本文由 上?？茖W儀器有限公司 整理匯編

2018-09-04 10:00 1268閱讀次數(shù)

收藏 評價 舉報

• 分享

立即下載

參與評論

評論

登錄后參與評論

登錄或新用戶注冊

• 微信登錄
• 密碼登錄
• 短信登錄

請用手機微信掃描下方二維碼
快速登錄或注冊新賬號

微信掃碼，手機電腦聯(lián)動

注冊登錄即表示同意《儀器網(wǎng)服務條款》和《隱私協(xié)議》

賬  號：

密  碼：

圖片碼： 看不清？
換一張？

手機和郵箱號注冊新賬號>> 忘記密碼？

手機號：

圖片碼： 看不清？
換一張？

短信碼： 獲取短信碼

手機和郵箱號注冊新賬號>> 忘記密碼？

更多資料

• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備[詳細]

  2013-11-15 00:00

  標準

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法_溫度試驗設備

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法_溫度試驗設備售后服務承諾:用戶的滿意是我們服務的宗旨，完善的售后服務使您解除一切后顧之憂，我們堅信一個好的企業(yè)賣出去的不僅僅是一臺好的產(chǎn)品，更重要的是良好的服務。宏展儀器主營:溫度試驗箱;高溫試驗箱;低溫試驗箱;高低溫試驗箱;高低溫交變試驗箱;濕熱試驗箱;高溫高濕試驗箱;恒定濕熱試驗箱;高低溫恒定濕熱試驗箱;高低溫交變濕熱試驗箱;溫變試驗箱;快速溫度變化試驗箱;溫度沖擊箱;高低溫沖擊試驗箱;環(huán)境試驗室;步入式高溫試驗室;步入式高低溫試驗室;步入式高低溫恒定濕熱試驗室;步入式高低溫交變濕熱試驗室;高溫試驗箱;真空干燥箱;耐候試驗箱;紫外耐候試驗箱;鹽霧試驗箱;鹽霧腐蝕試驗箱；模擬運輸振動臺;跌落試驗臺;蒸氣老化試驗機等其它環(huán)境試驗設備．另可依客戶要求之尺寸制作試驗室，滿足客戶的要求。歡迎廣大客戶來電來函咨詢訂購!北京宏展環(huán)境科技有限公司聯(lián)系地址：北京市豐臺區(qū)和義東里6區(qū)1號樓7單元502室　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　聯(lián)系電話：010-6799652067957820　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　聯(lián)系傳真：010-67965617聯(lián)系手機：15001084958聯(lián)系QQ:1796337665Skype:lihuibj聯(lián)系人：李　慧（小姐）聯(lián)系MSN:lihuibj@hotail.com電子郵件：hui.li@hongzhan.com.hk公司網(wǎng)址：http://www.a5317.com　http://www.thermotron.com.cnhttp://www.hongzhan.com.hkhttp://www.hongzhangroup.comhttp://hongzhanbj.cn.alibaba.comhttp://testchamber.en.alibaba.com宏展在用戶身邊用戶在宏展心中愛儀器熱線：400-0000-217[詳細]

  2018-09-04 10:00

  產(chǎn)品樣冊

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GBT5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備

  GBT5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備資料下載：http://www.hongda17.cn[詳細]

