本文由 武漢尚測試驗(yàn)設(shè)備有限公司 整理匯編

2018-10-08 10:00 1282閱讀次數(shù)

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• GB/T 4797.4-2006 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件太陽輻射與溫度

  GB/T4797.4-2006電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件太陽輻射與溫度本部分對(duì)太陽輻射地區(qū)主要地劃分了幾種類型，主要提供了為產(chǎn)品應(yīng)用選擇合適的太陽輻射嚴(yán)酷程度的部分背景材料。規(guī)定了產(chǎn)品在貯存、運(yùn)輸和使用過程中承受的太陽輻射嚴(yán)酷程度。氙燈老化試驗(yàn)箱具有光照、淋雨、濕度、凝露等六個(gè)環(huán)境因素，而且可以獨(dú)立調(diào)整，采用氙燈作光源，具有與太陽光近似的光譜分布，因此以氙燈光模擬太陽光。同時(shí)溫度和濕度較寬的調(diào)節(jié)范圍供調(diào)節(jié)，淋雨采取獨(dú)立循環(huán)系統(tǒng)，對(duì)橡膠、塑料、紡織、布料等材進(jìn)行太陽光模擬或加速試驗(yàn)，檢驗(yàn)產(chǎn)品的使用壽命。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 4797.1-2005電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件溫度和濕度

  GB/T4797.1-2005電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件溫度和濕度給出了用溫度和濕度參數(shù)表示的戶外氣候類型，作為產(chǎn)品應(yīng)用時(shí)選擇適當(dāng)溫度和濕度嚴(yán)酷等級(jí)時(shí)的背景。恒溫恒濕試驗(yàn)箱是模擬高低溫濕熱環(huán)境，廣泛用于確定電工、電子產(chǎn)品對(duì)高低溫環(huán)境及濕熱環(huán)境的適應(yīng)性（特別是產(chǎn)品的電氣性能和機(jī)械性能的變化情況），也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 4797.6-1995電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件塵、沙、鹽霧

  GB/T4797.6-1995電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件塵、沙、鹽霧闡明了自然界出現(xiàn)的塵、沙、鹽霧環(huán)境的特性、分布對(duì)產(chǎn)品的影響，及影響這些環(huán)境條件的因素。GB/T4797.6-1995適用于考慮產(chǎn)品在貯存、運(yùn)輸和使用期間暴露于塵、沙、鹽霧環(huán)境下可能遭受的自然條件及其影響，這些環(huán)境因素的影響常和風(fēng)有密切聯(lián)系，并隨風(fēng)力的增大而增大數(shù)倍。塵、沙、鹽霧及相關(guān)聯(lián)的風(fēng)，能在各個(gè)方面對(duì)產(chǎn)品產(chǎn)生影響，Z主要的是：1、塵進(jìn)入密封容器和封閉體中；2、使電氣性能惡化，例如接觸失效，接觸電阻改變，（電位器）的軌跡電阻變化；3、引起運(yùn)動(dòng)的軸承、車軸、旋鈕和其他運(yùn)動(dòng)部件磨損或故障；4、表面發(fā)生剝蝕（侵蝕、腐蝕）；5、導(dǎo)致光學(xué)表面模糊；6、使?jié)櫥鄯x；7、熱傳導(dǎo)率降低；8、導(dǎo)致工作的通風(fēng)孔、套管、導(dǎo)管、濾清器、孔等堵塞；9、高速運(yùn)動(dòng)（如沙暴）時(shí)產(chǎn)生靜電、影響通訊系統(tǒng)。所需試驗(yàn)環(huán)境可使用武漢尚測試驗(yàn)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的沙塵試驗(yàn)箱和鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱模擬。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB T 4797.1-2005 自然環(huán)境條件溫度和濕度

  GBT4797.1-2005電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件溫度和濕度上海覽浩儀器設(shè)備有限公司電話：021-5978838159788382傳真：021-39651412更多產(chǎn)品信息請(qǐng)瀏覽:[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 塵、沙、鹽霧

  GBT4797.6-1995電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件塵、沙、鹽霧上海覽浩儀器設(shè)備有限公司電話：021-5978838159788382傳真：021-39651412更多產(chǎn)品信息請(qǐng)瀏覽:[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB-T 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 塵、沙、鹽霧

  GB-T4797.6-1995電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件塵、沙、鹽霧[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

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• GBT4797 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 塵、沙、鹽霧

  GBT4797.6-1995電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件塵、沙、鹽霧[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB-T 4797.6-1995 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 塵沙鹽霧

  GB-T 4797.6-1995 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 塵沙鹽霧[詳細(xì)]

  2024-09-20 13:27

  選購指南

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• GBT 4797.7-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件分類 自然環(huán)境條件 地震振動(dòng)和沖擊

  GBT 4797.7-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件分類 自然環(huán)境條件 地震振動(dòng)和沖擊[詳細(xì)]

  2014-01-06 00:00

  安裝說明

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• GBT 4797.7-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件分類 自然環(huán)境條件 地震振動(dòng)和沖擊

  GBT 4797.7-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件分類 自然環(huán)境條件 地震振動(dòng)和沖擊[詳細(xì)]

  2013-12-16 00:00

  專利

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• GBT 4797.7-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件分類 自然環(huán)境條件 地震振動(dòng)和沖擊.pdf

  GBT 4797.7-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件分類 自然環(huán)境條件 地震振動(dòng)和沖擊.pdf[詳細(xì)]

  2015-01-23 00:00

  課件

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• GB-T 4797.6-1995 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 塵、沙、鹽霧

