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GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫
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GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫標(biāo)準(zhǔn)簡介本部分規(guī)定的低溫試驗適用非散熱和散熱試驗樣品。本部分代替GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》，與之相比，主要變化如下：刪除了試驗Aa：非散熱試驗樣品溫度突變的低溫試驗；刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；增加了試驗Ae：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗試驗樣品在整個試驗過程通電。
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GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫- GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫標(biāo)準(zhǔn)簡介本部分規(guī)定的低溫試驗適用非散熱和散熱試驗樣品。本部分代替GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》，與之相比，主要變化如下：刪除了試驗Aa：非散熱試驗樣品溫度突變的低溫試驗；刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；增加了試驗Ae：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗試驗樣品在整個試驗過程通電。[詳細(xì)]
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2018-09-13 10:00
產(chǎn)品樣冊
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- GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
- GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫由中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局和ZG國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會2008年12月30號發(fā)布，GB/T2423.1-2008等同于國際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-1:2007.代替了GB/T2423.1-2001標(biāo)準(zhǔn)。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。本低溫試驗的目的僅用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力，不能用來評價試驗樣品耐溫度變化能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗可使用武漢尚測試驗設(shè)備有限公司生產(chǎn)的低溫恒定濕熱試驗箱來模擬試驗的低溫環(huán)境。低溫恒定濕熱試驗箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。[詳細(xì)]
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2018-10-08 10:00
產(chǎn)品樣冊
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- GB_T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫
- GB_T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫相應(yīng)試驗由中科美其（北京）科技有限公司試驗設(shè)備公司的高低溫試驗箱執(zhí)行。[詳細(xì)]
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2018-09-05 10:00
產(chǎn)品樣冊
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- GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗A：_低溫
- GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗A：_低溫[詳細(xì)]
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2018-10-02 10:03
產(chǎn)品樣冊
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- GB/T 2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫
- GB/T2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫免費下載：http://www.bjlihui.com北京北方利輝試驗儀器設(shè)備有限公司[詳細(xì)]
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2018-09-19 10:00
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- GB/T2423.1-2008代替GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A；低溫
- GB/T2423.1-2008代替GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A；低溫免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]
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2018-09-29 10:01
產(chǎn)品樣冊
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- GB/T 2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗L:沙塵試驗
- GB/T2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗L:沙塵試驗標(biāo)準(zhǔn)簡介本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC60068-2-68：2001，本標(biāo)準(zhǔn)描述了沙塵試驗的基本結(jié)構(gòu)，規(guī)定了確定空氣中懸浮的沙塵對產(chǎn)品的影響的試驗方法。替代情況：替代GB/T2423.37-1989[詳細(xì)]
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2018-09-13 10:00
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- GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
- GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫標(biāo)準(zhǔn)簡介GB/T2423的本部分規(guī)定的高溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ｂｂ和試驗Ｂｄ與早期版本無實質(zhì)上的差異１）。１）IEC60068-2-2:2007原文在句前有“對于非散熱試驗樣品”。本高溫試驗的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。本高溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。本高溫試驗方法細(xì)分為以下幾種：非散熱試驗樣品高溫試驗：● 試驗Ｂｂ，溫度漸變。散熱試驗樣品高溫試驗：● 試驗Ｂｄ，溫度漸變；● 試驗Ｂｅ，溫度漸變，試驗樣品在整個試驗過程通電。本部分給出的試驗方法通常用于試驗期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。[詳細(xì)]
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2018-09-13 10:00
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- GB_T_2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫
- GB_T_2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫免費下載地方:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]
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2018-09-29 10:01
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- GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化
- GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化標(biāo)準(zhǔn)簡介：GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化國家標(biāo)準(zhǔn)(GB)GB/T2423.22-2002溫度變化試驗適用于確定一次或連續(xù)多次溫度變化對試驗樣品的影響。本試驗不能用來考核僅由高溫或低溫所引起的影響，對這種影響，應(yīng)使用高溫或低溫試驗方法。[詳細(xì)]
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2018-09-13 10:00
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- GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed:自由跌落
- GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed:自由跌落本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T2423.8-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗方法試驗Ed:自由跌落試驗方法》和GB2424.6-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程自由跌落試驗導(dǎo)則》[詳細(xì)]
