近年來，ATR（衰減全反射）技術(shù)已經(jīng)逐漸成為紅外光譜測(cè)試的常用方法采樣晶體與樣品的接觸程度對(duì)光譜的影響問題一度使該技術(shù)僅適用于液體和較軟的固體，而現(xiàn)在使用小尺寸晶體的采樣附件極大地減弱了這一影響，同時(shí)金剛石晶體的硬度和化學(xué)惰性也使得ATR技術(shù)成為一種近于wan能的采樣方法然而，要使固體樣品與ATR晶體良好地接觸，需要施加一定的壓力壓力的增加會(huì)改變不同波長處譜帶的相對(duì)強(qiáng)度，也可能會(huì)導(dǎo)致樣品結(jié)構(gòu)的改變本文闡明和解釋了上述可能發(fā)生的影響 PerkinElmer 紅外光譜儀