本文由 東莞市貝爾試驗設(shè)備有限公司 整理匯編

2018-09-13 10:00 725閱讀次數(shù)

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• GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化

  GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化標(biāo)準簡介：GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化國家標(biāo)準(GB)GB/T2423.22-2002溫度變化試驗適用于確定一次或連續(xù)多次溫度變化對試驗樣品的影響。本試驗不能用來考核僅由高溫或低溫所引起的影響，對這種影響，應(yīng)使用高溫或低溫試驗方法。[詳細]

  2018-09-13 10:00

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• GB-T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化

  GB-T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化

  GB/T2423.22-2012環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化標(biāo)準簡介GB/T2423的本部分規(guī)定的試驗用來確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品耐受環(huán)境溫度快速變化的能力。實現(xiàn)這一目的所需的各溫度下的暴露持續(xù)時間取決于試驗樣品的特性。替代情況：替代GB/T2423.22-2002;GB/T2424.13-2002[詳細]

  2018-09-13 10:00

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• GB_T2423.22-2002（IEC60068-2-14-1984）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗N 溫度變化試驗

  GB_T2423.22-2002（IEC60068-2-14-1984）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗N溫度變化試驗本試驗可由中科美其（北京）科技有限公司試驗設(shè)備有限公司提供的高低溫交變試驗箱或高低溫交變濕熱試驗箱來執(zhí)行。[詳細]

  2018-09-05 10:00

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫標(biāo)準簡介本部分規(guī)定的低溫試驗適用非散熱和散熱試驗樣品。本部分代替GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》，與之相比，主要變化如下：刪除了試驗Aa：非散熱試驗樣品溫度突變的低溫試驗；刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；增加了試驗Ae：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗試驗樣品在整個試驗過程通電。[詳細]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫由中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局和ZG國家標(biāo)準化管理委員會2008年12月30號發(fā)布，GB/T2423.1-2008等同于國際標(biāo)準IEC60068-2-1:2007.代替了GB/T2423.1-2001標(biāo)準。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。本低溫試驗的目的僅用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力，不能用來評價試驗樣品耐溫度變化能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗可使用武漢尚測試驗設(shè)備有限公司生產(chǎn)的低溫恒定濕熱試驗箱來模擬試驗的低溫環(huán)境。低溫恒定濕熱試驗箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB 2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N溫度變化試驗方法

  GB2423.22-87電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N溫度變化試驗方法由東莞市皓天試驗設(shè)備有限公司同仁發(fā)布，僅供參考。[詳細]

  2018-10-23 10:31

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• GB/T 2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗L:沙塵試驗

  GB/T2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗L:沙塵試驗標(biāo)準簡介本標(biāo)準等同采用IEC60068-2-68：2001，本標(biāo)準描述了沙塵試驗的基本結(jié)構(gòu)，規(guī)定了確定空氣中懸浮的沙塵對產(chǎn)品的影響的試驗方法。替代情況：替代GB/T2423.37-1989[詳細]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

  GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫標(biāo)準簡介GB/T2423的本部分規(guī)定的高溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ｂｂ和試驗Ｂｄ與早期版本無實質(zhì)上的差異１）。１）IEC60068-2-2:2007原文在句前有“對于非散熱試驗樣品”。本高溫試驗的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。本高溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。本高溫試驗方法細分為以下幾種：非散熱試驗樣品高溫試驗：●　試驗Ｂｂ，溫度漸變。散熱試驗樣品高溫試驗：●　試驗Ｂｄ，溫度漸變；●　試驗Ｂｅ，溫度漸變，試驗樣品在整個試驗過程通電。本部分給出的試驗方法通常用于試驗期間能達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。[詳細]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)試驗

  GB/T2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)試驗標(biāo)準簡介本部分是GB/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》的一部分。本部分等同采用IEc60068-2-38：1974《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗》(英文版)。本部分技術(shù)內(nèi)容與IEC、60068-2-38：1974《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗》(英文版)相同，編寫格式與表達方式符合GB/T1.1?2000和GB/T20000.2?2001的有關(guān)規(guī)定。[詳細]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423-34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法 試驗ZAD 溫度濕度組合循環(huán)試驗

  GB/T2423-34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗ZAD溫度濕度組合循環(huán)試驗。GB/T2423-34-2005第4試驗設(shè)備的說明規(guī)定試驗樣品暴露于濕熱后，接著暴露于低溫，兩種暴露可在一個試驗箱或兩個試驗箱內(nèi)進行。若采用一個試驗箱，則可以使用高低溫濕熱交變試驗箱進行試驗，若需要更惡劣的試驗環(huán)境，則可以使用高低溫沖擊試驗箱模擬極惡劣環(huán)境。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed:自由跌落

  GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed:自由跌落本標(biāo)準代替GB/T2423.8-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗方法試驗Ed:自由跌落試驗方法》和GB2424.6-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程自由跌落試驗導(dǎo)則》[詳細]

  2018-09-19 10:00

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• GB_T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

  GB_T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫相應(yīng)試驗由中科美其（北京）科技有限公司試驗設(shè)備公司的高低溫試驗箱執(zhí)行。[詳細]

  2018-09-05 10:00

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• GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗A：_低溫

  GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗A：_低溫[詳細]

  2018-10-02 10:03

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• GB/T 2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫

  GB/T2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫免費下載：http://www.bjlihui.com北京北方利輝試驗儀器設(shè)備有限公司[詳細]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T2423.14-電工電子產(chǎn)品 第2部分 試驗方法

  GB/T2423.14-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Fdc寬頻帶隨機振動低再現(xiàn)性上海覽浩儀器設(shè)備有限公司021-59788381[詳細]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N溫度變化試驗方法

  GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N溫度變化試驗方法[詳細]

  2014-05-21 00:00

  安裝說明

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• GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N溫度變化試驗方法

  GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N溫度變化試驗方法[詳細]

  2014-05-13 00:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N溫度變化試驗方法

  GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N溫度變化試驗方法[詳細]

  2014-05-08 00:00

  專利

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• GB/T 2424.14-1995代替GB 2424.14-81電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法太陽

  GB/T2424.14-1995代替GB2424.14-81電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導(dǎo)則本標(biāo)準等同采用國際電工委員會標(biāo)準IEC68-2-9《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導(dǎo)則》1975版。本標(biāo)準介紹地面太陽輻射對設(shè)備和元件影響的模擬方法。擬環(huán)境的主要特性是地面上所觀測的太陽光譜能量分布和與控制溫度條件綜合吸收能量的強度。[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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