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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
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- 品牌：日本理學(xué)
- 型號：WaferX 310
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
日本Rigaku X射線熒光分析儀 WaferX 310, 通過X射線以大角度照射在鍍膜的硅片樣品上,產(chǎn)生鍍膜 樣品的相應(yīng)特征X射線的方法，進(jìn)而分析測量硅片樣品的 鍍膜厚度。
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- 品牌：日本理學(xué)
- 型號：X 射線多晶衍射儀 SmartLab
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
日本理學(xué) XRD 智能 X 射線多晶衍射儀 SmartLab，是當(dāng)今世界性能的多功能的 X 射線衍射儀，它采用了理學(xué)獨(dú)創(chuàng)的 CBO 交叉光學(xué)系統(tǒng)、自動識別所有光學(xué)組件、樣品臺、智能的測量分析軟件 Sm...
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