  2018-08-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備

  標準編號:GB/T5170.2-2008中文標準名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備代替標準號:GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設備,標準簡介:本部分規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于對GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫》、GB/T2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫》和GB/T2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化》所用試驗設備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分代替GB/T5170.21996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設備。與GB/T5170.21996相比,技術內容主要有如下變化:標準名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗設備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法　溫度試驗設備”;所有用詞“檢定”更改為“檢驗”;增加了“術語和定義”一章;增加了“溫度波動度”檢驗項目;增加了“溫度均勻度”檢驗項目;增加了“每5MIN溫度平均變化速率”檢驗項目;增加了“溫度指示誤差”檢驗項目;增加了“溫度過沖量”檢驗項目;增加了“溫度過沖恢復時間”檢驗項目;增加了“噪聲”檢驗項目;刪除了“相對濕度”檢驗項目;在“檢驗用主要儀器及要求”一章中,給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結果的擴展不確定度（K=2）的要求增加了“檢驗負載”一章;修改了“溫度變化速率”的計算方法;測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù);刪除了“檢定過程中的處理”部分;附錄A“測量記錄表格示例”更改為“檢驗項目的選擇”;刪除了附錄B“溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。國際標準分類號:19.040ZG標準分類號:K04標準狀態(tài):現(xiàn)行標準目錄:前言Ⅲ1范圍12規(guī)范性引用文件13術語和定義14檢驗項目15檢驗用主要儀器及要求26檢驗負載27檢驗條件28檢驗方法29數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果710檢驗周期7附錄A（規(guī)范性附錄）檢驗項目的選擇8引用標準:下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫（GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫,IDTIEC60068-2-1:1環(huán)境試驗.第2-1部分:試驗.試驗A:低溫990）GB/T2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫（GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫,IDTIEC60068-2-2環(huán)境測試.第2-2部分:試驗.試驗B:干熱:1974）GB/T2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化（GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化,IEC60068-2-14環(huán)境試驗.第2-14部分:試驗.試驗N:溫度的改變:1984,IDT）GB/T2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度試驗箱性能確認（GB/T2424.5-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度試驗箱性能確認,IEC60068-3-5:2001,IDT）GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法總則GB/T16839.1熱電偶第1部分:分度表（GB/T16839.1-1997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件標準關注次數(shù):7次標準上傳日期:2009-12-15發(fā)布日期:2008-06-16實施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標準名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Temperaturetestingequipments采用國際標準:無標準類別:國家標準標準頁數(shù):13頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備[詳細]

  2013-12-27 00:00

  其它

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設備

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設備[詳細]

  2024-09-28 00:31

  操作手冊

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備校驗方法溫度試驗設備

  一、電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備校驗方法溫度試驗設備適用范圍：溫度：【0℃至150℃】，【-20℃至150℃】，【-40℃至150℃】，【-60℃至150℃】，,【-70℃至150℃】濕度：【20%至98%RH】二、電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備校驗方法溫度試驗設備表頭控制精度：溫度：【±0.3℃】濕度：【±2.5%RH】三、電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備校驗方法溫度試驗設備表頭解析精度：溫度：【0.1℃】濕度：【0.1%RH】四、升溫速率：3度/分鐘。五、降溫速率：1度/分鐘。六、電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備校驗方法溫度試驗設備機器結構與材質：1.內箱尺寸：【50cm（W）×75cm（H）×60cm（D）】2.外箱尺寸：【105cm（W）×167cm（H）×116cm（D）】3.內箱材質：SUS＃304耐熱耐寒不銹鋼板。4.外箱材質：SUS＃304高張力不銹鋼板，并經(jīng)多道薄膜游離層表面處理。5.保溫材質：針對可程式恒溫恒濕試驗箱專用高密度玻璃棉及高強度PU發(fā)泡絕緣材料。6.防汗機件：以系統(tǒng)K型管之熱能作防汗處理。7.門氣密材料：高張力parking耐溫-90至280℃。8.附屬設備：a.可調式活動盤2只，可任意改變距離。b.外接用測試孔乙只，可作動態(tài)測試。c.廣角投射照明設備，采省電GX率日光燈。d.多層真空玻璃窗口，防爆型。e.附可調固定軸及活動輪4組。七、全自動恒溫恒濕設備冷凍系統(tǒng)及加熱系統(tǒng)：1.省電型GX率法國泰康壓縮機。2.采環(huán)保R404A冷煤。3.全程管路系統(tǒng)氮氣加壓測漏。4.波浪狀鰭片型強迫送風冷凝器。5.斜率式FINTUBE蒸發(fā)器。6.電磁閥；干燥過濾器等冷凍組件。7.內螺旋式KTYPE冷媒銅管。8.UTYPE高速電熱管，加熱迅速。9.加溫、降溫系統(tǒng)完全獨立，不需手動控制。[詳細]