  中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件塵、沙、鹽霧【塵、沙、鹽霧方法】本標(biāo)準(zhǔn)參照采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC721-2-5《環(huán)境條件分類第二部分：自然界出現(xiàn)的環(huán)境條件第5組：沙、塵、鹽霧》（1991年，**版）。本標(biāo)準(zhǔn)（GB/T4797.6-1995電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件沙、塵、鹽霧）闡述了自然界中出現(xiàn)的沙、塵、鹽霧環(huán)境的特性、分布與對(duì)產(chǎn)品的影響，及影響這些環(huán)境條件的因素。本標(biāo)準(zhǔn)適用于考慮產(chǎn)品在貯存、運(yùn)輸和使用期間暴露于塵、沙、鹽霧環(huán)境下可能遭受的自然條件及其影響。這些環(huán)境因素的影響常和風(fēng)有密切的聯(lián)系，并隨風(fēng)力的增加而增大數(shù)倍。有關(guān)風(fēng)的環(huán)境因素與條件，參見GB/T4797.5“降水和風(fēng)”。上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地閔行經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)，是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)。歷經(jīng)市場洗禮和多年的拼搏積淀，林頻儀器現(xiàn)已發(fā)展成為環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)之一。公司專業(yè)生產(chǎn)各類環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備：高低溫低氣壓試驗(yàn)箱、液氮深冷低溫箱、CASS交變鹽霧箱、高低溫沖擊試驗(yàn)箱、太陽能光伏組件濕凍試驗(yàn)設(shè)備、溫度老化試驗(yàn)室及各類非標(biāo)產(chǎn)品,“林頻”生產(chǎn)的試驗(yàn)設(shè)備可滿足GB、GJB、MIL、DIL、IEC等各行業(yè)各國家的標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于產(chǎn)品細(xì)節(jié)請(qǐng)致電021-34098999，如果您需要下載相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品技術(shù)資料，請(qǐng)登陸：http://www.linpin.com.cn！[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

  GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2_部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)B：高溫GB/T2423.2是GB/T2423.2標(biāo)準(zhǔn)的第2部分，GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見資料附錄NA.本部分等同采用IEC60068-2-2：2007(環(huán)境試驗(yàn)第2-2部分：試驗(yàn)試驗(yàn)B：干熱)。本部分與IEC60068-2-2：2007相比，主要做了下列編輯性修改：--本部分的名稱改為：（電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫）；--"本標(biāo)準(zhǔn)"一詞改為："本部分"；--刪除了IEC60068-2-2：2007前言；--刪除了IEC60068-2-2：2007引言，將其內(nèi)容轉(zhuǎn)化為增加的資料性附錄NB的內(nèi)容；[詳細(xì)]

  2018-10-25 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T 5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡介本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對(duì)GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》、GB/T2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫》和GB/T2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分代替GB/T5170.2-1996。與GB/T5170.2-1996相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗(yàn)設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法　溫度試驗(yàn)設(shè)備”；所有用詞“檢定”更改為“檢驗(yàn)”；增加了“術(shù)語和定義”一章；增加了“溫度波動(dòng)度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“溫度均勻度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“溫度指示誤差”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“溫度過沖量”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“溫度過沖恢復(fù)時(shí)間”檢驗(yàn)項(xiàng)目；增加了“噪聲”檢驗(yàn)項(xiàng)目；刪除了“相對(duì)濕度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；在“檢驗(yàn)用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k＝２）的要求增加了“檢驗(yàn)負(fù)載”一章；修改了“溫度變化速率”的計(jì)算方法；測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；刪除了“檢定過程中的處理”部分；附錄Ａ“測量記錄表格示例”更改為“檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇”；刪除了附錄Ｂ“溫度波動(dòng)度、溫度均勻度檢定方法”。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。恒溫恒濕試驗(yàn)箱武漢尚測試驗(yàn)設(shè)備有限公司專業(yè)生產(chǎn)，通過模擬高低溫濕熱環(huán)境來確定電工、電子產(chǎn)品對(duì)高低溫環(huán)境及濕熱環(huán)境的適應(yīng)性（特別是產(chǎn)品的電氣性能和機(jī)械性能的變化情況），也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T 5170.5-2008 《電工電子產(chǎn)品 濕熱試驗(yàn)設(shè)備》

  GB/T5170.5-2008《電工電子產(chǎn)品濕熱試驗(yàn)設(shè)備》為國家標(biāo)準(zhǔn)，由信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所起草。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。武漢尚測試驗(yàn)設(shè)備公司生產(chǎn)的高低溫濕熱交變?cè)囼?yàn)箱參照改標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)，為廣大用戶滿意產(chǎn)品，成為行業(yè)重要的供應(yīng)商。其中5.1條款對(duì)溫度測量儀器、濕度測量儀器、風(fēng)速測量儀器、噪聲測量儀器等都做了詳細(xì)的介紹和規(guī)定。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:01

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• GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)碰撞

  GB/T2423.6-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞[詳細(xì)]

  2018-10-11 10:00

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• GB/T 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品 低溫試驗(yàn)方法

  GB/T2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境測試規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2024-09-28 02:41

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• GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)高溫試驗(yàn)

  GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)高溫試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定高溫試驗(yàn)的目的是確認(rèn)電子電工產(chǎn)品元器件、設(shè)備及其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、儲(chǔ)存、運(yùn)輸?shù)哪芰?。高溫試?yàn)箱的技術(shù)要求要達(dá)到和滿足GB/T2423.2-2008要求。武漢尚測試驗(yàn)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的高低溫試驗(yàn)箱系列產(chǎn)品執(zhí)行該標(biāo)準(zhǔn)。[詳細(xì)]

  2024-09-28 01:55

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• GB/T5170.9-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.9-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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