半導體參數(shù)測試儀系統(tǒng)
陜西天士立科技有限公司/STD2000/半導體參數(shù)測試儀系統(tǒng)可以測試Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR等電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)和IV曲線(如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導通內阻Rds(on))。測試種類覆蓋 7 大類別26分類,包括“二極管類”“三極管類(如BJT、MOSFET、IGBT)”“保護類器件”“穩(wěn)壓集成類”“繼電器類”“光耦類”“傳感監(jiān)測類”等品類的繁多的電子元器件高壓源標配1400V(選配2KV),高流源標配100A(選配40A,200A,500A)控制極/柵極電壓40V,柵極電流100mA分辨率至1.5uV / 1.5pA,精度可至0.1%
陜西天士立半導體參數(shù)測試儀STD2000
1、STD2000/半導體分立器件靜態(tài)參數(shù)測試儀系統(tǒng) 2、一機多用:一臺設備可以覆蓋常見的很多元器件,如Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR、OC/光耦等 3、分辨率高:Z高至1.5uV / 1.5pA, 4、精度有保證:0.1% / 16 位 ADC、1M/S 采樣率 5、測試參數(shù)全面:靜態(tài)參數(shù)+IV曲線(如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導/Gfe/Gfs、壓降/Vf、內阻Rds(on))/6、高壓源:標配1400V 選配2KV/7、高流源:標配100A 選配40A,200A,500A 8、柵極電壓:40V 9、柵極電流:100mA
功率半導體參數(shù)測試儀
華科智源功率器件測試儀,測試二極管 、IGBT,MOS管,SIC器件靜態(tài)參數(shù),并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉移曲線,測試1600A,5000V以下的各種功率器件,廣泛應用于器件設計,封裝測試,軌道交通,電動汽車 ,風力發(fā)電,變頻器,焊機等行業(yè)的IGBT來料選型和失效分析。
功率半導體參數(shù)測試儀
華科智源功率半導體參數(shù)測試儀,測試二極管 、IGBT,MOS管,SIC器件靜態(tài)參數(shù),并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉移曲線,測試1600A,5000V以下的各種功率器件,廣泛應用于器件設計,封裝測試,軌道交通,電動汽車 ,風力發(fā)電,變頻器,焊機等行業(yè)的IGBT來料選型和失效分析。
Agilent4156C/安捷倫4156C半導體參數(shù)分析儀
Agilent4156C/安捷倫4156C半導體參數(shù)分析儀 Agilent 4155C 半導體參數(shù)分析儀是用于高級器件表征的精確實驗室臺式解決方案。Agilent 41501B 擴展器將您的功能擴展到 1A/200V,并在 Agilent 4155C 上添加了一個低噪聲接地單元和雙脈沖發(fā)生器。
現(xiàn)貨惠普4155B+HP4155A半導體參數(shù)測試儀
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Agilent/安捷倫4155C 半導體參數(shù)分析儀
Agilent/安捷倫4155C 半導體參數(shù)分析儀 描述 Keysight 4155C 半導體參數(shù)分析儀是一款經(jīng)濟gao效、精確、適用于先進器件表征的實驗室用臺式解決方案。41501B Expander 可將儀器的測量范圍擴展至 1A/200V,并為 4155C 添加低噪聲接地單元和雙脈沖發(fā)生器。
Agilent/安捷倫4155C半導體參數(shù)分析儀
Agilent/安捷倫4155C半導體參數(shù)分析儀 安捷倫4155C半導體參數(shù)分析儀是一款經(jīng)濟GX、適用于先進器件表征的實驗室用臺式解決方案。41501B?Expander?可將儀器的測量范圍擴展至?1A/200V,并為4155C添加低噪聲接地單元和雙脈沖發(fā)生器。
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