日本JEOL產(chǎn)生高密度等離子體的內(nèi)置型等離子源 BS-80011BPG，安裝在真空室內(nèi)產(chǎn)生高密度等離子體的等離子體源。利用和真空蒸鍍結(jié)合的等離子體輔助沉積技術(shù)（離子鍍），能提高光學(xué)薄膜、保護(hù)膜、功能膜...

日本電子JEOL大功率電子槍?電源EBG-300UA，JEBG-1000UB，JEBG-3000UB，是用來在真空中蒸發(fā)或熔解金屬及氧化物的大功率電子束發(fā)生源，能在寬幅塑料及大面積玻璃基板上持續(xù)、高速...

JEOL 粉末供應(yīng)裝置TP-99010FDR，用氣體通過管道定量輸送粉末的送粉器。

日本JEOL電子自旋共振譜儀 JES-X310，X320，經(jīng)過進(jìn)一步改良低噪音耿氏振蕩器，達(dá)到了極高的靈敏度。由于人們已經(jīng)認(rèn)識(shí)到樣品中極少量的未成對(duì)電子會(huì)在很大程度上左右著材料的性能，因此對(duì)ESR的測(cè)...

日本JEOL核磁共振譜儀JNM-ECZR 系列 ，是高度結(jié)合了Z新數(shù)字技術(shù)和高頻技術(shù)研制的脈沖傅里葉變換核磁共振儀。電路的高度集成化提高了譜儀的可靠性、實(shí)現(xiàn)了機(jī)體的小型化，譜儀對(duì)多通道操作、高功率放大...

日本JEOL JSX-1000S型X射線熒光光譜儀采用觸控屏操作、提供更加簡(jiǎn)便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（FP法?檢量線法）、RoHS元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更...

日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng) JIB-4700F ，該設(shè)備的SEM鏡筒中采用了超級(jí)混合圓錐形物鏡、GB模式和in-lens檢測(cè)器系統(tǒng)，在1kV低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與Z大能獲得...

日本JEOL電子探針顯微分析儀JXA-iHP100 ，可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。

日本JEOL 軟X射線分析譜儀，(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線CCD相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了極高的能量分辨率。 和EDS一...

JEOL截面樣品拋光儀IB-19520CCP ，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且...

日本JEOL 截面樣品拋光儀 IB-19530CP，采用多用途樣品臺(tái)，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜...

日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) JIB-4000 ，配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對(duì)樣品表面進(jìn)行SIM觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為...

日本JEOL 離子切片儀 EM-09100IS，用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡(jiǎn)單。低能量、低角度（0...

JEOL 低溫冷凍離子切片儀 IB-09060CIS，易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時(shí)間長，有效地抑制了熱損傷。

JEOL 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 JSM-7200F ，應(yīng)用了日本電子旗艦機(jī)-JSM-7800F Prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術(shù)，標(biāo)配了TTLS系統(tǒng)（Through-The-Lens Syst...

日本JEOL 掃描電子顯微鏡 JSM-IT500 ，是JEOL InTouchScope系列的新機(jī)型。 從設(shè)定視野到生成報(bào)告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無縫操作，使用更加方便的掃...