本文由 上?？茖W(xué)儀器有限公司 整理匯編

2018-09-29 10:01 1129閱讀次數(shù)

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• GB-T2423.34-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)

  GB-T2423.34-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZAD溫度濕度組合循環(huán)試驗方法

  GBT 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZAD溫度濕度組合循環(huán)試驗方法[詳細]

  2014-05-05 00:00

  課件

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• GB2423.34-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AD:溫度/濕度組合 循環(huán)試驗方法

  GB2423.34-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法本標準等同采用國際標準IEC68-2-38（1974年、**版）試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法本標準應(yīng)與下述標準一起使用：GB2421-81[電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則]GB2422-81[電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程名詞術(shù)語]GB242。.2-81[電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程濕熱試驗導(dǎo)則]本標準主要適用于元器件的溫度/濕度組合試驗，目的是用加速的方法來確定試驗樣品耐受高溫高濕和低溫劣化作用的能力。[詳細]

  2018-09-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB2423.34電工電子產(chǎn)品溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法

  GB2423.34電工電子產(chǎn)品溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法引言本標準等同采用國際標準IEC68-2-38《試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗》。本標準應(yīng)與下述標準一起使用：GB2421-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則》GB2422-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程名詞術(shù)語》GB2424.2-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程濕熱試驗導(dǎo)則》本標準主要適用于元器件的溫度/濕度組合試驗，目的是用加速的方法來確定試驗樣品耐受高溫高濕和低溫劣化作用的能力。采用本標準時應(yīng)規(guī)定的細則a.條件試驗期間試驗樣品的狀態(tài)（例如電氣，機械負載或極化電壓）；b.與“干燥的標準條件"不同的預(yù)處理程序；c.與正常的試驗大氣條件不同的初始檢測條件；d.條件試驗前必須進行的電性能和機械性能檢測；e.如果需要，條件試驗期間進行的電性能和機械性能檢測及檢測的時間；f.條件試驗后進行的電性能和機械性能檢測，首先檢測參數(shù)，以及與本標準不同的完成這些參數(shù)檢測的時間。[詳細]

  2018-10-11 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)試驗

  GB/T2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)試驗標準簡介本部分是GB/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》的一部分。本部分等同采用IEc60068-2-38：1974《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗》(英文版)。本部分技術(shù)內(nèi)容與IEC、60068-2-38：1974《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗》(英文版)相同，編寫格式與表達方式符合GB/T1.1?2000和GB/T20000.2?2001的有關(guān)規(guī)定。[詳細]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZAD溫度濕度組合循環(huán)試驗方法.pdf

  GBT 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZAD溫度濕度組合循環(huán)試驗方法.pdf[詳細]

  2015-04-27 00:00

  期刊論文

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• GB/T2423.34-2005試驗Z-AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗--上海林頻

  上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地之一的閔行經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)。是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)?，F(xiàn)已發(fā)展成為國內(nèi)環(huán)境試驗設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)之一。公司生產(chǎn)各類環(huán)境試驗設(shè)備:鹽霧箱,高低溫箱,恒溫恒濕箱,高溫箱,低溫箱,高低溫交變濕熱箱,干燥箱,真空干燥箱,溫度沖擊箱,藥品穩(wěn)定箱,臭氧老化試驗箱,紫外耐候試驗箱,氙燈耐氣候試驗箱,換氣式老化試驗箱,砂塵試驗箱,箱式淋雨試驗箱,擺管淋雨試驗裝置,滴水試驗裝置,二氧化硫試驗箱,霉菌試驗箱,防銹油脂濕熱試驗箱,鹽霧試驗室,大型步入式試驗箱,溫度老化試驗室,溫濕度振動試驗箱,溫度快速變化試驗箱,單翼跌落試驗機,振動試驗設(shè)備.同時我廠還可以根據(jù)客戶需要設(shè)計非標產(chǎn)品，歡迎廣大新老客戶前來公司洽談、指導(dǎo)!以上產(chǎn)品我司均嚴格按照行業(yè)標準及相關(guān)國家標準制造,符合的標準有:GB/T2423.17-2008、GB/T2423.18-2000《電工電子產(chǎn)品基本規(guī)程試驗Ka》，鹽霧試驗方法及GB/T10125-1997、GB/T10587-2006、GB10593.2-1990、GB/T1765-1979、GB/T1771-2007、GB/T12967.3-2008、GB/T5170.8-2008以及等效的IEC、GB/T2423.1-2008、GB/T2423.2-2008、GB/T5170.5-2008、GB/T10586-2006、GB/T2423.1-2008試驗A、GB/T2423.2-2008試驗B、GB/T2423.3-2006試驗Ca、GB/T2423.4-2008試驗Db、MIL、DIN、ASTM、GB/T16422.2-1999、（GB/T1865-2009、GB/T2423.24-1995、ASTMG155、ISO10SB02/B04、SAEJ2527、SAEJ2412）、GB/T4942.2-1993及外殼防護等級（IP代碼）GB4208-2008、GB/T10485-2007、GB/T7762-2003、GB/T2951.21-200、GB/T14522-2008、GB/T16422.3-1997、GB/T16585-96等相關(guān)標準，祥情請瀏覽：http://www.linpin.com.cn[詳細]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度_濕度試驗箱性能確認

