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GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備.pdf

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GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備.pdf

GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備.pdf[詳細]
2015-06-08 00:00
操作手冊
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GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備.pdf

GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備.pdf[詳細]
2014-10-28 00:00
課件
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GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備

標準編號:GB/T5170.2-2008中文標準名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備代替標準號:GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備,標準簡介:本部分規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫》、GB/T2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫》和GB/T2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分代替GB/T5170.21996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備。與GB/T5170.21996相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:標準名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法　溫度試驗設(shè)備”;所有用詞“檢定”更改為“檢驗”;增加了“術(shù)語和定義”一章;增加了“溫度波動度”檢驗項目;增加了“溫度均勻度”檢驗項目;增加了“每5MIN溫度平均變化速率”檢驗項目;增加了“溫度指示誤差”檢驗項目;增加了“溫度過沖量”檢驗項目;增加了“溫度過沖恢復時間”檢驗項目;增加了“噪聲”檢驗項目;刪除了“相對濕度”檢驗項目;在“檢驗用主要儀器及要求”一章中,給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴展不確定度（K=2）的要求增加了“檢驗負載”一章;修改了“溫度變化速率”的計算方法;測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù);刪除了“檢定過程中的處理”部分;附錄A“測量記錄表格示例”更改為“檢驗項目的選擇”;刪除了附錄B“溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。國際標準分類號:19.040ZG標準分類號:K04標準狀態(tài):現(xiàn)行標準目錄:前言Ⅲ1范圍12規(guī)范性引用文件13術(shù)語和定義14檢驗項目15檢驗用主要儀器及要求26檢驗負載27檢驗條件28檢驗方法29數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果710檢驗周期7附錄A（規(guī)范性附錄）檢驗項目的選擇8引用標準:下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫（GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫,IDTIEC60068-2-1:1環(huán)境試驗.第2-1部分:試驗.試驗A:低溫990）GB/T2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫（GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫,IDTIEC60068-2-2環(huán)境測試.第2-2部分:試驗.試驗B:干熱:1974）GB/T2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化（GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化,IEC60068-2-14環(huán)境試驗.第2-14部分:試驗.試驗N:溫度的改變:1984,IDT）GB/T2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度試驗箱性能確認（GB/T2424.5-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度試驗箱性能確認,IEC60068-3-5:2001,IDT）GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則GB/T16839.1熱電偶第1部分:分度表（GB/T16839.1-1997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件標準關(guān)注次數(shù):7次標準上傳日期:2009-12-15發(fā)布日期:2008-06-16實施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標準名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Temperaturetestingequipments采用國際標準:無標準類別:國家標準標準頁數(shù):13頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細]
2018-09-05 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備

GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備標準簡介本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》、GB/T2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫》和GB/T2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分代替GB/T5170.2-1996。與GB/T5170.2-1996相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：標準名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法　溫度試驗設(shè)備”；所有用詞“檢定”更改為“檢驗”；增加了“術(shù)語和定義”一章；增加了“溫度波動度”檢驗項目；增加了“溫度均勻度”檢驗項目；增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗項目；增加了“溫度指示誤差”檢驗項目；增加了“溫度過沖量”檢驗項目；增加了“溫度過沖恢復時間”檢驗項目；增加了“噪聲”檢驗項目；刪除了“相對濕度”檢驗項目；在“檢驗用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴展不確定度（k＝２）的要求增加了“檢驗負載”一章；修改了“溫度變化速率”的計算方法；測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；刪除了“檢定過程中的處理”部分；附錄Ａ“測量記錄表格示例”更改為“檢驗項目的選擇”；刪除了附錄Ｂ“溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。[詳細]
2018-09-13 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備

GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。恒溫恒濕試驗箱武漢尚測試驗設(shè)備有限公司專業(yè)生產(chǎn)，通過模擬高低溫濕熱環(huán)境來確定電工、電子產(chǎn)品對高低溫環(huán)境及濕熱環(huán)境的適應性（特別是產(chǎn)品的電氣性能和機械性能的變化情況），也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力。[詳細]
2018-10-08 10:00
產(chǎn)品樣冊
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備[詳細]
2013-11-15 00:00
標準
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法_溫度試驗設(shè)備

