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產(chǎn)品中心

儀器網(wǎng)>產(chǎn)品中心>測(cè)量計(jì)量?jī)x器>表面測(cè)量?jī)x器>臺(tái)階儀 更新時(shí)間:2026-04-14 21:03:36

臺(tái)階儀

(共46件相關(guān)產(chǎn)品信息)
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產(chǎn)品分類:
更多 輪廓儀 臺(tái)階儀 圓度儀/圓柱度儀 三維表面形貌儀 粗糙度儀 其它表面測(cè)量?jī)x器
儀器分類:
不限 電感式 壓電式 光電式
產(chǎn)品產(chǎn)地:
不限 中國(guó)大陸 大洋洲 歐洲 亞洲 美洲
廠商性質(zhì):
不限 自營(yíng) 代理 經(jīng)銷
銷售地區(qū):
不限 售全國(guó) 售本省 售本市
產(chǎn)品品牌:
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收起參數(shù)(產(chǎn)地、種類、應(yīng)用領(lǐng)域)
綜合
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    半自動(dòng)臺(tái)階儀 JS100A

    安徽澤攸科技 JS100A 安徽 銅陵
    北京儀光科技有限公司
    國(guó)產(chǎn)半自動(dòng)臺(tái)階儀JS100A,國(guó)產(chǎn)臺(tái)階儀擁有高精度、高分解能,搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu),提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量。
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    手動(dòng)臺(tái)階儀 JS10A

    安徽澤攸科技 JS10A 安徽 銅陵
    北京儀光科技有限公司
    國(guó)產(chǎn)手動(dòng)臺(tái)階儀JS10A,擁有高精度、高分解能,搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu),提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量。
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    Kosaka 便攜式臺(tái)階儀

    深圳科時(shí)達(dá) Kosaka 歐洲 德國(guó)
    深圳市科時(shí)達(dá)電子科技有限公司
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    Kosaka 6寸臺(tái)階儀 ET200A

    深圳科時(shí)達(dá) ET200A 歐洲 德國(guó)
    深圳市科時(shí)達(dá)電子科技有限公司
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    探針式輪廓儀/臺(tái)階儀Alpha-Step D500 /D600

    KLA Alpha-Step D500 /D600 美洲 美國(guó)
    深圳市錫成科學(xué)儀器有限公司
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    深圳中圖臺(tái)階儀NS200

    深圳中圖儀器 NS200 廣東 深圳
    深圳市中圖儀器股份有限公司
    NS200中圖臺(tái)階儀對(duì)測(cè)量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒(méi)有特別要求,樣品適應(yīng)面廣,數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性高、測(cè)量穩(wěn)定、便捷、高效,是微觀表面測(cè)量中使用非常廣泛的微納樣品測(cè)量手段。
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    三維臺(tái)階儀

    孚光精儀 profiler 歐洲 德國(guó)
    孚光精儀(香港)有限公司
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    KOSAKA接觸式臺(tái)階儀ET150

    日本KOSAKA ET150 亞洲 日本
    上海昭沅儀器設(shè)備有限公司
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    臺(tái)階儀

    小坂 ET4000 亞洲 日本
    上海恒一精密儀器有限公司
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    ¥16

    半導(dǎo)體魯克Bruker Dektak150臺(tái)階儀維修

    德國(guó)布魯克 Dektak150 歐洲 德國(guó)
    東莞市長(zhǎng)安歐準(zhǔn)特精密機(jī)械經(jīng)營(yíng)部
    半導(dǎo)體使用布魯克Bruker 探針式臺(tái)階儀,外觀設(shè)計(jì)獨(dú)特,成色新,使用范圍廣泛,高精度,納米級(jí)檢測(cè)儀。
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    臺(tái)階儀

    美國(guó)AEP Technology Nanomap-LS 美洲 美國(guó)
    aep Technology中國(guó)辦事處
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    全自動(dòng) 臺(tái)階儀

    美國(guó)AEP Technology NanoMap-LS(3) 美洲 美國(guó)
    aep Technology中國(guó)辦事處
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    KOSAKA LAB ET 4000臺(tái)階儀(探針接觸式輪廓儀/微細(xì)形狀測(cè)定機(jī))

    日本KOSAKA ET4000 亞洲 日本
    上海昭沅儀器設(shè)備有限公司
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    KOSAKA LAB ET 4000臺(tái)階儀(探針接觸式輪廓儀/微細(xì)形狀測(cè)定機(jī))