  2018-10-11 10:00

  產(chǎn)品樣冊

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備.pdf

  GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備.pdf[詳細]

  2015-06-08 00:00

  操作手冊

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備.pdf

  GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備.pdf[詳細]

  2014-10-28 00:00

  課件

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GB/T 5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備

  GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備標準簡介本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于對GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》、GB/T2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫》和GB/T2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化》所用試驗設備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分代替GB/T5170.2-1996。與GB/T5170.2-1996相比，技術內容主要有如下變化：標準名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗設備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法　溫度試驗設備”；所有用詞“檢定”更改為“檢驗”；增加了“術語和定義”一章；增加了“溫度波動度”檢驗項目；增加了“溫度均勻度”檢驗項目；增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗項目；增加了“溫度指示誤差”檢驗項目；增加了“溫度過沖量”檢驗項目；增加了“溫度過沖恢復時間”檢驗項目；增加了“噪聲”檢驗項目；刪除了“相對濕度”檢驗項目；在“檢驗用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結果的擴展不確定度（k＝２）的要求增加了“檢驗負載”一章；修改了“溫度變化速率”的計算方法；測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；刪除了“檢定過程中的處理”部分；附錄Ａ“測量記錄表格示例”更改為“檢驗項目的選擇”；刪除了附錄Ｂ“溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。[詳細]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備

  GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。恒溫恒濕試驗箱武漢尚測試驗設備有限公司專業(yè)生產(chǎn)，通過模擬高低溫濕熱環(huán)境來確定電工、電子產(chǎn)品對高低溫環(huán)境及濕熱環(huán)境的適應性（特別是產(chǎn)品的電氣性能和機械性能的變化情況），也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GBT5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備

  GBT5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備[詳細]

  2013-11-19 00:00

  標準

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GBT 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備

  GBT5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備[詳細]

  2018-09-14 10:00

  產(chǎn)品樣冊

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備標準

  本部分規(guī)定了濕熱試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求，檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。[詳細]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GBT5170.11-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法

  GBT5170.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法腐蝕氣體試驗設備鹽霧試驗箱采用含鹽溶液或酸性含鹽溶液，在一定的溫度和相對的濕度的環(huán)境下對材料或產(chǎn)品進行加速腐蝕，重現(xiàn)材料或產(chǎn)品在一定時間范圍內所遭受的破壞程度。鹽霧試驗箱廣泛應用于金屬材料防護層、機械零部件、電子元器件、汽車零部件、工業(yè)產(chǎn)品、汽車摩托車、電工電子、質檢計量、涂層等進行鹽霧腐蝕試驗，考核材料防護層及產(chǎn)品抗鹽霧腐蝕的性能，以及相似防護層的工藝質量比較，也可以用來考核某些產(chǎn)品抗鹽霧腐蝕的能力。一、技術參數(shù)：1.溫度范圍：RT+10℃～55℃2.飽和器溫度范圍：RT+10℃～70℃3.溫度均勻度：≤±2℃(空載時)4.溫度波動度：≤±0.5℃(空載時)5.鹽霧沉降量：1～2mL/80c.h6.時間設定范圍：0～9999h、m、s具有一鍵恢復功能7.間斷噴霧時間范圍：0～99h、m、s8.試樣架：試樣架可滿足15°/30°傾斜試驗,也可采用掛鉤方式。二、鹽霧試驗箱規(guī)格(單位:mm)：型號YWX/Q-150工作室尺寸D×W×H450×600×400型號YWX/Q-250工作室尺寸D×W×H600×900×500型號YWX/Q-750工作室尺寸D×W×H750×1100×500型號YWX/Q-010工作室尺寸D×W×H850×1300×600型號YWX/Q-016工作室尺寸D×W×H850×1600×600型號YWX/Q-020工作室尺寸D×W×H900×2000×600[詳細]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GBT 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備

