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GB/T 5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

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GB/T5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡介本部分規(guī)定了高低溫低氣壓(含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓)試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。

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GB/T 5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡介本部分規(guī)定了高低溫低氣壓(含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓)試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。[詳細(xì)]
2018-09-13 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。GB/T5170.10-2008適用于對GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。檢驗(yàn)設(shè)備包括高低溫試驗(yàn)箱、高低溫濕熱試驗(yàn)箱、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱等溫度試驗(yàn)設(shè)備。[詳細(xì)]
2018-10-08 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT 5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T5170.10-2008中文標(biāo)準(zhǔn)名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備代替標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T5170.10-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備,標(biāo)準(zhǔn)簡介:本部分規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。國際標(biāo)準(zhǔn)分類號:19.040ZG標(biāo)準(zhǔn)分類號:K04標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)目錄:前言Ⅲ1范圍12規(guī)范性引用文件13術(shù)語和定義14檢驗(yàn)項(xiàng)目15檢驗(yàn)用主要儀器及要求26檢驗(yàn)負(fù)載27檢驗(yàn)條件28檢驗(yàn)方法29數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果710檢驗(yàn)周期7附錄A（規(guī)范性附錄）檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇8引用標(biāo)準(zhǔn):下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.21電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法（GB/T2423.21-1993,NEQIEC60068-2-13環(huán)境試驗(yàn)第2-13部分:試驗(yàn)試驗(yàn)M:低氣壓:1983）GB/T2423.25電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法（GB/T2423.25-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫／低氣壓綜合試驗(yàn),NEQIEC60068-2-40基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2-40部分:試驗(yàn)試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓組合試驗(yàn)修改1:1976）GB/T2423.26電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法（GB/T2423.26-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM:高溫／低氣壓綜合試驗(yàn),NEQIEC60068-2-41基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2-41部分:試驗(yàn)試驗(yàn)Z/BM:干熱/低氣壓組合試驗(yàn)修改1:1976）GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則GB/T5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備GB/T16839.1熱電偶第1部分:分度表（GB/T16839.1-1997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件標(biāo)準(zhǔn)關(guān)注次數(shù):49次標(biāo)準(zhǔn)上傳日期:2010-2-23發(fā)布日期:2008-06-16實(shí)施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標(biāo)準(zhǔn)名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Combinedhighandlowtemperature/lowairpressuretestingequipments采用國際標(biāo)準(zhǔn):無標(biāo)準(zhǔn)類別:國家標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù):16頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細(xì)]
2018-09-05 10:00
產(chǎn)品樣冊
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢測方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢測方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備。[詳細(xì)]
2024-09-28 02:47
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 5170.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于電工電子產(chǎn)品腐蝕氣體試驗(yàn)所用的試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。[詳細(xì)]
2018-09-13 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡介本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》、GB/T2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫》和GB/T2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分代替GB/T5170.2-1996。與GB/T5170.2-1996相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗(yàn)設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法　溫度試驗(yàn)設(shè)備”；所有用詞“檢定”更改為“檢驗(yàn)”；增加了“術(shù)語和定義”一章；增加了“溫度波動度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“溫度均勻度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“溫度指示誤差”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“溫度過沖量”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“溫度過沖恢復(fù)時間”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“噪聲”檢驗(yàn)項(xiàng)目；刪除了“相對濕度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；在“檢驗(yàn)用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k＝２）的要求增加了“檢驗(yàn)負(fù)載”一章；修改了“溫度變化速率”的計(jì)算方法；測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；刪除了“檢定過程中的處理”部分；附錄Ａ“測量記錄表格示例”更改為“檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇”；刪除了附錄Ｂ“溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。[詳細(xì)]
2018-09-13 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡介GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第２部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第２部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法》和GB/T2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第２部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)J：長霉》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)／驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。[詳細(xì)]
2018-09-13 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。恒溫恒濕試驗(yàn)箱武漢尚測試驗(yàn)設(shè)備有限公司專業(yè)生產(chǎn)，通過模擬高低溫濕熱環(huán)境來確定電工、電子產(chǎn)品對高低溫環(huán)境及濕熱環(huán)境的適應(yīng)性（特別是產(chǎn)品的電氣性能和機(jī)械性能的變化情況），也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力。[詳細(xì)]
2018-10-08 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.11-2008本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。在試驗(yàn)設(shè)備溫度和相對濕度達(dá)到標(biāo)稱值后，通入腐蝕氣體（二氧化硫或硫化氫）并達(dá)到標(biāo)稱濃度值，穩(wěn)定30min，而后在1h內(nèi)每隔10min測量一次腐蝕氣體濃度值，共測7次，試驗(yàn)采用二氧化硫試驗(yàn)箱進(jìn)行。[詳細(xì)]
2018-10-08 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T5170.9-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.9-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等。[詳細(xì)]
2018-09-05 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T5170.5-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_濕熱試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.5-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_濕熱試驗(yàn)設(shè)備1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。[詳細(xì)]
2018-09-05 10:00
產(chǎn)品樣冊
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]
2013-11-15 00:00
標(biāo)準(zhǔn)
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]
2013-12-27 00:00
其它
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_溫度試驗(yàn)設(shè)備

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2018-09-04 10:00
產(chǎn)品樣冊
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]
2024-09-28 00:31
操作手冊
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GBT 5170.10-2008 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

GBT5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備上海覽浩儀器設(shè)備有限公司電話：021-5978838159788382傳真：021-39651412更多產(chǎn)品信息請瀏覽:[詳細(xì)]
2018-09-03 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T5170-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法

GB/T5170-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法主要涉及溫濕度試驗(yàn)方法，鹽霧試驗(yàn)方法，振動試驗(yàn)方法，高低溫低壓試驗(yàn)方法等，主要設(shè)備有恒溫恒濕試驗(yàn)箱，鹽霧試驗(yàn)箱，振動試驗(yàn)臺等設(shè)備[詳細(xì)]
2018-11-17 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

GBT5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]
2013-11-19 00:00
標(biāo)準(zhǔn)
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GBT5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

GBT5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備資料下載：http://www.hongda17.cn[詳細(xì)]
2018-08-19 10:00
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GBT 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

GBT5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]
2018-09-14 10:00
產(chǎn)品樣冊
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該會員其他資料: 部分客戶供參考、排名不分前后; 環(huán)宇主打產(chǎn)品目錄; GB T 65461998瓦楞紙板邊壓強(qiáng)度測定法; UL 1642 UL 2054鋰電池標(biāo)準(zhǔn); 溫濕度檢查保養(yǎng)一覽表氣冷; 各種廢舊塑料識別方法; 塑膠PC料的特性及注塑工藝; GB瓦楞紙箱檢測技術(shù)標(biāo)準(zhǔn); GB/T 2679.8-1995紙和紙板環(huán)壓強(qiáng)度的測定; GB/T相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)序號

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