  GB_T2424.6-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度_濕度試驗箱性能確認[詳細]

  2018-10-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度 濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備

  GBT5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度 濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備[詳細]

  2013-11-16 00:00

  報價單

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• GB 5170.18-1987 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度 濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備

  中華人民共和國國家標準：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法【溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備方法】本標準（GB5170.18-1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度、濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備）規(guī)定了按GB2423.34-86《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗方法試驗Z/AD:濕度/濕度組合循環(huán)試驗方法》進行溫度/濕度組合循環(huán)試驗時所用試驗設(shè)備（以下簡稱設(shè)備）基本參數(shù)的檢定方法。溫度/濕度組合循環(huán)試驗在同一試驗箱內(nèi)進行時（以下簡稱一箱法），應(yīng)符合本標準的所有規(guī)定;溫度/濕度組合循環(huán)試驗在一個獨立試驗箱進行時（以下簡稱二箱法），濕熱試驗箱應(yīng)符合本標準所有規(guī)定;低溫試驗箱應(yīng)符合GB5170.2-85《電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫試驗設(shè)備》的規(guī)定。本標準與GB5170.1-85《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則》一起使用。上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地閔行經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)，是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)。歷經(jīng)市場洗禮和多年的拼搏積淀，林頻儀器現(xiàn)已發(fā)展成為環(huán)境試驗設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)之一。公司專業(yè)生產(chǎn)各類環(huán)境試驗設(shè)備：高低溫低氣壓試驗箱、液氮深冷低溫箱、CASS交變鹽霧箱、高低溫沖擊試驗箱、太陽能光伏組件濕凍試驗設(shè)備、溫度老化試驗室及各類非標產(chǎn)品,“林頻”生產(chǎn)的試驗設(shè)備可滿足GB、GJB、MIL、DIL、IEC等各行業(yè)各國家的標準，關(guān)于產(chǎn)品細節(jié)請致電021-34098999，如果您需要下載相關(guān)標準或產(chǎn)品技術(shù)資料，請登陸：http://www.linpin.com.cn！[詳細]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度 濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備

  標準編號:GB/T5170.18-2005中文標準名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備代替標準號:GB/T5170.18-1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備,標準簡介:本部分規(guī)定了溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備在進行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點數(shù)量及位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。本部分適用于GB/T2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法》所用試驗設(shè)備的周期檢定。溫度/濕度組合循環(huán)試驗在同一試驗箱內(nèi)進行時,應(yīng)符合本部分的所有規(guī)定;溫度/濕度組合循環(huán)試驗在兩個獨立試驗箱進行時,溫?zé)嵩囼炏鋺?yīng)符合本部分所有規(guī)定;低溫試驗箱應(yīng)符合GB/T5170.2-1996《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備》的規(guī)定。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的周期檢定。國際標準分類號:19.080ZG標準分類號:K04標準狀態(tài):現(xiàn)行標準前言:本部分是GB/T5170《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》的一個部分。本部分是對GB/T5170.18-1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備的修訂,與GB/T5170.18-1987相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:-明確本部分適用于環(huán)境試驗設(shè)備在使用期間的周期檢定,以區(qū)別產(chǎn)品的型式檢驗、出廠檢驗等;-增加了規(guī)范性引用文件一章;-在檢定項目中,刪除了工作室內(nèi)壁與工作空間溫差和工作室內(nèi)壁輻射系數(shù)兩個項目;-在檢定用主要儀器及要求一章中,給出了儀器的擴展不確定度（k=2）的要求;-增加了檢定條件一章;-對于溫度測量點數(shù)量,設(shè)備的工作空間容積由以1m,分界改為以2m分界,對于大于2m的設(shè)備,溫度和風(fēng)速的測量點由21點減少為15點;-周期檢定試驗設(shè)備時,溫度偏差、相對濕度偏差的測量時間縮短為30min;-在數(shù)據(jù)處理與檢定結(jié)果中,給小了溫度偏差、溫度波動度溫度均勻度、濕度偏差、溫度變化速率、風(fēng)速的計算公式;增加了環(huán)境參數(shù)場的調(diào)整和試驗設(shè)備儀表修正值的范圍,并且對限用的范圍給予了必要的說明;-本部分的附錄中給出干濕表法惻量相對濕度,;-刪除了記錄表格。本部分由ZG電器工業(yè)協(xié)會提出本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境技術(shù)標準化技術(shù)委員會歸口。本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。本部分主要起草人:謝晨浩、賴文光。本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況:GB/T5170.18-1987引用標準:下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法（IEG60068-2-38:1974,IDT）GB/T5170.1-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備GB/T6999環(huán)境試驗用相對濕度查算表標準關(guān)注次數(shù):20次標準上傳日期:2010-11-14發(fā)布日期:2005-09-19實施日期:2006-06-01S次發(fā)布日期:1987-08-19英文標準名稱:InspectionmethodsforbasicparametersofEnvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts--Compositetemperature/humiditycyclictestingequipments采用國際標準:無標準類別:國家標準標準頁數(shù):主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會起草人:謝晨浩、賴文光起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子5所[詳細]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT2424.6-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度 濕度試驗箱性能確認

