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GB/T5170-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法
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2018-11-17 10:00 1268閱讀次數(shù)
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GB/T5170-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法主要涉及溫濕度試驗(yàn)方法,鹽霧試驗(yàn)方法,振動(dòng)試驗(yàn)方法,高低溫低壓試驗(yàn)方法等,主要設(shè)備有恒溫恒濕試驗(yàn)箱,鹽霧試驗(yàn)箱,振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)等設(shè)備
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GB/T5170-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法
- GB/T5170-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法主要涉及溫濕度試驗(yàn)方法,鹽霧試驗(yàn)方法,振動(dòng)試驗(yàn)方法,高低溫低壓試驗(yàn)方法等,主要設(shè)備有恒溫恒濕試驗(yàn)箱,鹽霧試驗(yàn)箱,振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)等設(shè)備[詳細(xì)]
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2018-11-17 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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GB/T5170.9-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備
- GB/T5170.9-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等。[詳細(xì)]
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2018-09-05 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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GB/T5170.5-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_濕熱試驗(yàn)設(shè)備
- GB/T5170.5-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_濕熱試驗(yàn)設(shè)備1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。[詳細(xì)]
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2018-09-05 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
- 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]
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2013-11-15 00:00
標(biāo)準(zhǔn)
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
- 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]
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2013-12-27 00:00
其它
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_溫度試驗(yàn)設(shè)備
- 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_溫度試驗(yàn)設(shè)備售后服務(wù)承諾:用戶的滿意是我們服務(wù)的宗旨,完善的售后服務(wù)使您解除一切后顧之憂,我們堅(jiān)信一個(gè)好的企業(yè)賣出去的不僅僅是一臺(tái)好的產(chǎn)品,更重要的是良好的服務(wù)。宏展儀器主營(yíng):溫度試驗(yàn)箱;高溫試驗(yàn)箱;低溫試驗(yàn)箱;高低溫試驗(yàn)箱;高低溫交變?cè)囼?yàn)箱;濕熱試驗(yàn)箱;高溫高濕試驗(yàn)箱;恒定濕熱試驗(yàn)箱;高低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱;高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱;溫變?cè)囼?yàn)箱;快速溫度變化試驗(yàn)箱;溫度沖擊箱;高低溫沖擊試驗(yàn)箱;環(huán)境試驗(yàn)室;步入式高溫試驗(yàn)室;步入式高低溫試驗(yàn)室;步入式高低溫恒定濕熱試驗(yàn)室;步入式高低溫交變濕熱試驗(yàn)室;高溫試驗(yàn)箱;真空干燥箱;耐候試驗(yàn)箱;紫外耐候試驗(yàn)箱;鹽霧試驗(yàn)箱;鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱;模擬運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái);跌落試驗(yàn)臺(tái);蒸氣老化試驗(yàn)機(jī)等其它環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備.另可依客戶要求之尺寸制作試驗(yàn)室,滿足客戶的要求。歡迎廣大客戶來(lái)電來(lái)函咨詢訂購(gòu)!北京宏展環(huán)境科技有限公司聯(lián)系地址:北京市豐臺(tái)區(qū)和義東里6區(qū)1號(hào)樓7單元502室 聯(lián)系電話:010-6799652067957820 聯(lián)系傳真:010-67965617聯(lián)系手機(jī):15001084958聯(lián)系QQ:1796337665Skype:lihuibj聯(lián)系人:李 慧(小姐)聯(lián)系MSN:lihuibj@hotail.com電子郵件:hui.li@hongzhan.com.hk公司網(wǎng)址:http://www.a5317.com http://www.thermotron.com.cnhttp://www.hongzhan.com.hkhttp://www.hongzhangroup.comhttp://hongzhanbj.cn.alibaba.comhttp://testchamber.en.alibaba.com宏展在用戶身邊用戶在宏展心中愛(ài)儀器熱線:400-0000-217[詳細(xì)]
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2018-09-04 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
- 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]
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2024-09-28 00:31
操作手冊(cè)
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GB 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
- GB-T5170[1].8-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]
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2024-09-28 02:41
產(chǎn)品樣冊(cè)
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GB/T5170.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法-總則
- GB/T5170.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法-總則1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備(以下簡(jiǎn)稱“設(shè)備”)檢驗(yàn)所用術(shù)語(yǔ)和定義、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)儀器、檢驗(yàn)周期、檢驗(yàn)負(fù)載、設(shè)備的外觀和安全、檢驗(yàn)記錄表、檢驗(yàn)結(jié)果處理等要求。本部分適用于電工電子產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備的檢驗(yàn),其他產(chǎn)品所用環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)亦可參照使用。[詳細(xì)]
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2024-10-01 17:42
產(chǎn)品樣冊(cè)
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GBT5170.11-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法
- GBT5170.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備鹽霧試驗(yàn)箱采用含鹽溶液或酸性含鹽溶液,在一定的溫度和相對(duì)的濕度的環(huán)境下對(duì)材料或產(chǎn)品進(jìn)行加速腐蝕,重現(xiàn)材料或產(chǎn)品在一定時(shí)間范圍內(nèi)所遭受的破壞程度。鹽霧試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于金屬材料防護(hù)層、機(jī)械零部件、電子元器件、汽車零部件、工業(yè)產(chǎn)品、汽車摩托車、電工電子、質(zhì)檢計(jì)量、涂層等進(jìn)行鹽霧腐蝕試驗(yàn),考核材料防護(hù)層及產(chǎn)品抗鹽霧腐蝕的性能,以及相似防護(hù)層的工藝質(zhì)量比較,也可以用來(lái)考核某些產(chǎn)品抗鹽霧腐蝕的能力。一、技術(shù)參數(shù):1.溫度范圍:RT+10℃~55℃2.飽和器溫度范圍:RT+10℃~70℃3.溫度均勻度:≤±2℃(空載時(shí))4.溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃(空載時(shí))5.鹽霧沉降量:1~2mL/80c.h6.時(shí)間設(shè)定范圍:0~9999h、m、s具有一鍵恢復(fù)功能7.間斷噴霧時(shí)間范圍:0~99h、m、s8.試樣架:試樣架可滿足15°/30°傾斜試驗(yàn),也可采用掛鉤方式。二、鹽霧試驗(yàn)箱規(guī)格(單位:mm):型號(hào)YWX/Q-150工作室尺寸D×W×H450×600×400型號(hào)YWX/Q-250工作室尺寸D×W×H600×900×500型號(hào)YWX/Q-750工作室尺寸D×W×H750×1100×500型號(hào)YWX/Q-010工作室尺寸D×W×H850×1300×600型號(hào)YWX/Q-016工作室尺寸D×W×H850×1600×600型號(hào)YWX/Q-020工作室尺寸D×W×H900×2000×600[詳細(xì)]
