資料庫(kù)
半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)
-
本文由 陜西天士立科技有限公司 整理匯編
2024-09-14 19:11 174閱讀次數(shù)
文檔僅可預(yù)覽首頁(yè)內(nèi)容,請(qǐng)下載后查看全文信息!
-
立即下載
技術(shù)規(guī)格、功能配置、參數(shù)性能、下載查閱
相關(guān)產(chǎn)品
登錄或新用戶注冊(cè)
請(qǐng)用手機(jī)微信掃描下方二維碼
快速登錄或注冊(cè)新賬號(hào)
微信掃碼,手機(jī)電腦聯(lián)動(dòng)
更多資料
-
半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)
- 技術(shù)規(guī)格、功能配置、參數(shù)性能、下載查閱[詳細(xì)]
-
2024-09-14 19:11
標(biāo)準(zhǔn)
-
GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法
- 免費(fèi)服務(wù)熱線:400-0000-217E-mail:info@hongzhan.com.hkhttp://www.bjhongzhan.com/GJB128A-1997半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法售后服務(wù)承諾:用戶的滿意是我們服務(wù)的宗旨,完善的售后服務(wù)使您解除一切后顧之憂,我們堅(jiān)信一個(gè)好的企業(yè)賣出去的不僅僅是一臺(tái)好的產(chǎn)品,更重要的是良好的服務(wù)。宏展儀器主營(yíng):溫度試驗(yàn)箱;高溫試驗(yàn)箱;低溫試驗(yàn)箱;高低溫試驗(yàn)箱;高低溫交變?cè)囼?yàn)箱;濕熱試驗(yàn)箱;高溫高濕試驗(yàn)箱;恒定濕熱試驗(yàn)箱;高低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱;高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱;溫變?cè)囼?yàn)箱;快速溫度變化試驗(yàn)箱;溫度沖擊箱;高低溫沖擊試驗(yàn)箱;環(huán)境試驗(yàn)室;步入式高溫試驗(yàn)室;步入式高低溫試驗(yàn)室;步入式高低溫恒定濕熱試驗(yàn)室;步入式高低溫交變濕熱試驗(yàn)室;高溫試驗(yàn)箱;真空干燥箱;耐候試驗(yàn)箱;紫外耐候試驗(yàn)箱;鹽霧試驗(yàn)箱;鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱;模擬運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái);跌落試驗(yàn)臺(tái);蒸氣老化試驗(yàn)機(jī)等其它環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備.另可依客戶要求之尺寸制作試驗(yàn)室,滿足客戶的要求。歡迎廣大客戶來(lái)電來(lái)函咨詢訂購(gòu)![詳細(xì)]
-
2018-08-31 10:11
產(chǎn)品樣冊(cè)
-
半導(dǎo)體器件特性參數(shù)分析儀
- 技術(shù)規(guī)格、參數(shù)配置、量程精度[詳細(xì)]
-
2024-09-11 17:56
標(biāo)準(zhǔn)
-
半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀
- 技術(shù)規(guī)格,參數(shù)性能,功能配置。請(qǐng)下載查看。[詳細(xì)]
-
2024-09-14 19:13
標(biāo)準(zhǔn)
-
半導(dǎo)體功率器件曲線分析儀
- 技術(shù)規(guī)格、參數(shù)性能、量程精度[詳細(xì)]
-
2024-09-14 19:10
標(biāo)準(zhǔn)
-
奧龍X射線半導(dǎo)體器件檢測(cè)儀研制成功
- 奧龍X射線半導(dǎo)體器件檢測(cè)儀研制成功[詳細(xì)]
-
2024-09-12 18:32
選購(gòu)指南
-
OLED QLED發(fā)光器件壽命測(cè)試系統(tǒng)
- OLED QLED發(fā)光器件壽命測(cè)試系統(tǒng)[詳細(xì)]
-
2023-02-16 14:34
應(yīng)用文章
-
德國(guó)IPLAS MPCVD CYRANNUS? 專利技術(shù) 第四代半導(dǎo)體,熱沉器件,光學(xué)窗口
- 德國(guó)IPLAS MPCVD CYRANNUS? 專利技術(shù)
