本文由 上?？茖W(xué)儀器有限公司 整理匯編

2018-09-19 10:00 2624閱讀次數(shù)

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• GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗B：高溫

  GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗B：高溫免費(fèi)下載地址：北京北方利輝試驗設(shè)備有限公司是一家專業(yè)致力于試驗設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)、銷售與一體的高新技術(shù)企業(yè)，公司位于交通便利、工業(yè)繁華的北京市大興工業(yè)開發(fā)區(qū)。自成立以來,公司認(rèn)真精細(xì)地完善每一步檢驗程序,嚴(yán)格要求產(chǎn)品的每一步工藝流程,追求的wan美品質(zhì)。依托企業(yè)自身的人才、技術(shù)、資金為科研、軍事、航空、航天、電子、汽車、石油、化工、YL、通訊、各大院校等單位，提供符合GB、GJB、IEC、MIL、DIN等標(biāo)準(zhǔn)的各類環(huán)境試驗儀器及檢測設(shè)備,并可根據(jù)用戶的需求設(shè)計制造各類非標(biāo)專業(yè)性設(shè)備。利輝堅持“以人為本,以科技為導(dǎo)向的原則”!用嚴(yán)格的管理手段及過硬的產(chǎn)品質(zhì)量為廣大客戶提供Zyou質(zhì)的試驗設(shè)備,關(guān)心客戶的切身利益,服務(wù)周到完善,為客戶的發(fā)展提供可靠的支持。秉承“品質(zhì)成就品牌”的經(jīng)營理念,一如既往地為廣大新老客戶提供Z專業(yè)優(yōu)質(zhì)的試驗設(shè)備和服務(wù),樹立利輝品牌。為方便廣大客戶提供全方位的的售前咨詢、售后服務(wù)，公司在上海、杭州、江蘇、武漢、深圳、安徽、河南均設(shè)有辦事處.利輝堅信;通過我們的合作與努力將達(dá)到我們共同的目標(biāo)品質(zhì)成就品牌!產(chǎn)品系列:鹽霧腐蝕試驗箱/二氧化硫試驗箱/高溫試驗箱/低溫試驗箱/恒溫試驗箱/恒溫恒濕試驗箱/高低溫試驗箱/交變高低溫濕熱試驗箱/溫度沖擊試驗箱/紫外光老化試驗箱/氙弧燈耐氣候試驗箱/臭氧老化試驗箱/換氣老化試驗箱/霉菌試驗箱/沙塵試驗箱/淋雨試驗箱/擺管淋雨試驗設(shè)備/滴水試驗設(shè)備/振動試驗機(jī)/高溫烘箱/真空干燥箱/精密干燥箱/二氧化碳培養(yǎng)箱/光照培養(yǎng)箱/生化培養(yǎng)箱/恒溫培養(yǎng)箱/電熱鼓風(fēng)干燥箱/熱空氣消毒箱/防銹油脂試驗箱/大型鹽霧試驗室/大型低溫恒溫試驗室/大型高低溫檢測試驗室[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

  GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫標(biāo)準(zhǔn)簡介GB/T2423的本部分規(guī)定的高溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ｂｂ和試驗Ｂｄ與早期版本無實(shí)質(zhì)上的差異１）。１）IEC60068-2-2:2007原文在句前有“對于非散熱試驗樣品”。本高溫試驗的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。本高溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。本高溫試驗方法細(xì)分為以下幾種：非散熱試驗樣品高溫試驗：●　試驗Ｂｂ，溫度漸變。散熱試驗樣品高溫試驗：●　試驗Ｂｄ，溫度漸變；●　試驗Ｂｅ，溫度漸變，試驗樣品在整個試驗過程通電。本部分給出的試驗方法通常用于試驗期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫

  GB/T2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫免費(fèi)下載：http://www.bjlihui.com北京北方利輝試驗儀器設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• GB_T_2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫

  GB_T_2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫免費(fèi)下載地方:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T 2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗

  GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗免費(fèi)下載地址：http://www.bjlihui.com北京北方利輝試驗設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗方法試驗B高溫

  本部分規(guī)定的高溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Bb和試驗Bd與早期版本無實(shí)質(zhì)上的差異。本高溫試驗的目的于用來確定元件，設(shè)備和其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。本高溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22[詳細(xì)]

