本文由 武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司 整理匯編

2018-10-08 10:01 1495閱讀次數(shù)

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• GB/T 5170.9-2008 太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.9-2008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備為中戶人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)，代替了GB/T5170.9-1996版本，為全國電子電工產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口，GB/T5170.9-2008主要規(guī)定的是太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、儀器設(shè)備、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法等內(nèi)容，主要是模擬太陽輻照的老化試驗(yàn)。主要是在太陽輻射下用太陽輻射計(jì)進(jìn)行輻射量的計(jì)量。當(dāng)然也還有溫度測(cè)量以對(duì)比溫度和福照度不同的試驗(yàn)條件。光源有紫外光、紅外線光以及其他光源等，主要是有所采用的燈管而決定波長。紫外老化試驗(yàn)箱為紫外光波長在340nm、313nm等光波時(shí)對(duì)試驗(yàn)樣品實(shí)施的加速老化試驗(yàn)。紫外老化試驗(yàn)箱、紫外光老化試驗(yàn)箱、耐紫外線老化試驗(yàn)箱等都是紫外老化試驗(yàn)箱這一類產(chǎn)品，由武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司設(shè)計(jì)生產(chǎn)。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:01

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• GBT 5170.9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備

  標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T5170.9-2008中文標(biāo)準(zhǔn)名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備代替標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T5170.9-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備,標(biāo)準(zhǔn)簡介:GB/T5170的本部分規(guī)定了太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對(duì)GB/T2423.24《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分:試驗(yàn)方法　試驗(yàn)SA:模擬地面上的太陽輻射》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào):19.040ZG標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào):K04標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)目錄:前言……………………………………………………Ⅰ1　范圍………………………………………………12　規(guī)范性引用文件…………………………………13　術(shù)語和定義………………………………………14　檢驗(yàn)項(xiàng)目…………………………………………15　檢驗(yàn)用主要儀器及要求…………………………16　檢驗(yàn)負(fù)載…………………………………………27　檢驗(yàn)條件…………………………………………28　檢驗(yàn)方法…………………………………………29　數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果………………………610　檢驗(yàn)周期………………………………………6附錄A（規(guī)范性附錄）　檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇…………7引用標(biāo)準(zhǔn):下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.24　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分:試驗(yàn)方法　試驗(yàn)SA:模擬地面上的太陽輻射（GB/T2423.241995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽輻射,IDTIEC60068-2-5:1975環(huán)境試驗(yàn)第2-5部分:試驗(yàn)試驗(yàn)Sa:地面上的模擬太陽輻射）GB/T5170.12008　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法　總則GB/T5170.2　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法　溫度試驗(yàn)設(shè)備GB/T16839.1　熱電偶　第1部分:分度表（GB/T16839.11997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751　工業(yè)鉑電阻敏感元件標(biāo)準(zhǔn)關(guān)注次數(shù):39次標(biāo)準(zhǔn)上傳日期:2009-10-22發(fā)布日期:2008-06-16實(shí)施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標(biāo)準(zhǔn)名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Solarradiationtestingequipments采用國際標(biāo)準(zhǔn):無標(biāo)準(zhǔn)類別:國家標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù):12頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會(huì)歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

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• GB/T5170.9-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.9-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

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• GB/T 2424.14-1995太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則

  GB/T2424.14-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則介紹地面太陽輻射對(duì)設(shè)備和元件影響的模擬方法，模擬環(huán)境的主要特性是地面上所觀測(cè)到的太陽光譜能量分布和控制溫度條件綜合吸收能量的強(qiáng)度，但是需要考慮太陽輻射（包括天空輻射）和其他環(huán)境，例如溫度、濕度和氣流速度等的綜合。輻射對(duì)試驗(yàn)樣品的影響主要取決于光源的輻射強(qiáng)度和光譜分布。因?yàn)樾枰M太陽光照射，紫外老化試驗(yàn)箱不能模擬太陽光的全光譜波段，需要使用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的氙燈老化試驗(yàn)箱模擬太陽光。氙燈老化試驗(yàn)箱里面的氙弧燈燈管能模擬全太陽光光譜，來重現(xiàn)不同環(huán)境條件下模擬的對(duì)試驗(yàn)對(duì)象，比如橡膠、塑料、織物等非金屬材料具有破壞性的光波。應(yīng)用更為廣泛，功能更全面。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 25269-2010橡膠試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)指南

