本文由 東莞市貝爾試驗設(shè)備有限公司 整理匯編

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• GB/T 2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)試驗

  GB/T2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)試驗標(biāo)準(zhǔn)簡介本部分是GB/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》的一部分。本部分等同采用IEc60068-2-38：1974《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗》(英文版)。本部分技術(shù)內(nèi)容與IEC、60068-2-38：1974《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗》(英文版)相同，編寫格式與表達(dá)方式符合GB/T1.1?2000和GB/T20000.2?2001的有關(guān)規(guī)定。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423-34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法 試驗ZAD 溫度濕度組合循環(huán)試驗

  GB/T2423-34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗ZAD溫度濕度組合循環(huán)試驗。GB/T2423-34-2005第4試驗設(shè)備的說明規(guī)定試驗樣品暴露于濕熱后，接著暴露于低溫，兩種暴露可在一個試驗箱或兩個試驗箱內(nèi)進(jìn)行。若采用一個試驗箱，則可以使用高低溫濕熱交變試驗箱進(jìn)行試驗，若需要更惡劣的試驗環(huán)境，則可以使用高低溫沖擊試驗箱模擬極惡劣環(huán)境。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化

  GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化標(biāo)準(zhǔn)簡介：GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化國家標(biāo)準(zhǔn)(GB)GB/T2423.22-2002溫度變化試驗適用于確定一次或連續(xù)多次溫度變化對試驗樣品的影響。本試驗不能用來考核僅由高溫或低溫所引起的影響，對這種影響，應(yīng)使用高溫或低溫試驗方法。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB2423.34電工電子產(chǎn)品溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法

  GB2423.34電工電子產(chǎn)品溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法引言本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-38《試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗》。本標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)與下述標(biāo)準(zhǔn)一起使用：GB2421-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則》GB2422-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程名詞術(shù)語》GB2424.2-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程濕熱試驗導(dǎo)則》本標(biāo)準(zhǔn)主要適用于元器件的溫度/濕度組合試驗，目的是用加速的方法來確定試驗樣品耐受高溫高濕和低溫劣化作用的能力。采用本標(biāo)準(zhǔn)時應(yīng)規(guī)定的細(xì)則a.條件試驗期間試驗樣品的狀態(tài)（例如電氣，機(jī)械負(fù)載或極化電壓）；b.與“干燥的標(biāo)準(zhǔn)條件"不同的預(yù)處理程序；c.與正常的試驗大氣條件不同的初始檢測條件；d.條件試驗前必須進(jìn)行的電性能和機(jī)械性能檢測；e.如果需要，條件試驗期間進(jìn)行的電性能和機(jī)械性能檢測及檢測的時間；f.條件試驗后進(jìn)行的電性能和機(jī)械性能檢測，首先檢測參數(shù)，以及與本標(biāo)準(zhǔn)不同的完成這些參數(shù)檢測的時間。[詳細(xì)]

  2018-10-11 10:00

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫標(biāo)準(zhǔn)簡介本部分規(guī)定的低溫試驗適用非散熱和散熱試驗樣品。本部分代替GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》，與之相比，主要變化如下：刪除了試驗Aa：非散熱試驗樣品溫度突變的低溫試驗；刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；增加了試驗Ae：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗試驗樣品在整個試驗過程通電。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫由中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局和ZG國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會2008年12月30號發(fā)布，GB/T2423.1-2008等同于國際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-1:2007.代替了GB/T2423.1-2001標(biāo)準(zhǔn)。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。本低溫試驗的目的僅用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力，不能用來評價試驗樣品耐溫度變化能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗可使用武漢尚測試驗設(shè)備有限公司生產(chǎn)的低溫恒定濕熱試驗箱來模擬試驗的低溫環(huán)境。低溫恒定濕熱試驗箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T2423.34-2005試驗Z-AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗--上海林頻