  2018-10-13 10:00

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• GB/T2423.2-2008代替GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗B；高溫

  GB/T2423.2-2008代替GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B；高溫免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫標(biāo)準(zhǔn)簡介本部分規(guī)定的低溫試驗適用非散熱和散熱試驗樣品。本部分代替GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》，與之相比，主要變化如下：刪除了試驗Aa：非散熱試驗樣品溫度突變的低溫試驗；刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；增加了試驗Ae：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗試驗樣品在整個試驗過程通電。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫由中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局和ZG國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會2008年12月30號發(fā)布，GB/T2423.1-2008等同于國際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-1:2007.代替了GB/T2423.1-2001標(biāo)準(zhǔn)。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。本低溫試驗的目的僅用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力，不能用來評價試驗樣品耐溫度變化能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗可使用武漢尚測試驗設(shè)備有限公司生產(chǎn)的低溫恒定濕熱試驗箱來模擬試驗的低溫環(huán)境。低溫恒定濕熱試驗箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

  GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2_部分：試驗方法_試驗B：高溫GB/T2423.2是GB/T2423.2標(biāo)準(zhǔn)的第2部分，GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見資料附錄NA.本部分等同采用IEC60068-2-2：2007(環(huán)境試驗第2-2部分：試驗試驗B：干熱)。本部分與IEC60068-2-2：2007相比，主要做了下列編輯性修改：--本部分的名稱改為：（電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫）；--"本標(biāo)準(zhǔn)"一詞改為："本部分"；--刪除了IEC60068-2-2：2007前言；--刪除了IEC60068-2-2：2007引言，將其內(nèi)容轉(zhuǎn)化為增加的資料性附錄NB的內(nèi)容；[詳細(xì)]

  2018-10-25 10:00

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• GB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法 試驗Db:交變濕熱（12h+12h循環(huán)）

  GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法試驗Db:交變濕熱（12h+12h循環(huán)）免費(fèi)下載地址：http://www.bjlihui.comE-mail:lihui@bjlihui.com北京北方利輝試驗設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T 2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗L:沙塵試驗

  GB/T2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗L:沙塵試驗標(biāo)準(zhǔn)簡介本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC60068-2-68：2001，本標(biāo)準(zhǔn)描述了沙塵試驗的基本結(jié)構(gòu)，規(guī)定了確定空氣中懸浮的沙塵對產(chǎn)品的影響的試驗方法。替代情況：替代GB/T2423.37-1989[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.2-89電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗B：高溫試驗方法

  GB/T2423.2-89電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗B：高溫試驗方法標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：已作廢代替情況：被GB/T2423.2-2001代替[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗方法高溫

  本高溫試驗的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或儲存的能力。本高溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這情況下應(yīng)采用GB/T2423.22.[詳細(xì)]

  2018-10-13 10:00

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• GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化

  GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化標(biāo)準(zhǔn)簡介：GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化國家標(biāo)準(zhǔn)(GB)GB/T2423.22-2002溫度變化試驗適用于確定一次或連續(xù)多次溫度變化對試驗樣品的影響。本試驗不能用來考核僅由高溫或低溫所引起的影響，對這種影響，應(yīng)使用高溫或低溫試驗方法。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB_T2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分 試驗方法 試驗B 高溫試驗

  GB_T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分試驗方法試驗B高溫試驗相應(yīng)試驗由中科美其（北京）科技有限公司試驗設(shè)備公司提供的高低溫試驗箱或高溫恒溫試驗箱執(zhí)行。高低試驗箱可以做150℃以下的高低溫試驗，高溫恒溫箱可以做室溫+10℃~200；300；400℃的試驗。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

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• GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed:自由跌落

  GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed:自由跌落本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T2423.8-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗方法試驗Ed:自由跌落試驗方法》和GB2424.6-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程自由跌落試驗導(dǎo)則》[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• GB-T2423.26-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗ZBM：高溫低氣壓綜合試驗

  GB-T2423.26-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗ZBM：高溫低氣壓綜合試驗免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• GB_T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

  GB_T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫相應(yīng)試驗由中科美其（北京）科技有限公司試驗設(shè)備公司的高低溫試驗箱執(zhí)行。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

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• GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗A：_低溫

  GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗A：_低溫[詳細(xì)]

  2018-10-02 10:03

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