本文由 上海科學(xué)儀器有限公司 整理匯編

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• GB2423.34-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合 循環(huán)試驗(yàn)方法

  GB2423.34-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-38（1974年、**版）試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法本標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)與下述標(biāo)準(zhǔn)一起使用：GB2421-81[電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則]GB2422-81[電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程名詞術(shù)語(yǔ)]GB242。.2-81[電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則]本標(biāo)準(zhǔn)主要適用于元器件的溫度/濕度組合試驗(yàn)，目的是用加速的方法來(lái)確定試驗(yàn)樣品耐受高溫高濕和低溫劣化作用的能力。[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GBT 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)ZAD溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法

  GBT 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)ZAD溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2014-05-05 00:00

  課件

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• GBT 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)ZAD溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法.pdf

  GBT 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)ZAD溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法.pdf[詳細(xì)]

  2015-04-27 00:00

  期刊論文

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• GB2423.34電工電子產(chǎn)品溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法

  GB2423.34電工電子產(chǎn)品溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法引言本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-38《試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)》。本標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)與下述標(biāo)準(zhǔn)一起使用：GB2421-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則》GB2422-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程名詞術(shù)語(yǔ)》GB2424.2-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則》本標(biāo)準(zhǔn)主要適用于元器件的溫度/濕度組合試驗(yàn)，目的是用加速的方法來(lái)確定試驗(yàn)樣品耐受高溫高濕和低溫劣化作用的能力。采用本標(biāo)準(zhǔn)時(shí)應(yīng)規(guī)定的細(xì)則a.條件試驗(yàn)期間試驗(yàn)樣品的狀態(tài)（例如電氣，機(jī)械負(fù)載或極化電壓）；b.與“干燥的標(biāo)準(zhǔn)條件"不同的預(yù)處理程序；c.與正常的試驗(yàn)大氣條件不同的初始檢測(cè)條件；d.條件試驗(yàn)前必須進(jìn)行的電性能和機(jī)械性能檢測(cè)；e.如果需要，條件試驗(yàn)期間進(jìn)行的電性能和機(jī)械性能檢測(cè)及檢測(cè)的時(shí)間；f.條件試驗(yàn)后進(jìn)行的電性能和機(jī)械性能檢測(cè)，首先檢測(cè)參數(shù)，以及與本標(biāo)準(zhǔn)不同的完成這些參數(shù)檢測(cè)的時(shí)間。[詳細(xì)]

  2018-10-11 10:00

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• GB-T2423.34-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)

  GB-T2423.34-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法

  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2024-09-17 01:54

  其它

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• GB-T2423.30-1999電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程：試驗(yàn)方法試驗(yàn)XA

  GB-T2423.30-1999電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程：試驗(yàn)方法試驗(yàn)XA：和導(dǎo)則在清洗劑中浸漬免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ee彈跳試驗(yàn)方法

  GBT2423.39-1990電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ee彈跳試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2018-10-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T 2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)試驗(yàn)

  GB/T2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介本部分是GB/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》的一部分。本部分等同采用IEc60068-2-38：1974《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)》(英文版)。本部分技術(shù)內(nèi)容與IEC、60068-2-38：1974《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)》(英文版)相同，編寫格式與表達(dá)方式符合GB/T1.1?2000和GB/T20000.2?2001的有關(guān)規(guī)定。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T 2423-34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ZAD 溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)

  GB/T2423-34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)ZAD溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)。GB/T2423-34-2005第4試驗(yàn)設(shè)備的說明規(guī)定試驗(yàn)樣品暴露于濕熱后，接著暴露于低溫，兩種暴露可在一個(gè)試驗(yàn)箱或兩個(gè)試驗(yàn)箱內(nèi)進(jìn)行。若采用一個(gè)試驗(yàn)箱，則可以使用高低溫濕熱交變?cè)囼?yàn)箱進(jìn)行試驗(yàn)，若需要更惡劣的試驗(yàn)環(huán)境，則可以使用高低溫沖擊試驗(yàn)箱模擬極惡劣環(huán)境。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N溫度變化試驗(yàn)方法

  GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N溫度變化試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2014-05-21 00:00

  安裝說明

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• GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N溫度變化試驗(yàn)方法

  GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N溫度變化試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2014-05-13 00:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N溫度變化試驗(yàn)方法

  GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N溫度變化試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2014-05-08 00:00

  專利

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• GB 2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N溫度變化試驗(yàn)方法

  GB2423.22-87電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N溫度變化試驗(yàn)方法由東莞市皓天試驗(yàn)設(shè)備有限公司同仁發(fā)布，僅供參考。[詳細(xì)]

  2018-10-23 10:31

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• GB2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) A 低溫試驗(yàn)方法

  GB2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2018-10-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB2423.21-1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法

  GB2423.21-1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品低氣壓試驗(yàn)方法的嚴(yán)酷等級(jí)、預(yù)處理、初始測(cè)量、條件試驗(yàn)、恢復(fù)和Z后測(cè)量。本標(biāo)準(zhǔn)適用于室溫條件下的低氣壓試驗(yàn)。主要用來(lái)確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運(yùn)輸或使用的適應(yīng)性。[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N溫度變化試驗(yàn)方法.pdf

  GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N溫度變化試驗(yàn)方法.pdf[詳細(xì)]

  2015-03-13 00:00

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• GB/T2423.34試驗(yàn):溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法

  GB/T2423.34-電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法上海覽浩儀器設(shè)備有限公司電話：021-59788381傳真：021-39651412更多產(chǎn)品信息請(qǐng)瀏覽：[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

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• GB2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) A 低溫試驗(yàn)方法.pdf

  GB2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) A 低溫試驗(yàn)方法.pdf[詳細(xì)]

  2015-01-05 00:00

  期刊論文

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• GBT 2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 風(fēng)壓試驗(yàn)方法

  GBT 2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 風(fēng)壓試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2014-06-28 00:00

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