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法_溫度試驗設(shè)備售后服務(wù)承諾:用戶的滿意是我們服務(wù)的宗旨，完善的售后服務(wù)使您解除一切后顧之憂，我們堅信一個好的企業(yè)賣出去的不僅僅是一臺好的產(chǎn)品，更重要的是良好的服務(wù)。宏展儀器主營:溫度試驗箱;高溫試驗箱;低溫試驗箱;高低溫試驗箱;高低溫交變試驗箱;濕熱試驗箱;高溫高濕試驗箱;恒定濕熱試驗箱;高低溫恒定濕熱試驗箱;高低溫交變濕熱試驗箱;溫變試驗箱;快速溫度變化試驗箱;溫度沖擊箱;高低溫沖擊試驗箱;環(huán)境試驗室;步入式高溫試驗室;步入式高低溫試驗室;步入式高低溫恒定濕熱試驗室;步入式高低溫交變濕熱試驗室;高溫試驗箱;真空干燥箱;耐候試驗箱;紫外耐候試驗箱;鹽霧試驗箱;鹽霧腐蝕試驗箱；模擬運輸振動臺;跌落試驗臺;蒸氣老化試驗機等其它環(huán)境試驗設(shè)備．另可依客戶要求之尺寸制作試驗室，滿足客戶的要求。歡迎廣大客戶來電來函咨詢訂購!北京宏展環(huán)境科技有限公司聯(lián)系地址：北京市豐臺區(qū)和義東里6區(qū)1號樓7單元502室　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　聯(lián)系電話：010-6799652067957820　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　聯(lián)系傳真：010-67965617聯(lián)系手機：15001084958聯(lián)系QQ:1796337665Skype:lihuibj聯(lián)系人：李　慧（小姐）聯(lián)系MSN:lihuibj@hotail.com電子郵件：hui.li@hongzhan.com.hk公司網(wǎng)址：http://www.a5317.com　http://www.thermotron.com.cnhttp://www.hongzhan.com.hkhttp://www.hongzhangroup.comhttp://hongzhanbj.cn.alibaba.comhttp://testchamber.en.alibaba.com宏展在用戶身邊用戶在宏展心中愛儀器熱線：400-0000-217[詳細]
2018-09-04 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備

GBT5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備資料下載：http://www.hongda17.cn[詳細]
2018-08-19 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備

GBT5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備[詳細]
2018-09-14 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備

中華人民共和國國家標準：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法【濕熱試驗設(shè)備方法】GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab恒定濕熱試驗》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱試驗方法》和GB/T2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗J:長毒》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地閔行經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)，是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)。歷經(jīng)市場洗禮和多年的拼搏積淀，林頻儀器現(xiàn)已發(fā)展成為環(huán)境試驗設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)之一。公司專業(yè)生產(chǎn)各類環(huán)境試驗設(shè)備：高低溫低氣壓試驗箱、液氮深冷低溫箱、CASS交變鹽霧箱、高低溫沖擊試驗箱、太陽能光伏組件濕凍試驗設(shè)備、溫度老化試驗室及各類非標產(chǎn)品,“林頻”生產(chǎn)的試驗設(shè)備可滿足GB、GJB、MIL、DIL、IEC等各行業(yè)各國家的標準，關(guān)于產(chǎn)品細節(jié)請致電021-34098999，如果您需要下載相關(guān)標準或產(chǎn)品技術(shù)資料，請登陸：http://www.linpin.com.cn！[詳細]
2018-09-03 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT 5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備

標準編號:GB/T5170.11-2008中文標準名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備代替標準號:GB/T5170.11-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設(shè)備,標準簡介:GB/T5170的本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于電工電子產(chǎn)品腐蝕氣體試驗所用的試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。國際標準分類號:19.040ZG標準分類號:K04標準狀態(tài):現(xiàn)行標準目錄:前言Ⅲ1范圍12規(guī)范性引用文件13檢驗項目14術(shù)語和定義15檢驗用主要儀器及要求26檢驗負載27檢驗條件28檢驗方法29數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果710檢驗周期7附錄A（規(guī)范性附錄）檢驗項目的選擇8引用標準:下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則GB/T6999環(huán)境試驗用相對濕度查算表GB/T16839.1熱電偶第1部分:分度表（GB/T16839.1-1997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件標準關(guān)注次數(shù):20次標準上傳日期:2010-11-24發(fā)布日期:2008-06-16實施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標準名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Corrosivegastestingequipments采用國際標準:無標準類別:國家標準標準頁數(shù):16頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細]
2018-09-05 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT 5170.9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法太陽輻射試驗設(shè)備

