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GB/T 2423.1-2008_電工電子產品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫

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GB/T 2423.1-2008_電工電子產品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫

GB/T2423.1-2008_電工電子產品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫免費下載：http://www.bjlihui.com北京北方利輝試驗儀器設備有限公司[詳細]
2018-09-19 10:00
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GB_T_2423.1-2008_電工電子產品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫

GB_T_2423.1-2008_電工電子產品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫免費下載地方:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]
2018-09-29 10:01
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GB/T 2423.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗B：高溫

GB/T2423.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗B：高溫免費下載地址：北京北方利輝試驗設備有限公司是一家專業(yè)致力于試驗設備研發(fā)、生產、銷售與一體的高新技術企業(yè)，公司位于交通便利、工業(yè)繁華的北京市大興工業(yè)開發(fā)區(qū)。自成立以來,公司認真精細地完善每一步檢驗程序,嚴格要求產品的每一步工藝流程,追求的wan美品質。依托企業(yè)自身的人才、技術、資金為科研、軍事、航空、航天、電子、汽車、石油、化工、YL、通訊、各大院校等單位，提供符合GB、GJB、IEC、MIL、DIN等標準的各類環(huán)境試驗儀器及檢測設備,并可根據用戶的需求設計制造各類非標專業(yè)性設備。利輝堅持“以人為本,以科技為導向的原則”!用嚴格的管理手段及過硬的產品質量為廣大客戶提供Zyou質的試驗設備,關心客戶的切身利益,服務周到完善,為客戶的發(fā)展提供可靠的支持。秉承“品質成就品牌”的經營理念,一如既往地為廣大新老客戶提供Z專業(yè)優(yōu)質的試驗設備和服務,樹立利輝品牌。為方便廣大客戶提供全方位的的售前咨詢、售后服務，公司在上海、杭州、江蘇、武漢、深圳、安徽、河南均設有辦事處.利輝堅信;通過我們的合作與努力將達到我們共同的目標品質成就品牌!產品系列:鹽霧腐蝕試驗箱/二氧化硫試驗箱/高溫試驗箱/低溫試驗箱/恒溫試驗箱/恒溫恒濕試驗箱/高低溫試驗箱/交變高低溫濕熱試驗箱/溫度沖擊試驗箱/紫外光老化試驗箱/氙弧燈耐氣候試驗箱/臭氧老化試驗箱/換氣老化試驗箱/霉菌試驗箱/沙塵試驗箱/淋雨試驗箱/擺管淋雨試驗設備/滴水試驗設備/振動試驗機/高溫烘箱/真空干燥箱/精密干燥箱/二氧化碳培養(yǎng)箱/光照培養(yǎng)箱/生化培養(yǎng)箱/恒溫培養(yǎng)箱/電熱鼓風干燥箱/熱空氣消毒箱/防銹油脂試驗箱/大型鹽霧試驗室/大型低溫恒溫試驗室/大型高低溫檢測試驗室[詳細]
2018-09-19 10:00
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GB/T 2423.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A 低溫

GB/T2423.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫標準簡介本部分規(guī)定的低溫試驗適用非散熱和散熱試驗樣品。本部分代替GB/T2423.1-2001《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》，與之相比，主要變化如下：刪除了試驗Aa：非散熱試驗樣品溫度突變的低溫試驗；刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；增加了試驗Ae：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗試驗樣品在整個試驗過程通電。[詳細]
2018-09-13 10:00
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GB/T 2423.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫

GB/T2423.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫由中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局和ZG國家標準化管理委員會2008年12月30號發(fā)布，GB/T2423.1-2008等同于國際標準IEC60068-2-1:2007.代替了GB/T2423.1-2001標準。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。本低溫試驗的目的僅用來確定元件、設備或其他產品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力，不能用來評價試驗樣品耐溫度變化能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應采用GB/T2423.22。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗可使用武漢尚測試驗設備有限公司生產的低溫恒定濕熱試驗箱來模擬試驗的低溫環(huán)境。低溫恒定濕熱試驗箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。[詳細]
2018-10-08 10:00
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GB/T 2423.3-2006電工電子產品環(huán)境試驗_第2_部分試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗

GB/T2423.3-2006電工電子產品環(huán)境試驗_第2_部分試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗免費下載地址：http://www.bjlihui.com北京北方利輝試驗設備有限公司[詳細]
2018-09-19 10:00
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GB_T2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A 低溫

GB_T2423.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫相應試驗由中科美其（北京）科技有限公司試驗設備公司的高低溫試驗箱執(zhí)行。[詳細]
2018-09-05 10:00
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GBT2423.1-2008_電工電子產品環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗A：_低溫

