本文由 杭州奧科環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備有限公司 整理匯編

2018-10-13 10:00 494閱讀次數(shù)

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)方法低溫

  本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Ab和試驗(yàn)Ad與早期版本無實(shí)質(zhì)性的差異，增加試驗(yàn)Ae的目的主要是檢測那些要求在整個(gè)試驗(yàn)過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運(yùn)行的設(shè)備。本低溫試驗(yàn)的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。本低溫試驗(yàn)不能用來評價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2433.22。[詳細(xì)]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)綜合試驗(yàn)方法

  GB/T2423.102-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）低氣壓振動(dòng)（正弦）綜合本部分規(guī)定了溫度（低溫、高溫）低氣壓振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)的基本要求，嚴(yán)酷等級(jí)，試驗(yàn)程序以及其他技術(shù)要求。本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度（低溫、高溫）低氣壓和振動(dòng)（正弦）綜合作用下的貯存，運(yùn)輸和使用的適用性。有溫度變化的綜合試驗(yàn)可參考本部分。更多資料信息請下載瀏覽附件[詳細(xì)]

  2018-08-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)方法沙塵試驗(yàn)

  本部分規(guī)定了確定空氣中懸浮的沙塵對產(chǎn)品的影響的試驗(yàn)方法。本試驗(yàn)方法不適用于檢測空氣過濾器，只有試驗(yàn)方法Lc2適用于模擬高速粒子的腐蝕效應(yīng)。[詳細(xì)]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)方法高溫

  本高溫試驗(yàn)的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或儲(chǔ)存的能力。本高溫試驗(yàn)不能用來評價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這情況下應(yīng)采用GB/T2423.22.[詳細(xì)]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 水試驗(yàn)方法：

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 水試驗(yàn)方法：[詳細(xì)]

  2024-10-03 20:15

  專利

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• GB_T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫

  GB_T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫相應(yīng)試驗(yàn)由中科美其（北京）科技有限公司試驗(yàn)設(shè)備公司的高低溫試驗(yàn)箱執(zhí)行。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB_T_2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)_第2_部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)A：低溫

  GB_T_2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)_第2_部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)A：低溫免費(fèi)下載地方:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)_第2部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)A：_低溫

  GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)_第2部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)A：_低溫[詳細(xì)]

  2018-10-02 10:03

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)方法試驗(yàn)B高溫

  本部分規(guī)定的高溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Bb和試驗(yàn)Bd與早期版本無實(shí)質(zhì)上的差異。本高溫試驗(yàn)的目的于用來確定元件，設(shè)備和其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。本高溫試驗(yàn)不能用來評價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22[詳細(xì)]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)方法高濃度二氧化硫試驗(yàn)

  本部分適用于確定電工電子產(chǎn)品及其使用材料在化學(xué)腐蝕環(huán)境條件下使用的適應(yīng)性。[詳細(xì)]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T2423.6-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：試驗(yàn)方法

  GB/T2423.6-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞上海覽浩儀器設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫標(biāo)準(zhǔn)簡介本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。本部分代替GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》，與之相比，主要變化如下：刪除了試驗(yàn)Aa：非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的低溫試驗(yàn)；刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；增加了試驗(yàn)Ae：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)_第2_部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)A：低溫

  GB/T2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)_第2_部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)A：低溫免費(fèi)下載：http://www.bjlihui.com北京北方利輝試驗(yàn)儀器設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫由中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局和ZG國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)2008年12月30號(hào)發(fā)布，GB/T2423.1-2008等同于國際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-1:2007.代替了GB/T2423.1-2001標(biāo)準(zhǔn)。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。本低溫試驗(yàn)的目的僅用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力，不能用來評價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)可使用武漢尚測試驗(yàn)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱來模擬試驗(yàn)的低溫環(huán)境。低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GBT 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 低溫低氣壓振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法

  GBT2423.42-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)低溫低氣壓振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法.pdf[詳細(xì)]

  2018-09-04 10:00

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• GB/T2423.8-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed

  GB/T2423.8-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed上海覽浩儀器設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法 <試驗(yàn)cab:恒定濕熱試驗(yàn)>

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法,第2部份:試驗(yàn)方法(試驗(yàn)cab恒定濕熱試驗(yàn))的標(biāo)準(zhǔn),對于生產(chǎn)環(huán)境設(shè)備的廠家而言,極為重要.所要根據(jù)恒定濕熱試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)制造生產(chǎn)的.為讓更多的新老顧客了解我們工廠的研發(fā)生產(chǎn)實(shí)力，進(jìn)一步放心的與東莞皓天合作;讓大家都知道本公司生產(chǎn)的恒溫恒濕試驗(yàn)箱中都要依據(jù)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法,第2部份:試驗(yàn)方法(試驗(yàn)cab恒定濕熱試驗(yàn))的標(biāo)準(zhǔn)。同時(shí)也根據(jù)顧客的需求訂造，全國標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)，放心使用。工廠主要制造:恒溫恒濕試驗(yàn)箱,高低溫試驗(yàn)箱,高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱,紫外線老化試驗(yàn)箱,冷熱沖擊試驗(yàn)箱,淋雨試驗(yàn)箱等環(huán)境設(shè)備.產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于航天、、高校、IT、通迅、半導(dǎo)體、光電、電子、電器、線材、塑膠、五金、化工、皮革、YL、科研機(jī)構(gòu)和企事業(yè)單位等行業(yè)領(lǐng)域。[詳細(xì)]

  2018-11-09 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法

  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2024-09-17 01:54

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)和沖擊

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法：試驗(yàn)和沖擊目的是提供一種確定樣品承受規(guī)定嚴(yán)酷等級(jí)沖擊能力的標(biāo)準(zhǔn)方法。[詳細(xì)]

  2018-10-13 10:00

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• GB-T2423.30-1999電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程：試驗(yàn)方法試驗(yàn)XA

  GB-T2423.30-1999電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程：試驗(yàn)方法試驗(yàn)XA：和導(dǎo)則在清洗劑中浸漬免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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