    KOSAKA ET4000 亞洲 日本
    上海巨納科技有限公司
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    KOSAKA LAB ET 5000臺(tái)階儀(探針接觸式輪廓儀/微細(xì)形狀測(cè)定機(jī))

    KOSAKA ET5000 亞洲 日本
    上海巨納科技有限公司
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    布魯克臺(tái)階儀

    德國(guó)布魯克 DektakXT 歐洲 德國(guó)
    鉑悅儀器(上海)有限公司
    德國(guó)布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)可以提供更高的重復(fù)性和分辨率,測(cè)量重復(fù)性可以達(dá)到5?。
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    ¥25

    9成新 布魯克(探針)臺(tái)階儀Dektak150

    德國(guó)布魯克 Derket150 歐洲 德國(guó)
    東莞市長(zhǎng)安歐準(zhǔn)特精密機(jī)械經(jīng)營(yíng)部
    9成新 布魯克(探針)臺(tái)階儀Dektak150,Dektak 150探針式表面輪廓儀都具有業(yè)內(nèi)好的表現(xiàn)性能,高的測(cè)量重復(fù)性以及大的掃描范圍。Dektak 150集四十多年的技術(shù)積累和創(chuàng)新于一身,為滿足用戶不同應(yīng)用方向的需要提供了多種可選配置。堅(jiān)固的鋁質(zhì)材料鑄成的機(jī)身框架以及支撐部件顯著提高了儀器的重復(fù)精度,并降低了地板噪音對(duì)測(cè)量的干擾?;赪indows?XP的軟件用戶界面,使用戶迅速掌握Dektak 150。分析功能齊全,界面直觀,包括從簡(jiǎn)便的一鍵"進(jìn)針即測(cè)量",到多次掃描結(jié)果的自動(dòng)分析。通過(guò)選配三維成像附件套裝還可以極大地?cái)U(kuò)充儀器的功能
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    KLA 臺(tái)階儀 D-500

    美國(guó)KLA D-500 美洲 美國(guó)
    北京中海遠(yuǎn)創(chuàng)材料科技有限公司
    臺(tái)階高度:幾納米至1200μm 低觸力:0.03至15mg 視頻:500萬(wàn)像素高分辨率彩色攝像頭 梯形失真校正:消除側(cè)視光學(xué)系統(tǒng)引起的失真 圓弧校正:消除由于探針的弧形運(yùn)動(dòng)引起的誤差 緊湊尺寸:小占地面積的臺(tái)式探針式輪廓儀 主要應(yīng)用 臺(tái)階高度:2D臺(tái)階高度 紋理:2D粗糙度和波紋度 形式:2D翹曲和形狀 應(yīng)力:2D薄膜應(yīng)力 應(yīng)用領(lǐng)域 大學(xué),研究實(shí)驗(yàn)室和研究所 半導(dǎo)體和復(fù)合半導(dǎo)體 SIMS:二次離子質(zhì)譜 LED:發(fā)光二極管 太陽(yáng)能 MEMS:微電子機(jī)械系統(tǒng) 汽車 醫(yī)療設(shè)備
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    KLA 臺(tái)階儀 D-300

    美國(guó)KLA D-300 美洲 美國(guó)
    北京中海遠(yuǎn)創(chuàng)材料科技有限公司
    Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測(cè)量。光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測(cè)量,大垂直范圍和低觸力測(cè)量功能。 探針測(cè)量技術(shù)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是它是一種直接測(cè)量,與材料特性無(wú)關(guān)??烧{(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對(duì)各種結(jié)構(gòu)和材料進(jìn)行測(cè)量。通過(guò)測(cè)量粗糙度和應(yīng)力,可以對(duì)工藝進(jìn)行量化,確定添加或去除的材料量,以及結(jié)構(gòu)的任何變化。 設(shè)備特點(diǎn) 臺(tái)階高度:幾納米至1000μm 低觸力:0.5至15mg 視頻:500萬(wàn)像素率彩色攝像頭 梯形失真校正:消除側(cè)視光學(xué)系統(tǒng)引起的失真 圓弧校正:消除由于探針的弧形運(yùn)動(dòng)引起的誤差 緊湊尺寸:小占地面積的臺(tái)式探針式輪廓儀 主要應(yīng)用 臺(tái)階高度:2D臺(tái)階高度 紋理:2D粗糙度和波紋度 形式:2D翹曲和形狀 應(yīng)力:2D薄膜應(yīng)力 應(yīng)用領(lǐng)域 半導(dǎo)體和復(fù)合半導(dǎo)體 SIMS:二次離子質(zhì)譜 LED:發(fā)光二極管 太陽(yáng)能 MEMS:微電子機(jī)械系統(tǒng) 汽車 醫(yī)療設(shè)備
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    面議

