● 閃爍材料對(duì)于各類 X 射線探測(cè)應(yīng)用至關(guān)重要,涵蓋醫(yī)學(xué)成像、產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)、安全檢查以及科學(xué)研究等領(lǐng)域。
● 借助配備 XS1 樣品倉(cāng)的愛丁堡儀器公司 FLS1000 光譜儀,測(cè)量CsPbBr?納米晶體的輻射發(fā)光特性。
● 在50 kV X射線照射下,這些材料在 536 nm處呈現(xiàn)最大輻射發(fā)光發(fā)射,壽命為 29.4 ns。
閃爍體是一類可將 X 射線轉(zhuǎn)化為紫外或可見光,以便用光電探測(cè)器或成像傳感器進(jìn)行探測(cè)的材料。這類材料在包括醫(yī)學(xué)成像、安檢和科學(xué)研究等廣泛應(yīng)用中需求很高。CsPbBr?納米晶體(NCs)因其明亮的輻射發(fā)光(RL)、高 X 射線吸收率和低探測(cè)限而備受關(guān)注。
使用不同體積(0.0、0.05、0.1、0.2、0.4、0.8 mL)的油胺(OAM)CsPbBr?納米晶體。利用 FLS1000 光譜儀和 XS1測(cè)量 CsPbBr?納米晶體的 RL 發(fā)射(圖 1)。在 60 kV X 射線、管電流 100 μA 的激發(fā)下,測(cè)量樣品的穩(wěn)態(tài) RL 發(fā)射。使用時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)(TCSPC)技術(shù),結(jié)合激光激發(fā)的 40 kV 脈沖 X 射線源,獲取時(shí)間分辨 RL 衰減數(shù)據(jù)。
圖1:愛丁堡儀器公司的 XS1 樣品倉(cāng)
閃爍特性在 XS1 樣品倉(cāng)中進(jìn)行表征,結(jié)果見圖 2。CsPbBr?/PMMA在 536 nm 處產(chǎn)生發(fā)射帶(圖 2a )。發(fā)現(xiàn)其輻射發(fā)光強(qiáng)度隨 OAM 濃度(圖 2b)和納米晶體負(fù)載量(圖 2c)的增加而增強(qiáng) 。
利用脈沖 X 射線源測(cè)量 4% CsPbBr?/PMMA的輻射發(fā)光衰減,呈現(xiàn)三指數(shù)衰減,平均輻射發(fā)光壽命為 29.4 ns(圖 2d ),這比商用閃爍體(如 CsI:Tl,衰減時(shí)間約 680 ns)快得多 。這些結(jié)果體現(xiàn)了所制備的 CsPbBr?/PMMA在輻射發(fā)光性能上的特點(diǎn),尤其是衰減速度優(yōu)勢(shì),在相關(guān)閃爍應(yīng)用場(chǎng)景(如探測(cè)等領(lǐng)域)可能有潛在價(jià)值 。
圖2:(a)CsPbBr?/PMMA的輻射發(fā)光發(fā)射光譜 。(b)CsPbBr?/PMMA RL發(fā)射隨 OAM的關(guān)系圖 。(c)CsPbBr?/PMMA負(fù)載量變化的關(guān)系圖 。(d)CsPbBr?/PMMA的 RL 壽命衰減及擬合情況 。
在本研究亮點(diǎn)中,展示了配備 XS1樣品倉(cāng)的 FLS1000 如何用于表征新型閃爍體。閃爍體的 RL 發(fā)射強(qiáng)度可通過(guò)表面活性劑濃度和 NC 負(fù)載量進(jìn)行調(diào)節(jié) 。這些材料在 536 nm 處呈現(xiàn)最大 RL 發(fā)射帶,且壽命短(29.4 ns),證明其具備作為 X 射線探測(cè)器的能力,明確了測(cè)試設(shè)備對(duì)新型閃爍體材料的表征作用,以及材料自身可調(diào)控的發(fā)光強(qiáng)度、特定的發(fā)射光譜和短壽命等特性,凸顯其在 X 射線探測(cè)應(yīng)用方面的潛力。
1.Ghosh, J. et al. Surfactant-Dependent Bulk Scale Mechanochemical Synthesis of CsPbBr3 Nanocrystals for Plastic Scintillator-Based X-ray Imaging. ACS Appl. Nano. Mater. 6, (2023).
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