本文由 上海覽浩儀器設(shè)備有限公司 整理匯編

2018-09-03 10:00 847閱讀次數(shù)

收藏 評(píng)價(jià) 舉報(bào)

• 分享

立即下載

參與評(píng)論

評(píng)論

登錄后參與評(píng)論

登錄或新用戶(hù)注冊(cè)

• 微信登錄
• 密碼登錄
• 短信登錄

請(qǐng)用手機(jī)微信掃描下方二維碼
快速登錄或注冊(cè)新賬號(hào)

微信掃碼，手機(jī)電腦聯(lián)動(dòng)

注冊(cè)登錄即表示同意《儀器網(wǎng)服務(wù)條款》和《隱私協(xié)議》

賬  號(hào)：

密  碼：

圖片碼： 看不清？
換一張？

手機(jī)和郵箱號(hào)注冊(cè)新賬號(hào)>> 忘記密碼？

手機(jī)號(hào)：

圖片碼： 看不清？
換一張？

短信碼： 獲取短信碼

手機(jī)和郵箱號(hào)注冊(cè)新賬號(hào)>> 忘記密碼？

更多資料

• GBT 5170.10-2008 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

  GBT5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備上海覽浩儀器設(shè)備有限公司電話(huà)：021-5978838159788382傳真：021-39651412更多產(chǎn)品信息請(qǐng)瀏覽:[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GBT 5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

  標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T5170.10-2008中文標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備代替標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T5170.10-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備,標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:本部分規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對(duì)GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類(lèi)似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào):19.040ZG標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào):K04標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)目錄:前言Ⅲ1范圍12規(guī)范性引用文件13術(shù)語(yǔ)和定義14檢驗(yàn)項(xiàng)目15檢驗(yàn)用主要儀器及要求26檢驗(yàn)負(fù)載27檢驗(yàn)條件28檢驗(yàn)方法29數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果710檢驗(yàn)周期7附錄A（規(guī)范性附錄）檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇8引用標(biāo)準(zhǔn):下列文件中的條款通過(guò)GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.21電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法（GB/T2423.21-1993,NEQIEC60068-2-13環(huán)境試驗(yàn)第2-13部分:試驗(yàn)試驗(yàn)M:低氣壓:1983）GB/T2423.25電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法（GB/T2423.25-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫／低氣壓綜合試驗(yàn),NEQIEC60068-2-40基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2-40部分:試驗(yàn)試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓組合試驗(yàn)修改1:1976）GB/T2423.26電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法（GB/T2423.26-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM:高溫／低氣壓綜合試驗(yàn),NEQIEC60068-2-41基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2-41部分:試驗(yàn)試驗(yàn)Z/BM:干熱/低氣壓組合試驗(yàn)修改1:1976）GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則GB/T5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備GB/T16839.1熱電偶第1部分:分度表（GB/T16839.1-1997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件標(biāo)準(zhǔn)關(guān)注次數(shù):49次標(biāo)準(zhǔn)上傳日期:2010-2-23發(fā)布日期:2008-06-16實(shí)施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng):Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Combinedhighandlowtemperature/lowairpressuretestingequipments采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):無(wú)標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù):16頁(yè)主管部門(mén):604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會(huì)歸口單位:469-8全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國(guó)良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GB/T 5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介本部分規(guī)定了高低溫低氣壓(含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓)試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對(duì)GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類(lèi)似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GB/T 5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

  GB/T5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。GB/T5170.10-2008適用于對(duì)GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類(lèi)似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。檢驗(yàn)設(shè)備包括高低溫試驗(yàn)箱、高低溫濕熱試驗(yàn)箱、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱等溫度試驗(yàn)設(shè)備。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

  SJT10212-1991Y60600-G高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]

  2018-10-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GBT5170.10-1996高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

  GBT5170.10-1996高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備免費(fèi)下載地址：北京中科環(huán)試儀器有限公司http://www.bjzkhs.com[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• SJT 10212-1991 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

  SJT10212-1991Y60600-G高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備.pdf[詳細(xì)]