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2018-09-03 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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GB/T 5170.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
- GB/T5170.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于電工電子產(chǎn)品腐蝕氣體試驗(yàn)所用的試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。[詳細(xì)]
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2018-09-13 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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GB/T 5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
- GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對(duì)GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫》、GB/T2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫》和GB/T2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分代替GB/T5170.2-1996。與GB/T5170.2-1996相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備”;所有用詞“檢定”更改為“檢驗(yàn)”;增加了“術(shù)語(yǔ)和定義”一章;增加了“溫度波動(dòng)度”檢驗(yàn)項(xiàng)目;增加了“溫度均勻度”檢驗(yàn)項(xiàng)目;增加了“每5min溫度平均變化速率”檢驗(yàn)項(xiàng)目;增加了“溫度指示誤差”檢驗(yàn)項(xiàng)目;增加了“溫度過(guò)沖量”檢驗(yàn)項(xiàng)目;增加了“溫度過(guò)沖恢復(fù)時(shí)間”檢驗(yàn)項(xiàng)目;增加了“噪聲”檢驗(yàn)項(xiàng)目;刪除了“相對(duì)濕度”檢驗(yàn)項(xiàng)目;在“檢驗(yàn)用主要儀器及要求”一章中,給出了溫度測(cè)量系統(tǒng)其測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度(k=2)的要求增加了“檢驗(yàn)負(fù)載”一章;修改了“溫度變化速率”的計(jì)算方法;測(cè)量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù);刪除了“檢定過(guò)程中的處理”部分;附錄A“測(cè)量記錄表格示例”更改為“檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇”;刪除了附錄B“溫度波動(dòng)度、溫度均勻度檢定方法”。[詳細(xì)]
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2018-09-13 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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GB/T 5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
- GB/T5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對(duì)GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法》和GB/T2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J:長(zhǎng)霉》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。[詳細(xì)]
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2018-09-13 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
- GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。恒溫恒濕試驗(yàn)箱武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司專業(yè)生產(chǎn),通過(guò)模擬高低溫濕熱環(huán)境來(lái)確定電工、電子產(chǎn)品對(duì)高低溫環(huán)境及濕熱環(huán)境的適應(yīng)性(特別是產(chǎn)品的電氣性能和機(jī)械性能的變化情況),也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力。[詳細(xì)]
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2018-10-08 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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GB/T 5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
- GB/T5170.11-2008本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。在試驗(yàn)設(shè)備溫度和相對(duì)濕度達(dá)到標(biāo)稱值后,通入腐蝕氣體(二氧化硫或硫化氫)并達(dá)到標(biāo)稱濃度值,穩(wěn)定30min,而后在1h內(nèi)每隔10min測(cè)量一次腐蝕氣體濃度值,共測(cè)7次,試驗(yàn)采用二氧化硫試驗(yàn)箱進(jìn)行。[詳細(xì)]
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2018-10-08 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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GBT5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
- GBT5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]
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2013-11-19 00:00
標(biāo)準(zhǔn)
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GBT5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
- GBT5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備資料下載:http://www.hongda17.cn[詳細(xì)]
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2018-08-19 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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GBT 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
- GBT5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]
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2018-09-14 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)
- 本部分規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求,檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。[詳細(xì)]
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2018-10-13 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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GB/T5170.8-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
- GB/T5170.8-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_鹽霧試驗(yàn)設(shè)備1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了鹽霧試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。[詳細(xì)]
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2018-09-05 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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