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2018-09-19 10:00
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- GB/T2423.14-電工電子產(chǎn)品 第2部分 試驗方法
- GB/T2423.14-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Fdc寬頻帶隨機(jī)振動低再現(xiàn)性上海覽浩儀器設(shè)備有限公司021-59788381[詳細(xì)]
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2018-09-03 10:00
產(chǎn)品樣冊
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- GB/T 2424.14-1995代替GB 2424.14-81電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法太陽
- GB/T2424.14-1995代替GB2424.14-81電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導(dǎo)則本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-9《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導(dǎo)則》1975版。本標(biāo)準(zhǔn)介紹地面太陽輻射對設(shè)備和元件影響的模擬方法。擬環(huán)境的主要特性是地面上所觀測的太陽光譜能量分布和與控制溫度條件綜合吸收能量的強(qiáng)度。[詳細(xì)]
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2018-09-29 10:01
產(chǎn)品樣冊
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- GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab；恒定溫?zé)嵩囼?/a>
- GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab；恒定溫?zé)嵩囼灤鍳B/T2423.3-1993，GB/T2423.9-2001本部分規(guī)定了試驗的嚴(yán)酷等級，如高溫度、高濕度和持續(xù)時間等。本部分適用于散熱和非散熱樣品免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]
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2018-09-29 10:01
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- GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱方法 下載
- GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱方法下載免費下載地址：http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]
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2018-09-29 10:02
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- GB/T2423.50-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分；試驗方法 試驗Cy：恒定濕熱
- GB/T2423.50-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分；試驗方法試驗Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了一種以加速方式評價小型電工電子產(chǎn)品，主要是非氣密元件耐濕熱劣化效應(yīng)的試驗方法本試驗不適用于評價諸如腐蝕和變形等外部效應(yīng)免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]
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2018-09-29 10:01
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GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗- GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗/濕熱老化試驗/高低溫濕熱試驗/高溫高濕試驗-KOWIN科文恒溫恒濕試驗箱1.GB/T2423的本部分適用于確定電工電子產(chǎn)品、元件或設(shè)備在高濕度的條件下使用、貯存和運輸時的適應(yīng)性。本部分規(guī)定了試驗的嚴(yán)酷等級，如高溫度，高濕度和持續(xù)時間等。本部分適用于散熱和非散熱樣品。本部分適用于小型設(shè)備及元件，同時也適用于與恒溫恒濕試驗箱外的測試裝置有復(fù)雜聯(lián)接的大型設(shè)備，這種聯(lián)接需要一定的裝配時間。在安裝期間，可以不用預(yù)熱或維持特定的試驗條件。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件，其Zxin版本適用于本部分。GB/T2421-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第1部分：總則（idtIEC60068-1:1988)GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫試驗（idtIEC60068-2-2:1974)3.概述：在本試驗中，將樣品置于同為試驗室溫度的濕熱老化試驗箱內(nèi)。試驗箱內(nèi)的條件應(yīng)符合第5章所規(guī)定的嚴(yán)酷等級，并持續(xù)到規(guī)定的時間。由于散熱樣品的影響，可能引起高低溫濕熱老化試驗箱內(nèi)的溫度和濕度條件與規(guī)定的試驗條件不同，則這兩個參數(shù)的測量應(yīng)按自由空氣條件的測量方法進(jìn)行測量（參見GB/T2421-1999中的4.4及4.6.2).“GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗”標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)內(nèi)容請點擊上方“”免費獲取，無需注冊，即點即下載。[詳細(xì)]
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2018-10-11 10:00
產(chǎn)品樣冊
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- GB-T2423.25-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z／AM：低溫／低氣壓綜合試驗
- GB-T2423.25-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z／AM：低溫／低氣壓綜合試驗免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]
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2018-09-29 10:01
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- GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗B：高溫
- GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗B：高溫免費下載地址：北京北方利輝試驗設(shè)備有限公司是一家專業(yè)致力于試驗設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)、銷售與一體的高新技術(shù)企業(yè)，公司位于交通便利、工業(yè)繁華的北京市大興工業(yè)開發(fā)區(qū)。自成立以來,公司認(rèn)真精細(xì)地完善每一步檢驗程序,嚴(yán)格要求產(chǎn)品的每一步工藝流程,追求的wan美品質(zhì)。依托企業(yè)自身的人才、技術(shù)、資金為科研、軍事、航空、航天、電子、汽車、石油、化工、YL、通訊、各大院校等單位，提供符合GB、GJB、IEC、MIL、DIN等標(biāo)準(zhǔn)的各類環(huán)境試驗儀器及檢測設(shè)備,并可根據(jù)用戶的需求設(shè)計制造各類非標(biāo)專業(yè)性設(shè)備。利輝堅持“以人為本,以科技為導(dǎo)向的原則”!用嚴(yán)格的管理手段及過硬的產(chǎn)品質(zhì)量為廣大客戶提供Zyou質(zhì)的試驗設(shè)備,關(guān)心客戶的切身利益,服務(wù)周到完善,為客戶的發(fā)展提供可靠的支持。秉承“品質(zhì)成就品牌”的經(jīng)營理念,一如既往地為廣大新老客戶提供Z專業(yè)優(yōu)質(zhì)的試驗設(shè)備和服務(wù),樹立利輝品牌。為方便廣大客戶提供全方位的的售前咨詢、售后服務(wù)，公司在上海、杭州、江蘇、武漢、深圳、安徽、河南均設(shè)有辦事處.利輝堅信;通過我們的合作與努力將達(dá)到我們共同的目標(biāo)品質(zhì)成就品牌!產(chǎn)品系列:鹽霧腐蝕試驗箱/二氧化硫試驗箱/高溫試驗箱/低溫試驗箱/恒溫試驗箱/恒溫恒濕試驗箱/高低溫試驗箱/交變高低溫濕熱試驗箱/溫度沖擊試驗箱/紫外光老化試驗箱/氙弧燈耐氣候試驗箱/臭氧老化試驗箱/換氣老化試驗箱/霉菌試驗箱/沙塵試驗箱/淋雨試驗箱/擺管淋雨試驗設(shè)備/滴水試驗設(shè)備/振動試驗機(jī)/高溫烘箱/真空干燥箱/精密干燥箱/二氧化碳培養(yǎng)箱/光照培養(yǎng)箱/生化培養(yǎng)箱/恒溫培養(yǎng)箱/電熱鼓風(fēng)干燥箱/熱空氣消毒箱/防銹油脂試驗箱/大型鹽霧試驗室/大型低溫恒溫試驗室/大型高低溫檢測試驗室[詳細(xì)]
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2018-09-19 10:00
產(chǎn)品樣冊
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- 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分_試驗方法_試驗Cab_恒定濕
- 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分_試驗方法_試驗Cab_恒定濕[詳細(xì)]
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2011-07-19 00:00
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