  GB/T25269-2010等同于ISO18899:2004標(biāo)準(zhǔn)，該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的是橡膠試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)指南。確立校準(zhǔn)原則，給出測(cè)量的測(cè)源性綜合要求指南，同時(shí)也確立了校準(zhǔn)時(shí)間間隔和測(cè)量不確定度評(píng)定的基本原則。橡膠試驗(yàn)設(shè)備的各種參數(shù)校準(zhǔn)方法引用了相對(duì)應(yīng)的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。臭氧老化試驗(yàn)箱用于橡膠的老化試驗(yàn)，校準(zhǔn)指南適用于設(shè)備，需要注意的問題是，臭氧老化試驗(yàn)箱使用一年后，需對(duì)臭氧發(fā)生器的臭氧發(fā)生量進(jìn)行測(cè)試，檢驗(yàn)是否和標(biāo)準(zhǔn)有偏差。試驗(yàn)室內(nèi)溫度也需要進(jìn)行檢測(cè)校準(zhǔn)。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 5170.5-2008 《電工電子產(chǎn)品 濕熱試驗(yàn)設(shè)備》

  GB/T5170.5-2008《電工電子產(chǎn)品濕熱試驗(yàn)設(shè)備》為國家標(biāo)準(zhǔn)，由信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所起草。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備公司生產(chǎn)的高低溫濕熱交變?cè)囼?yàn)箱參照改標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)，為廣大用戶滿意產(chǎn)品，成為行業(yè)重要的供應(yīng)商。其中5.1條款對(duì)溫度測(cè)量儀器、濕度測(cè)量儀器、風(fēng)速測(cè)量儀器、噪聲測(cè)量儀器等都做了詳細(xì)的介紹和規(guī)定。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:01

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• G150-7 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 太陽輻射試驗(yàn)方法

  G150-7環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備太陽輻射試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2018-10-05 10:00

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• GB/T 12085.9-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法：太陽輻射

  GB/T12085.9-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分：太陽輻射規(guī)定了規(guī)定了太陽輻射試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。目的是研究試樣的光學(xué)、熱學(xué)、力學(xué)、化學(xué)和電氣等特性受到太陽輻射影響的變化程度。氙燈老化試驗(yàn)箱可模擬太陽光的全光譜，可以滿足太陽輻射的試驗(yàn)要求，模擬過程主要是通過箱體內(nèi)的短弧氙燈實(shí)現(xiàn)。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 5170.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于電工電子產(chǎn)品腐蝕氣體試驗(yàn)所用的試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡介本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對(duì)GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》、GB/T2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫》和GB/T2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分代替GB/T5170.2-1996。與GB/T5170.2-1996相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗(yàn)設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法　溫度試驗(yàn)設(shè)備”；所有用詞“檢定”更改為“檢驗(yàn)”；增加了“術(shù)語和定義”一章；增加了“溫度波動(dòng)度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“溫度均勻度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“溫度指示誤差”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“溫度過沖量”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“溫度過沖恢復(fù)時(shí)間”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“噪聲”檢驗(yàn)項(xiàng)目；刪除了“相對(duì)濕度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；在“檢驗(yàn)用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測(cè)量系統(tǒng)其測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k＝２）的要求增加了“檢驗(yàn)負(fù)載”一章；修改了“溫度變化速率”的計(jì)算方法；測(cè)量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；刪除了“檢定過程中的處理”部分；附錄Ａ“測(cè)量記錄表格示例”更改為“檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇”；刪除了附錄Ｂ“溫度波動(dòng)度、溫度均勻度檢定方法”。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡介GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對(duì)GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第２部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第２部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法》和GB/T2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第２部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)J：長霉》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)／驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。恒溫恒濕試驗(yàn)箱武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司專業(yè)生產(chǎn)，通過模擬高低溫濕熱環(huán)境來確定電工、電子產(chǎn)品對(duì)高低溫環(huán)境及濕熱環(huán)境的適應(yīng)性（特別是產(chǎn)品的電氣性能和機(jī)械性能的變化情況），也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.11-2008本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。在試驗(yàn)設(shè)備溫度和相對(duì)濕度達(dá)到標(biāo)稱值后，通入腐蝕氣體（二氧化硫或硫化氫）并達(dá)到標(biāo)稱濃度值，穩(wěn)定30min，而后在1h內(nèi)每隔10min測(cè)量一次腐蝕氣體濃度值，共測(cè)7次，試驗(yàn)采用二氧化硫試驗(yàn)箱進(jìn)行。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 5170.19-2005 溫度/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.19-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備規(guī)定了試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)的檢定項(xiàng)目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測(cè)量點(diǎn)數(shù)量及位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。試驗(yàn)設(shè)備有恒溫恒濕試驗(yàn)箱/高低溫濕熱試驗(yàn)箱、振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)，試驗(yàn)條件及步驟按照該標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 4797.4-2006 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件太陽輻射與溫度