標準編號:GB/T5170.9-2008中文標準名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法太陽輻射試驗設(shè)備代替標準號:GB/T5170.9-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設(shè)備,標準簡介:GB/T5170的本部分規(guī)定了太陽輻射試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.24《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第2部分:試驗方法　試驗SA:模擬地面上的太陽輻射》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。國際標準分類號:19.040ZG標準分類號:K04標準狀態(tài):現(xiàn)行標準目錄:前言……………………………………………………Ⅰ1　范圍………………………………………………12　規(guī)范性引用文件…………………………………13　術(shù)語和定義………………………………………14　檢驗項目…………………………………………15　檢驗用主要儀器及要求…………………………16　檢驗負載…………………………………………27　檢驗條件…………………………………………28　檢驗方法…………………………………………29　數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果………………………610　檢驗周期………………………………………6附錄A（規(guī)范性附錄）　檢驗項目的選擇…………7引用標準:下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.24　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗　第2部分:試驗方法　試驗SA:模擬地面上的太陽輻射（GB/T2423.241995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射,IDTIEC60068-2-5:1975環(huán)境試驗第2-5部分:試驗試驗Sa:地面上的模擬太陽輻射）GB/T5170.12008　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法　總則GB/T5170.2　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法　溫度試驗設(shè)備GB/T16839.1　熱電偶　第1部分:分度表（GB/T16839.11997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751　工業(yè)鉑電阻敏感元件標準關(guān)注次數(shù):39次標準上傳日期:2009-10-22發(fā)布日期:2008-06-16實施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標準名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Solarradiationtestingequipments采用國際標準:無標準類別:國家標準標準頁數(shù):12頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細]
2018-09-05 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備

【雅士林品牌】恒溫恒濕試驗箱規(guī)格型號:型號工作室尺寸D×W×H外型尺寸D×W×HYSL-DHS-100450×450×500mm1150×900×1650mmYSL-DHS-225500×600×750mm1200×1100×1900mmYSL-DHS-500800×700×900mm1350×1280×2200mmYSL-DHS-800800×1000×1000mm1450×1480×2300mmYSL-DHS-0101000×1000×1000mm1650×1480×2300mmhttp://www.bjyashilin.com/product_show-37.html恒溫恒濕箱技術(shù)參數(shù)：溫度范圍：0℃～150℃溫度均勻度：±2℃（空載時）溫度波動度：±0.5℃（空載時）濕度范圍：30%～98%RH（溫度在25℃～80℃時）濕度偏差：+2、-3%RH升溫速率：1.0℃～3.0℃/min降溫速率：0.7℃～1.0℃/min時間設(shè)定范圍：1～9999小時[詳細]
2018-09-15 10:00
產(chǎn)品樣冊
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備[詳細]
2013-12-27 00:00
其它
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備[詳細]
2024-09-28 00:31
操作手冊
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備校驗方法溫度試驗設(shè)備

