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• GB-T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化

  GB-T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GB_T2423.22-2002（IEC60068-2-14-1984）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗N 溫度變化試驗

  GB_T2423.22-2002（IEC60068-2-14-1984）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗N溫度變化試驗本試驗可由中科美其（北京）科技有限公司試驗設備有限公司提供的高低溫交變試驗箱或高低溫交變濕熱試驗箱來執(zhí)行。[詳細]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化

  GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化標準簡介：GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化國家標準(GB)GB/T2423.22-2002溫度變化試驗適用于確定一次或連續(xù)多次溫度變化對試驗樣品的影響。本試驗不能用來考核僅由高溫或低溫所引起的影響，對這種影響，應使用高溫或低溫試驗方法。[詳細]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB-T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分

  GB-T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化免費下載地址:http://www.bjlihui.com[詳細]

  2018-10-25 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化

  GB/T2423.22-2012環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化標準簡介GB/T2423的本部分規(guī)定的試驗用來確定元器件、設備或其他產(chǎn)品耐受環(huán)境溫度快速變化的能力。實現(xiàn)這一目的所需的各溫度下的暴露持續(xù)時間取決于試驗樣品的特性。替代情況：替代GB/T2423.22-2002;GB/T2424.13-2002[詳細]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB_T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

  GB_T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫相應試驗由中科美其（北京）科技有限公司試驗設備公司的高低溫試驗箱執(zhí)行。[詳細]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗A：_低溫

  GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗A：_低溫[詳細]

  2018-10-02 10:03

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N溫度變化試驗方法

  GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N溫度變化試驗方法[詳細]

  2014-05-21 00:00

  安裝說明

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• GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N溫度變化試驗方法

  GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N溫度變化試驗方法[詳細]

  2014-05-13 00:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N溫度變化試驗方法

  GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N溫度變化試驗方法[詳細]

  2014-05-08 00:00

  專利

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• GB 2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N溫度變化試驗方法

  GB2423.22-87電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N溫度變化試驗方法由東莞市皓天試驗設備有限公司同仁發(fā)布，僅供參考。[詳細]

  2018-10-23 10:31

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分_試驗方法_試驗Cab_恒定濕

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分_試驗方法_試驗Cab_恒定濕[詳細]

  2011-07-19 00:00

  安裝說明

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• GB_T2423.21-2008_電工電子產(chǎn)品_環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗M：低氣壓

  GB_T2423.21-2008_電工電子產(chǎn)品_環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗M：低氣壓本試驗可由中科美其（北京）科技有限公司試驗設備有限公司提供的低氣壓高低溫試驗箱來執(zhí)行。[詳細]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB-T2423.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗M：低氣壓

  GB-T2423.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗M：低氣壓免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N溫度變化試驗方法.pdf

  GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N溫度變化試驗方法.pdf[詳細]

  2015-03-13 00:00

  課件

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• GB_T2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ka：鹽霧

  GB_T2423.17-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ka：鹽霧本試驗可由中科美其（北京）科技有限公司試驗設備有限公司提供的智能型全自動鹽霧試驗箱來執(zhí)行。[詳細]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫標準簡介本部分規(guī)定的低溫試驗適用非散熱和散熱試驗樣品。本部分代替GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》，與之相比，主要變化如下：刪除了試驗Aa：非散熱試驗樣品溫度突變的低溫試驗；刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；增加了試驗Ae：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗試驗樣品在整個試驗過程通電。[詳細]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed:自由跌落

  GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed:自由跌落本標準代替GB/T2423.8-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗方法試驗Ed:自由跌落試驗方法》和GB2424.6-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程自由跌落試驗導則》[詳細]

  2018-09-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB-T2423.17-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ka：鹽霧

  GB-T2423.17-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ka：鹽霧免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫由中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局和ZG國家標準化管理委員會2008年12月30號發(fā)布，GB/T2423.1-2008等同于國際標準IEC60068-2-1:2007.代替了GB/T2423.1-2001標準。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。本低溫試驗的目的僅用來確定元件、設備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力，不能用來評價試驗樣品耐溫度變化能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應采用GB/T2423.22。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗可使用武漢尚測試驗設備有限公司生產(chǎn)的低溫恒定濕熱試驗箱來模擬試驗的低溫環(huán)境。低溫恒定濕熱試驗箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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