  GB/T4797.4-2006電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件太陽輻射與溫度本部分對(duì)太陽輻射地區(qū)主要地劃分了幾種類型，主要提供了為產(chǎn)品應(yīng)用選擇合適的太陽輻射嚴(yán)酷程度的部分背景材料。規(guī)定了產(chǎn)品在貯存、運(yùn)輸和使用過程中承受的太陽輻射嚴(yán)酷程度。氙燈老化試驗(yàn)箱具有光照、淋雨、濕度、凝露等六個(gè)環(huán)境因素，而且可以獨(dú)立調(diào)整，采用氙燈作光源，具有與太陽光近似的光譜分布，因此以氙燈光模擬太陽光。同時(shí)溫度和濕度較寬的調(diào)節(jié)范圍供調(diào)節(jié)，淋雨采取獨(dú)立循環(huán)系統(tǒng)，對(duì)橡膠、塑料、紡織、布料等材進(jìn)行太陽光模擬或加速試驗(yàn)，檢驗(yàn)產(chǎn)品的使用壽命。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡介本部分規(guī)定了高低溫低氣壓(含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓)試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對(duì)GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 5170.20-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.20-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備規(guī)定了水試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)的檢定項(xiàng)目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測(cè)量點(diǎn)數(shù)量及位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理與檢定結(jié)果等內(nèi)容。武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的箱式淋雨試驗(yàn)箱、擺管淋雨試驗(yàn)機(jī)、滴水試驗(yàn)裝置等外殼防護(hù)試驗(yàn)設(shè)備適用于電工電子產(chǎn)品（包括元件）在運(yùn)輸和使用期間可能受到滴水,沖水和浸水影響的水試驗(yàn).[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。GB/T5170.10-2008適用于對(duì)GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。檢驗(yàn)設(shè)備包括高低溫試驗(yàn)箱、高低溫濕熱試驗(yàn)箱、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱等溫度試驗(yàn)設(shè)備。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 5170.12008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法

  GB/T5170.12008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法規(guī)定了環(huán)境設(shè)備檢驗(yàn)所用術(shù)語和定義、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)儀器、檢驗(yàn)周期、檢驗(yàn)負(fù)載、設(shè)備的外觀和安全、檢驗(yàn)記錄表、檢驗(yàn)結(jié)果處理等要求。恒溫恒濕試驗(yàn)箱、溫度沖擊試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱等設(shè)備所經(jīng)受周圍物理、化學(xué)和生物的條件和特性參數(shù)。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 5170.14-2009電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法

  GB/T5170.14-2009電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法規(guī)定了振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)在進(jìn)行定型鑒定、出廠檢驗(yàn)和定期檢驗(yàn)時(shí)的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)時(shí)的一般規(guī)定、及檢驗(yàn)方法和結(jié)果等內(nèi)容。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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