  上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地之一的閔行經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)。是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)。現(xiàn)已發(fā)展成為國內(nèi)環(huán)境試驗設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)之一。公司生產(chǎn)各類環(huán)境試驗設(shè)備:鹽霧箱,高低溫箱,恒溫恒濕箱,高溫箱,低溫箱,高低溫交變濕熱箱,干燥箱,真空干燥箱,溫度沖擊箱,藥品穩(wěn)定箱,臭氧老化試驗箱,紫外耐候試驗箱,氙燈耐氣候試驗箱,換氣式老化試驗箱,砂塵試驗箱,箱式淋雨試驗箱,擺管淋雨試驗裝置,滴水試驗裝置,二氧化硫試驗箱,霉菌試驗箱,防銹油脂濕熱試驗箱,鹽霧試驗室,大型步入式試驗箱,溫度老化試驗室,溫濕度振動試驗箱,溫度快速變化試驗箱,單翼跌落試驗機(jī),振動試驗設(shè)備.同時我廠還可以根據(jù)客戶需要設(shè)計非標(biāo)產(chǎn)品，歡迎廣大新老客戶前來公司洽談、指導(dǎo)!以上產(chǎn)品我司均嚴(yán)格按照行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)及相關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)制造,符合的標(biāo)準(zhǔn)有:GB/T2423.17-2008、GB/T2423.18-2000《電工電子產(chǎn)品基本規(guī)程試驗Ka》，鹽霧試驗方法及GB/T10125-1997、GB/T10587-2006、GB10593.2-1990、GB/T1765-1979、GB/T1771-2007、GB/T12967.3-2008、GB/T5170.8-2008以及等效的IEC、GB/T2423.1-2008、GB/T2423.2-2008、GB/T5170.5-2008、GB/T10586-2006、GB/T2423.1-2008試驗A、GB/T2423.2-2008試驗B、GB/T2423.3-2006試驗Ca、GB/T2423.4-2008試驗Db、MIL、DIN、ASTM、GB/T16422.2-1999、（GB/T1865-2009、GB/T2423.24-1995、ASTMG155、ISO10SB02/B04、SAEJ2527、SAEJ2412）、GB/T4942.2-1993及外殼防護(hù)等級（IP代碼）GB4208-2008、GB/T10485-2007、GB/T7762-2003、GB/T2951.21-200、GB/T14522-2008、GB/T16422.3-1997、GB/T16585-96等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，祥情請瀏覽：http://www.linpin.com.cn[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

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• GB-T2423.34-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)

  GB-T2423.34-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T 2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗L:沙塵試驗

  GB/T2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗L:沙塵試驗標(biāo)準(zhǔn)簡介本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC60068-2-68：2001，本標(biāo)準(zhǔn)描述了沙塵試驗的基本結(jié)構(gòu)，規(guī)定了確定空氣中懸浮的沙塵對產(chǎn)品的影響的試驗方法。替代情況：替代GB/T2423.37-1989[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

  GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫標(biāo)準(zhǔn)簡介GB/T2423的本部分規(guī)定的高溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ｂｂ和試驗Ｂｄ與早期版本無實(shí)質(zhì)上的差異１）。１）IEC60068-2-2:2007原文在句前有“對于非散熱試驗樣品”。本高溫試驗的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。本高溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。本高溫試驗方法細(xì)分為以下幾種：非散熱試驗樣品高溫試驗：●　試驗Ｂｂ，溫度漸變。散熱試驗樣品高溫試驗：●　試驗Ｂｄ，溫度漸變；●　試驗Ｂｅ，溫度漸變，試驗樣品在整個試驗過程通電。本部分給出的試驗方法通常用于試驗期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T2423.34試驗:溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法

  GB/T2423.34-電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法上海覽浩儀器設(shè)備有限公司電話：021-59788381傳真：021-39651412更多產(chǎn)品信息請瀏覽：[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

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• GB-T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化

  GB-T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• GBT 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZAD溫度濕度組合循環(huán)試驗方法

  GBT 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZAD溫度濕度組合循環(huán)試驗方法[詳細(xì)]

  2014-05-05 00:00

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• GB2423.34-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AD:溫度/濕度組合 循環(huán)試驗方法

  GB2423.34-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-38（1974年、**版）試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法本標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)與下述標(biāo)準(zhǔn)一起使用：GB2421-81[電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則]GB2422-81[電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程名詞術(shù)語]GB242。.2-81[電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程濕熱試驗導(dǎo)則]本標(biāo)準(zhǔn)主要適用于元器件的溫度/濕度組合試驗，目的是用加速的方法來確定試驗樣品耐受高溫高濕和低溫劣化作用的能力。[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T 2423.34 溫度-濕度組合循環(huán)試驗