  中華人民共和國國家標準：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法【濕熱試驗設備方法】GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于對GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab恒定濕熱試驗》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱試驗方法》和GB/T2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗J:長毒》所用試驗設備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地閔行經(jīng)濟技術開發(fā)區(qū)，是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗設備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術股份制企業(yè)。歷經(jīng)市場洗禮和多年的拼搏積淀，林頻儀器現(xiàn)已發(fā)展成為環(huán)境試驗設備領域的龍頭企業(yè)之一。公司專業(yè)生產(chǎn)各類環(huán)境試驗設備：高低溫低氣壓試驗箱、液氮深冷低溫箱、CASS交變鹽霧箱、高低溫沖擊試驗箱、太陽能光伏組件濕凍試驗設備、溫度老化試驗室及各類非標產(chǎn)品,“林頻”生產(chǎn)的試驗設備可滿足GB、GJB、MIL、DIL、IEC等各行業(yè)各國家的標準，關于產(chǎn)品細節(jié)請致電021-34098999，如果您需要下載相關標準或產(chǎn)品技術資料，請登陸：http://www.linpin.com.cn！[詳細]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GBT 5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設備

  標準編號:GB/T5170.11-2008中文標準名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法腐蝕氣體試驗設備代替標準號:GB/T5170.11-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設備,標準簡介:GB/T5170的本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于電工電子產(chǎn)品腐蝕氣體試驗所用的試驗設備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。國際標準分類號:19.040ZG標準分類號:K04標準狀態(tài):現(xiàn)行標準目錄:前言Ⅲ1范圍12規(guī)范性引用文件13檢驗項目14術語和定義15檢驗用主要儀器及要求26檢驗負載27檢驗條件28檢驗方法29數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果710檢驗周期7附錄A（規(guī)范性附錄）檢驗項目的選擇8引用標準:下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法總則GB/T6999環(huán)境試驗用相對濕度查算表GB/T16839.1熱電偶第1部分:分度表（GB/T16839.1-1997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件標準關注次數(shù):20次標準上傳日期:2010-11-24發(fā)布日期:2008-06-16實施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標準名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Corrosivegastestingequipments采用國際標準:無標準類別:國家標準標準頁數(shù):16頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GBT 5170.9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 太陽輻射試驗設備

  標準編號:GB/T5170.9-2008中文標準名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法太陽輻射試驗設備代替標準號:GB/T5170.9-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設備,標準簡介:GB/T5170的本部分規(guī)定了太陽輻射試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于對GB/T2423.24《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第2部分:試驗方法　試驗SA:模擬地面上的太陽輻射》所用試驗設備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。國際標準分類號:19.040ZG標準分類號:K04標準狀態(tài):現(xiàn)行標準目錄:前言……………………………………………………Ⅰ1　范圍………………………………………………12　規(guī)范性引用文件…………………………………13　術語和定義………………………………………14　檢驗項目…………………………………………15　檢驗用主要儀器及要求…………………………16　檢驗負載…………………………………………27　檢驗條件…………………………………………28　檢驗方法…………………………………………29　數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果………………………610　檢驗周期………………………………………6附錄A（規(guī)范性附錄）　檢驗項目的選擇…………7引用標準:下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.24　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第2部分:試驗方法　試驗SA:模擬地面上的太陽輻射（GB/T2423.241995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射,IDTIEC60068-2-5:1975環(huán)境試驗第2-5部分:試驗試驗Sa:地面上的模擬太陽輻射）GB/T5170.12008　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法　總則GB/T5170.2　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法　溫度試驗設備GB/T16839.1　熱電偶　第1部分:分度表（GB/T16839.11997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751　工業(yè)鉑電阻敏感元件標準關注次數(shù):39次標準上傳日期:2009-10-22發(fā)布日期:2008-06-16實施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標準名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Solarradiationtestingequipments采用國際標準:無標準類別:國家標準標準頁數(shù):12頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GB/T5170.9-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法_太陽輻射試驗設備

  GB/T5170.9-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法_太陽輻射試驗設備1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了太陽輻射試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等。[詳細]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• GB/T5170.5-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法_濕熱試驗設備

  GB/T5170.5-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法_濕熱試驗設備1范圍GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。[詳細]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

  |

  • 
  • 
  • 
  •