美國AEP Technology產(chǎn)品
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美國AEP Technology產(chǎn)品資料
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薄膜測厚儀產(chǎn)品樣冊- 薄膜測厚儀產(chǎn)品樣冊[詳細]
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2024-09-15 19:19
專利|
- 關于
美國AEP Technology
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- 美國AEP Technology Inc.公司位于全球的創(chuàng)新圣地加州硅谷。創(chuàng)立于2007年，團對的核心人員有超過20年的表面檢測技術設備制造和設計經(jīng)驗。作為公司名譽董事，美國斯坦福大學的電子工程系著名的半導體檢測技術專家，前系主任Fabian Pease教授，給予美國阿爾派公司發(fā)展的最大支持，也讓AEP公司獨特的多模式技術成為表面形貌檢測新技術的領導者。除了制造光學干涉輪廓儀和接觸式輪廓儀，AEP 公司還生產(chǎn)原位和非原位薄膜沉積過程中的應力監(jiān)視系統(tǒng)。
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