  2018-10-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• SJT Y60600-G高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

  SJT10212-1991Y60600-G高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]

  2018-10-10 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• SJT 10212-1991 Y60600-G高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

  SJT 10212-1991 Y60600-G高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]

  2014-08-12 00:00

  其它

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• SJT 10212 Y60600-G高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

  SJT10212-1991Y60600-G高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• SJT 31129-1994 G高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

  SJT 31129-1994 G高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]

  2024-09-11 17:56

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢測(cè)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

  中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢測(cè)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備。[詳細(xì)]

  2024-09-28 02:47

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• SJ 2326-1983 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備通用技術(shù)條件

  SJ 2326-1983 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備通用技術(shù)條件[詳細(xì)]

  2024-09-18 02:54

  實(shí)驗(yàn)操作

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GBT 10590-2006高低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件

  中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)：高低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件【高低溫/低氣壓試驗(yàn)箱方法】本標(biāo)準(zhǔn)（GB/T10590-2006高低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件）規(guī)定了高低溫低氣壓試驗(yàn)箱（以下簡(jiǎn)稱(chēng)試驗(yàn)箱）的術(shù)語(yǔ)和定義、使用條件、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則及標(biāo)志、包裝、貯存。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高低溫低氣壓試驗(yàn)的試驗(yàn)箱。上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地閔行經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)，是一家專(zhuān)業(yè)從事環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)與銷(xiāo)售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)。歷經(jīng)市場(chǎng)洗禮和多年的拼搏積淀，林頻儀器現(xiàn)已發(fā)展成為環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)之一。公司專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)各類(lèi)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備：高低溫低氣壓試驗(yàn)箱、液氮深冷低溫箱、CASS交變鹽霧箱、高低溫沖擊試驗(yàn)箱、太陽(yáng)能光伏組件濕凍試驗(yàn)設(shè)備、溫度老化試驗(yàn)室及各類(lèi)非標(biāo)產(chǎn)品,“林頻”生產(chǎn)的試驗(yàn)設(shè)備可滿(mǎn)足GB、GJB、MIL、DIL、IEC等各行業(yè)各國(guó)家的標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于產(chǎn)品細(xì)節(jié)請(qǐng)致電021-34098999，如果您需要下載相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品技術(shù)資料，請(qǐng)登陸：http://www.linpin.com.cn！[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GBT 10590-2006高低溫低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件

  GBT 10590-2006高低溫低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件[詳細(xì)]

  2024-09-15 08:20

  選購(gòu)指南

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GBT 10590-2006高低溫低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件.pdf

  GBT 10590-2006高低溫低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件.pdf[詳細(xì)]

  2014-12-15 00:00

  報(bào)價(jià)單

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 高低溫低氣壓試驗(yàn)箱操作說(shuō)明書(shū)

  TH-100 型恒溫恒濕低氣壓試驗(yàn)箱，可模擬特殊環(huán)境。精準(zhǔn)控溫濕與氣壓，結(jié)構(gòu)優(yōu)良，操作需按步驟進(jìn)行。注意放置位置與安全事項(xiàng)，定期維護(hù)保養(yǎng)。為產(chǎn)品可靠性測(cè)試提供有力保障，是航空航天等領(lǐng)域的重要試驗(yàn)設(shè)備。[詳細(xì)]

  2024-09-18 18:14

  操作手冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 高低溫低氣壓的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

  高低溫低氣壓測(cè)試用于評(píng)估產(chǎn)品在極端溫度與低氣壓環(huán)境下的性能，廣泛應(yīng)用于航空、航天、電子、汽車(chē)等領(lǐng)域。以下是常見(jiàn)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：[詳細(xì)]

  2025-02-26 11:13

  標(biāo)準(zhǔn)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 高低溫試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品樣冊(cè)

  高低溫試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]

  2016-10-18 14:40

  應(yīng)用文章

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GBT 5170.2-1996 溫度試驗(yàn)設(shè)備

  GBT5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]

  2018-10-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  •