  GBT2424.6-2006%20電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度濕度試驗箱性能確認北京鴻達天矩試驗設(shè)備有限公司http://www.hongda17.cn010-57926031[詳細]

  2018-08-19 10:00

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• GB/T 2423-34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法 試驗ZAD 溫度濕度組合循環(huán)試驗

  GB/T2423-34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗ZAD溫度濕度組合循環(huán)試驗。GB/T2423-34-2005第4試驗設(shè)備的說明規(guī)定試驗樣品暴露于濕熱后，接著暴露于低溫，兩種暴露可在一個試驗箱或兩個試驗箱內(nèi)進行。若采用一個試驗箱，則可以使用高低溫濕熱交變試驗箱進行試驗，若需要更惡劣的試驗環(huán)境，則可以使用高低溫沖擊試驗箱模擬極惡劣環(huán)境。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備

  GB/T5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備規(guī)定了溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備在進行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點數(shù)量及位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。GB/T5170.18-2005適用于GB/T2423.34-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法》所用試驗設(shè)備的周期檢定。溫度/濕度組合循環(huán)試驗在同一試驗箱內(nèi)進行時，應(yīng)符合本部分的所有規(guī)定；溫度/濕度組合循環(huán)試驗在兩個獨立試驗箱進行時，溫?zé)嵩囼炏鋺?yīng)符合本部分所有規(guī)定；低溫試驗箱應(yīng)符合GB/T5170.2-1996《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備》的規(guī)定。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的周期檢定。試驗采用高低溫交變濕熱試驗箱。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T2423.34-2005溫度-濕度組合循環(huán)試驗

  GB/T2423.34-2005試驗Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)試驗本試驗與其他濕熱循環(huán)試驗不同，由于下列原因提高了本試驗的嚴酷等級；1.在給定的時間內(nèi)有更多次數(shù)的溫度變化或“呼吸”作用；2.溫度循環(huán)變化范圍更大；3.溫度循環(huán)變化的速率更好；4.包含多次0℃以下的溫度變化。加速的“呼吸”以及吸附在試驗樣品縫隙中水分的結(jié)冰效應(yīng)是本試驗的基本特點。點擊左上角“”可免費下載[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GB_T 2424.6-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度_濕度試驗箱性能確認

  GB_T 2424.6-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度_濕度試驗箱性能確認[詳細]

  2014-07-08 00:00

  應(yīng)用文章

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• GBT 2424.6-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度 濕度試驗箱性能確認

  GBT 2424.6-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度 濕度試驗箱性能確認[詳細]

  2013-12-13 00:00

  安裝說明

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• GBT 2424.6-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度濕度試驗箱性能確認

  GBT2424.6-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度濕度試驗箱性能確認用以確認溫濕度試驗箱在無負載時是否符合GB/T2423系列標準中氣候試驗方法規(guī)定的要求。GBT2424.6-2006適用于用戶進行常規(guī)的試驗箱性能監(jiān)測。武漢尚測試驗設(shè)備有限公司溫濕度試驗箱包括：高低溫濕熱試驗箱、恒溫恒濕試驗箱、高低溫沖擊試驗箱等。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 2424.6-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度 濕度試驗箱性能確認.pdf

  GBT 2424.6-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度 濕度試驗箱性能確認.pdf[詳細]

  2015-06-19 00:00

  課件

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• GB 2423.34-86 溫度濕度組合循環(huán)試驗方法

  GB 2423.34-86 溫度濕度組合循環(huán)試驗方法[詳細]

  2014-03-05 00:00

  應(yīng)用文章

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