  北京雅士林試驗設(shè)備有限公司位于ZG北京，是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗設(shè)備、檢測設(shè)備生產(chǎn)、研發(fā)、銷售于一體的高新技術(shù)企業(yè)。產(chǎn)品已廣泛應(yīng)用于科研、電工、電子、軍事、航空、船舶、郵電通信、汽車、摩托車等企事業(yè)單位，提供按GB、IEC、DIN等標(biāo)準(zhǔn)相對應(yīng)的技術(shù)參數(shù)制作各類氣候環(huán)境試驗設(shè)備。公司已擁有專業(yè)的研發(fā)ZX、并擁有臺灣進(jìn)口數(shù)控沖床、ZG航天研發(fā)的數(shù)控折彎機(jī)，采用國內(nèi)Zxian極n的全自動靜電噴塑流水線等先進(jìn)的加工設(shè)備及符合國家標(biāo)準(zhǔn)的靜電調(diào)試車間，以確保產(chǎn)品的質(zhì)量外觀及性能。公司已經(jīng)多年與ZG大型的物流集團(tuán)公司友好合作，以免在運(yùn)輸途中設(shè)備的損壞而耽誤交貨期。雅士林多次與航天合作是**一家通過航天校準(zhǔn)合格并且擁有航天校準(zhǔn)證書的試驗設(shè)備廠家。北京大學(xué)，清華大學(xué)，ZG石油大學(xué)，復(fù)旦大學(xué)，南京大學(xué)，航空航天大學(xué)，等ZG航天的長期合同伙伴。雅士林公司恪守“服務(wù)只有起點(diǎn)，滿意沒有終點(diǎn)”的原則，多年來不斷進(jìn)取，開拓創(chuàng)新，博得了廣大用戶的信賴。本著質(zhì)量為根、服務(wù)為本、誠信當(dāng)先、利益共贏的經(jīng)營宗旨，密切關(guān)注國內(nèi)外Zxin科技動態(tài)，兼收并取國內(nèi)外高新技術(shù)，不斷拓展先進(jìn)實(shí)用的產(chǎn)品。長久以來，雅士林員工一直在孜孜不倦地尋求如何通過雅士林的努力，為ZG的試驗設(shè)備略盡綿薄之力。人才是企業(yè)的根本，科技是發(fā)展的源泉，社會在不斷的發(fā)展，雅士林將一如既往，不懈地探索創(chuàng)新，注重新產(chǎn)品開發(fā)，使技術(shù)品質(zhì)更臻完善，為社會奉獻(xiàn)更多的新產(chǎn)品。發(fā)展中，我公司得到了國內(nèi)外社會各界朋友的真誠支持，致此機(jī)會，謹(jǐn)向各界致以衷心的感謝，并竭誠歡迎與各界同仁，有志之士進(jìn)行廣泛的友好合作，實(shí)現(xiàn)優(yōu)勢互補(bǔ)，雙贏共享，共創(chuàng)美好的未來。我們真誠的歡迎大家來電咨詢!全國免費(fèi)服務(wù)熱線：4006400998聯(lián)系我們:北京雅士林試驗設(shè)備有限公司北京市大興經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)金輔路2號（102600）電話:010-681768556817847768178583（總機(jī)）010-681735966821785587998778（直線）傳真:010-68174779E-mail:郵箱yashilin@bjyashilin.com[詳細(xì)]

  2018-09-15 10:00

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• GB_T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

  GB_T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫相應(yīng)試驗由中科美其（北京）科技有限公司試驗設(shè)備公司的高低溫試驗箱執(zhí)行。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

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• GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗A：_低溫

  GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗A：_低溫[詳細(xì)]

  2018-10-02 10:03

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• GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed:自由跌落

  GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed:自由跌落本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T2423.8-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗方法試驗Ed:自由跌落試驗方法》和GB2424.6-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程自由跌落試驗導(dǎo)則》[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T 2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫

  GB/T2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫免費(fèi)下載：http://www.bjlihui.com北京北方利輝試驗儀器設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab；恒定溫?zé)嵩囼?/a>

  GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab；恒定溫?zé)嵩囼灤鍳B/T2423.3-1993，GB/T2423.9-2001本部分規(guī)定了試驗的嚴(yán)酷等級，如高溫度、高濕度和持續(xù)時間等。本部分適用于散熱和非散熱樣品免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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