国产三级在线看完整版-内射白嫩大屁股在线播放91-欧美精品国产精品综合-国产精品视频网站一区-一二三四在线观看视频韩国-国产不卡国产不卡国产精品不卡-日本岛国一区二区三区四区-成年人免费在线看片网站-熟女少妇一区二区三区四区

儀器網（yiqi.com）歡迎您！

| 注冊2 登錄
網站首頁-資訊-話題-產品-評測-品牌庫-供應商-展會-招標-采購-知識-技術-社區(qū)-資料-方案-產品庫-視頻

應用方案

儀器網/ 應用方案/ NexION 300S ICP-MS測定半導體級TMAH中的雜質

立即掃碼咨詢

聯(lián)系方式：400-822-6768

聯(lián)系我們時請說明在儀器網（m.sdczts.cn）上看到的!

掃    碼    分   享
四甲基氫氧化銨（TMAH）是一種廣泛用于半導體光刻工藝和液晶顯示器（LCD）生產中形成酸性光阻的基本溶劑由于其在此類高要求應用中的廣泛使用，使得對TMAH純度的檢測變得越來越重要由于具有快速測定各種工藝化學品中超痕量濃度待測元素的能力，電感耦合等離子體質譜儀（ICP-MS）已成為了質量控制不可缺少的分析工具然而，解決由基體帶來的多原子干擾和由于含有碳造成的基體YZ效應是非常重要的在直接分析有機溶劑時這些問題就顯得尤為突出本應用報告證明了NexION® 300S ICP-MS去除干擾，從而在使用高溫等離子體的條件下通過一次分析就能夠對TMAH中全部痕量水平的雜質元素進行測定的能力 PerkinElmer 等離子質譜儀

參與評論

全部評論(0條)

推薦方案

在線留言

上傳文檔或圖片,大小不超過10M
換一張？
取消