一、電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備校驗方法溫度試驗設(shè)備適用范圍：溫度：【0℃至150℃】，【-20℃至150℃】，【-40℃至150℃】，【-60℃至150℃】，,【-70℃至150℃】濕度：【20%至98%RH】二、電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備校驗方法溫度試驗設(shè)備表頭控制精度：溫度：【±0.3℃】濕度：【±2.5%RH】三、電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備校驗方法溫度試驗設(shè)備表頭解析精度：溫度：【0.1℃】濕度：【0.1%RH】四、升溫速率：3度/分鐘。五、降溫速率：1度/分鐘。六、電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備校驗方法溫度試驗設(shè)備機器結(jié)構(gòu)與材質(zhì)：1.內(nèi)箱尺寸：【50cm（W）×75cm（H）×60cm（D）】2.外箱尺寸：【105cm（W）×167cm（H）×116cm（D）】3.內(nèi)箱材質(zhì)：SUS＃304耐熱耐寒不銹鋼板。4.外箱材質(zhì)：SUS＃304高張力不銹鋼板，并經(jīng)多道薄膜游離層表面處理。5.保溫材質(zhì)：針對可程式恒溫恒濕試驗箱專用高密度玻璃棉及高強度PU發(fā)泡絕緣材料。6.防汗機件：以系統(tǒng)K型管之熱能作防汗處理。7.門氣密材料：高張力parking耐溫-90至280℃。8.附屬設(shè)備：a.可調(diào)式活動盤2只，可任意改變距離。b.外接用測試孔乙只，可作動態(tài)測試。c.廣角投射照明設(shè)備，采省電GX率日光燈。d.多層真空玻璃窗口，防爆型。e.附可調(diào)固定軸及活動輪4組。七、全自動恒溫恒濕設(shè)備冷凍系統(tǒng)及加熱系統(tǒng)：1.省電型GX率法國泰康壓縮機。2.采環(huán)保R404A冷煤。3.全程管路系統(tǒng)氮氣加壓測漏。4.波浪狀鰭片型強迫送風冷凝器。5.斜率式FINTUBE蒸發(fā)器。6.電磁閥；干燥過濾器等冷凍組件。7.內(nèi)螺旋式KTYPE冷媒銅管。8.UTYPE高速電熱管，加熱迅速。9.加溫、降溫系統(tǒng)完全獨立，不需手動控制。[詳細]
2018-10-11 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT 5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備

標準編號:GB/T5170.10-2008中文標準名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備代替標準號:GB/T5170.10-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備,標準簡介:本部分規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法》所用試驗設(shè)備的S次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。國際標準分類號:19.040ZG標準分類號:K04標準狀態(tài):現(xiàn)行標準目錄:前言Ⅲ1范圍12規(guī)范性引用文件13術(shù)語和定義14檢驗項目15檢驗用主要儀器及要求26檢驗負載27檢驗條件28檢驗方法29數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果710檢驗周期7附錄A（規(guī)范性附錄）檢驗項目的選擇8引用標準:下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.21電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法（GB/T2423.21-1993,NEQIEC60068-2-13環(huán)境試驗第2-13部分:試驗試驗M:低氣壓:1983）GB/T2423.25電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法（GB/T2423.25-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫／低氣壓綜合試驗,NEQIEC60068-2-40基本環(huán)境試驗規(guī)程第2-40部分:試驗試驗Z/AM:低溫/低氣壓組合試驗修改1:1976）GB/T2423.26電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法（GB/T2423.26-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫／低氣壓綜合試驗,NEQIEC60068-2-41基本環(huán)境試驗規(guī)程第2-41部分:試驗試驗Z/BM:干熱/低氣壓組合試驗修改1:1976）GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則GB/T5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備GB/T16839.1熱電偶第1部分:分度表（GB/T16839.1-1997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表）IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件標準關(guān)注次數(shù):49次標準上傳日期:2010-2-23發(fā)布日期:2008-06-16實施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標準名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Combinedhighandlowtemperature/lowairpressuretestingequipments采用國際標準:無標準類別:國家標準標準頁數(shù):16頁主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細]
2018-09-05 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT 5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備

GBT 5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備[詳細]
2013-11-20 00:00
應用文章
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GBT5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備

GBT5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備[詳細]
2013-11-19 00:00
標準
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備標準

本部分規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求，檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。[詳細]
2018-10-13 10:00
產(chǎn)品樣冊
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該會員其他資料: 高低溫試驗箱制冷工作原理; GB/T 16422.3-1997塑料紫外光老化試驗方法; 光老化試驗常見光源介紹; 油漆人工光照老化國家標準; 高溫試驗箱試驗方法; 氙燈耐氣候試驗箱運用優(yōu)點; GB/T 2423.3-93 恒定濕熱試驗方法; 如何了解氙燈耐氣候試驗箱的特性？; 真空干燥試驗箱常見問題分析; GJB 150.3-96 設(shè)備環(huán)境試驗方法-高溫試驗

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