GBT2423.1-2008_電工電子產品環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗A：_低溫[詳細]
2018-10-02 10:03
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GB/T 2423.4-2008電工電子產品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法試驗Db:交變濕熱（12h+12h循環(huán)）

GB/T2423.4-2008電工電子產品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法試驗Db:交變濕熱（12h+12h循環(huán)）免費下載地址：http://www.bjlihui.comE-mail:lihui@bjlihui.com北京北方利輝試驗設備有限公司[詳細]
2018-09-19 10:00
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GB/T2423.1-2008代替GB/T2423.1-2001電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A；低溫

GB/T2423.1-2008代替GB/T2423.1-2001電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A；低溫免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]
2018-09-29 10:01
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GB/T 2423.37-2006電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗L:沙塵試驗

GB/T2423.37-2006電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗L:沙塵試驗標準簡介本標準等同采用IEC60068-2-68：2001，本標準描述了沙塵試驗的基本結構，規(guī)定了確定空氣中懸浮的沙塵對產品的影響的試驗方法。替代情況：替代GB/T2423.37-1989[詳細]
2018-09-13 10:00
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GB/T 2423.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫

GB/T2423.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫標準簡介GB/T2423的本部分規(guī)定的高溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ｂｂ和試驗Ｂｄ與早期版本無實質上的差異１）。１）IEC60068-2-2:2007原文在句前有“對于非散熱試驗樣品”。本高溫試驗的目的于用來確定元件、設備或其他產品在高溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。本高溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應采用GB/T2423.22。本高溫試驗方法細分為以下幾種：非散熱試驗樣品高溫試驗：●　試驗Ｂｂ，溫度漸變。散熱試驗樣品高溫試驗：●　試驗Ｂｄ，溫度漸變；●　試驗Ｂｅ，溫度漸變，試驗樣品在整個試驗過程通電。本部分給出的試驗方法通常用于試驗期間能達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。[詳細]
2018-09-13 10:00
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電工電子產品環(huán)境試驗試驗方法低溫

本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ab和試驗Ad與早期版本無實質性的差異，增加試驗Ae的目的主要是檢測那些要求在整個試驗過程包括降溫調節(jié)期間都要通電運行的設備。本低溫試驗的目的于用來確定元件、設備或其他產品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。本低溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應采用GB/T2433.22。[詳細]
2018-10-13 10:00
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GB/T 2423.22-2002電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化

GB/T2423.22-2002電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化標準簡介：GB/T2423.22-2002電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化國家標準(GB)GB/T2423.22-2002溫度變化試驗適用于確定一次或連續(xù)多次溫度變化對試驗樣品的影響。本試驗不能用來考核僅由高溫或低溫所引起的影響，對這種影響，應使用高溫或低溫試驗方法。[詳細]
2018-09-13 10:00
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GB/T2423.8-1995電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed:自由跌落

GB/T2423.8-1995電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed:自由跌落本標準代替GB/T2423.8-81《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗方法試驗Ed:自由跌落試驗方法》和GB2424.6-81《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程自由跌落試驗導則》[詳細]
2018-09-19 10:00
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GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱方法下載

GB/T2423.3-2006電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱方法下載免費下載地址：http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]
2018-09-29 10:02
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GB/T 2424.14-1995代替GB 2424.14-81電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法太陽

GB/T2424.14-1995代替GB2424.14-81電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導則本標準等同采用國際電工委員會標準IEC68-2-9《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導則》1975版。本標準介紹地面太陽輻射對設備和元件影響的模擬方法。擬環(huán)境的主要特性是地面上所觀測的太陽光譜能量分布和與控制溫度條件綜合吸收能量的強度。[詳細]
2018-09-29 10:01
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GB/T2423.3-2006電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab；恒定溫熱試驗

GB/T2423.3-2006電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab；恒定溫熱試驗代替GB/T2423.3-1993，GB/T2423.9-2001本部分規(guī)定了試驗的嚴酷等級，如高溫度、高濕度和持續(xù)時間等。本部分適用于散熱和非散熱樣品免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]
2018-09-29 10:01
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GB-T2423.25-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z／AM：低溫／低氣壓綜合試驗

GB-T2423.25-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z／AM：低溫／低氣壓綜合試驗免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]
2018-09-29 10:01
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GB/T 2423.34-2005電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)試驗

GB/T2423.34-2005電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)試驗標準簡介本部分是GB/T2423《電工電子產品環(huán)境試驗》的一部分。本部分等同采用IEc60068-2-38：1974《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗》(英文版)。本部分技術內容與IEC、60068-2-38：1974《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗》(英文版)相同，編寫格式與表達方式符合GB/T1.1?2000和GB/T20000.2?2001的有關規(guī)定。[詳細]
2018-09-13 10:00
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