    美國(guó)KLA臺(tái)階儀

    美國(guó)KLA P7 美洲 美國(guó)
    倬昊納米科技(上海)中心
  • 參考報(bào)價(jià)
    $65000

    臺(tái)階儀

    科磊 D600 美洲 美國(guó)
    深圳市今浩儀器設(shè)備有限公司
    Alpha-Step D-600 探針式輪廓儀能夠測(cè)量從幾納米到 1200微米的2D和3D臺(tái)階高度。D-600 還支持2D和3D的粗糙度測(cè)量,以及用于研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)節(jié)的2D翹曲度和應(yīng)力測(cè)量。D-600 包含一個(gè)帶有200 毫米樣品載臺(tái)的電動(dòng)樣品臺(tái)和具有增強(qiáng)影像控制的高級(jí)光學(xué)器件。

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輪廓儀 P7 晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀

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臺(tái)階儀 D600 高精度探針式輪廓儀/臺(tái)階儀

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臺(tái)階儀 D300 經(jīng)濟(jì)型高精度臺(tái)階儀

Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測(cè)量。光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測(cè)量,大垂直范圍和低觸力測(cè)量功能。

臺(tái)階儀 D500 高精度臺(tái)階儀

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探針式輪廓儀 P17 自動(dòng)晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀

P-17是第八代臺(tái)式探針輪廓儀。該系統(tǒng)領(lǐng)先業(yè)界,支持對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量,其掃描可達(dá)200mm而無(wú)需圖像拼接。

臺(tái)階儀

Alpha-Step D-600 探針式輪廓儀能夠測(cè)量從幾納米到 1200微米的2D和3D臺(tái)階高度。D-600 還支持2D和3D的粗糙度測(cè)量,以及用于研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)節(jié)的2D翹曲度和應(yīng)力測(cè)量。D-600 包含一個(gè)帶有200 毫米樣品載臺(tái)的電動(dòng)樣品臺(tái)和具有增強(qiáng)影像控制的高級(jí)光學(xué)器件。

KLA 臺(tái)階儀 D-500

臺(tái)階高度:幾納米至1200μm 低觸力:0.03至15mg 視頻:500萬(wàn)像素高分辨率彩色攝像頭 梯形失真校正:消除側(cè)視光學(xué)系統(tǒng)引起的失真 圓弧校正:消除由于探針的弧形運(yùn)動(dòng)引起的誤差 緊湊尺寸:小占地面積的臺(tái)式探針式輪廓儀 主要應(yīng)用 臺(tái)階高度:2D臺(tái)階高度 紋理:2D粗糙度和波紋度 形式:2D翹曲和形狀 應(yīng)力:2D薄膜應(yīng)力 應(yīng)用領(lǐng)域 大學(xué),研究實(shí)驗(yàn)室和研究所 半導(dǎo)體和復(fù)合半導(dǎo)體 SIMS:二次離子質(zhì)譜 LED:發(fā)光二極管 太陽(yáng)能 MEMS:微電子機(jī)械系統(tǒng) 汽車 醫(yī)療設(shè)備

應(yīng)用方案

Bruker臺(tái)階儀說(shuō)明書 臺(tái)階儀測(cè)試原理 臺(tái)階儀操作指南 臺(tái)階儀測(cè)試表面粗糙度 KOSAKA - ET200A臺(tái)階儀特點(diǎn) KOSAKA - ET4000臺(tái)階儀特點(diǎn) KOSAKA - ET200A臺(tái)階儀參數(shù) KOSAKA - ET4000臺(tái)階儀參數(shù) KOSAKA - ET200A臺(tái)階儀應(yīng)用領(lǐng)域 KOSAKA - ET4000臺(tái)階儀應(yīng)用領(lǐng)域

行業(yè)資料

臺(tái)階儀bruker產(chǎn)品目錄 布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀 臺(tái)階儀產(chǎn)品樣冊(cè) 帶你走進(jìn)brukerDektak臺(tái)階儀 bruker DektakDXT A200臺(tái)階儀 Bruker臺(tái)階儀 DektakPro產(chǎn)品資料 三維臺(tái)階儀產(chǎn)品樣冊(cè) Dektak 8 探針輪廓儀(臺(tái)階儀) Dektak 8 探針輪廓儀(臺(tái)階儀)產(chǎn)品樣冊(cè) 非接觸式臺(tái)階儀、輪廓儀 表面三維輪廓儀/粗糙度儀/臺(tái)階儀

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