所用試驗設備的S次檢驗／驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。[詳細]
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2018-09-13 10:00
產品樣冊
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- GB/T 5170.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備
- GB/T5170.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。恒溫恒濕試驗箱武漢尚測試驗設備有限公司專業(yè)生產，通過模擬高低溫濕熱環(huán)境來確定電工、電子產品對高低溫環(huán)境及濕熱環(huán)境的適應性（特別是產品的電氣性能和機械性能的變化情況），也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力。[詳細]
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2018-10-08 10:00
產品樣冊
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- GB/T 5170.11-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設備
- GB/T5170.11-2008本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。在試驗設備溫度和相對濕度達到標稱值后，通入腐蝕氣體（二氧化硫或硫化氫）并達到標稱濃度值，穩(wěn)定30min，而后在1h內每隔10min測量一次腐蝕氣體濃度值，共測7次，試驗采用二氧化硫試驗箱進行。[詳細]
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2018-10-08 10:00
產品樣冊
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- GBT5170.5-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備
- GBT5170.5-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備[詳細]
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2013-11-19 00:00
標準
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- GBT5170.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備
- GBT5170.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備資料下載：http://www.hongda17.cn[詳細]
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2018-08-19 10:00
產品樣冊
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- GBT 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備
- GBT5170.5-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備[詳細]
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2018-09-14 10:00
產品樣冊
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- 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備標準
- 本部分規(guī)定了濕熱試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求，檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。[詳細]
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2018-10-13 10:00
產品樣冊
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- GBT5170.11-電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法
- GBT5170.11-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法腐蝕氣體試驗設備鹽霧試驗箱采用含鹽溶液或酸性含鹽溶液，在一定的溫度和相對的濕度的環(huán)境下對材料或產品進行加速腐蝕，重現材料或產品在一定時間范圍內所遭受的破壞程度。鹽霧試驗箱廣泛應用于金屬材料防護層、機械零部件、電子元器件、汽車零部件、工業(yè)產品、汽車摩托車、電工電子、質檢計量、涂層等進行鹽霧腐蝕試驗，考核材料防護層及產品抗鹽霧腐蝕的性能，以及相似防護層的工藝質量比較，也可以用來考核某些產品抗鹽霧腐蝕的能力。一、技術參數：1.溫度范圍：RT+10℃～55℃2.飽和器溫度范圍：RT+10℃～70℃3.溫度均勻度：≤±2℃(空載時)4.溫度波動度：≤±0.5℃(空載時)5.鹽霧沉降量：1～2mL/80c.h6.時間設定范圍：0～9999h、m、s具有一鍵恢復功能7.間斷噴霧時間范圍：0～99h、m、s8.試樣架：試樣架可滿足15°/30°傾斜試驗,也可采用掛鉤方式。二、鹽霧試驗箱規(guī)格(單位:mm)：型號YWX/Q-150工作室尺寸D×W×H450×600×400型號YWX/Q-250工作室尺寸D×W×H600×900×500型號YWX/Q-750工作室尺寸D×W×H750×1100×500型號YWX/Q-010工作室尺寸D×W×H850×1300×600型號YWX/Q-016工作室尺寸D×W×H850×1600×600型號YWX/Q-020工作室尺寸D×W×H900×2000×600[詳細]
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2018-09-03 10:00
產品樣冊
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- GB 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 鹽霧試驗設備
- GB-T5170[1].8-2008_電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法鹽霧試驗設備[詳細]
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2024-09-28 02:41
產品樣冊
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- GB/T5170.1-2008_電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法-總則
- GB/T5170.1-2008_電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法-總則1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了環(huán)境試驗設備（以下簡稱“設備”）檢驗所用術語和定義、檢驗條件、檢驗儀器、檢驗周期、檢驗負載、設備的外觀和安全、檢驗記錄表、檢驗結果處理等要求。本部分適用于電工電子產品進行環(huán)境試驗所用設備的檢驗，其他產品所用環(huán)境試驗設備的檢驗亦可參照使用。[詳細]
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2024-10-01 17:42
產品樣冊
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