第四代半導(dǎo)體,熱沉器件,光學(xué)窗口
Augsburg Diamond Technology GmbH利用化學(xué)氣相沉積技術(shù)在外源襯底(異質(zhì)外延)上合成單晶金剛石。同外延的普遍概念是需要適當(dāng)尺寸的單晶金剛石作為種子,與此相反,我們的新方法采用多層體系Ir/YSZ/Si作為可擴(kuò)展的襯底。 這一創(chuàng)新有助于S次在直徑達(dá)100毫米的圓盤(pán)上合成單晶金剛石。[詳細(xì)]
-
2024-09-14 19:11
產(chǎn)品樣冊(cè)
-
安全帶靜態(tài)測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)
- 安全帶靜態(tài)測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]
-
2016-10-20 09:55
專利
-
半導(dǎo)體曲線測(cè)試儀CS5100,cs3000,cs10000
- 半導(dǎo)體特性曲線圖示儀CS-3000系列(符合UL規(guī)格)TOPZda峰值電壓:3000V(高電壓模式,適合所有型號(hào))Zda峰值電流:1000A(CS-3300高電流模式)所有型號(hào)均支持漏電流(LEAKAGE)測(cè)試模式(光標(biāo)分辨率:1pA)USB接口(保存屏幕圖像和設(shè)置條件)LAN接口(遠(yuǎn)程控制)產(chǎn)品系列產(chǎn)品名稱型號(hào)備注主機(jī)半導(dǎo)體特性曲線圖示儀CS-31003000V/無(wú)高電流模式-CS-301/CS-500半導(dǎo)體特性曲線圖示儀CS-32003000V/400A(高電流模式)-CS-302/CS-500半導(dǎo)體特性曲線圖示儀CS-33003000V/1000A(高電流模式)-CS-302/CS-500測(cè)試臺(tái)S型測(cè)試臺(tái)CS-301CS-3100標(biāo)配M型測(cè)試臺(tái)CS-302CS-3200/CS-3300標(biāo)配測(cè)試適配器測(cè)試適配器CS-500主控裝置附送1個(gè)測(cè)試適配器TO型測(cè)試適配器CS-501適用于TO型封裝(3個(gè)引腳)的插口鱷魚(yú)夾小型鱷魚(yú)夾(紅色)x10CS-001M型測(cè)試臺(tái)選件:CS-302小型鱷魚(yú)夾(黑色)x10CS-002M型測(cè)試臺(tái)選件:CS-302軟件選件半導(dǎo)體參數(shù)搜索CS-800該軟件選件需與CS-3000系列配合安裝半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)量CS-810主控裝置中裝有CS-800時(shí),該選項(xiàng)可以在PC(可選)上使用。[詳細(xì)]
-
2018-08-13 16:03
產(chǎn)品樣冊(cè)
-
ST2722半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀 操作手冊(cè)
- 半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀粉末電阻率儀型號(hào):ST2722ST2722型半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀是運(yùn)用四端子法或四探針?lè)y(cè)試粉末電阻率的測(cè)量?jī)x器。儀器組成:整套儀器有主機(jī)和粉末測(cè)試臺(tái)兩大部分組成。主機(jī)是整個(gè)系統(tǒng)電氣控制顯示核心部分,主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)單元以及壓力厚度顯示單元組成。粉末測(cè)試臺(tái)是連接測(cè)試主機(jī),用來(lái)裝夾半導(dǎo)體粉末(含高分子粉末和金屬粉末等),進(jìn)行壓力施加(壓片),并同步進(jìn)行電阻率測(cè)試的裝置(以下簡(jiǎn)稱測(cè)試臺(tái))。測(cè)試臺(tái)為粉末標(biāo)準(zhǔn)容器、電極、加壓機(jī)構(gòu)、壓力檢測(cè)、厚度檢測(cè)、連接線纜等單元組成。北京同德創(chuàng)業(yè)專業(yè)鑄造品質(zhì)優(yōu)勢(shì)特征:測(cè)試臺(tái)設(shè)計(jì),符合國(guó)標(biāo)和行業(yè)規(guī)范,國(guó)內(nèi)領(lǐng)xian,并獲國(guó)家ZL。有兩款。四端子法符合GB/T24521-2009和YS/T587.6-2006有關(guān)國(guó)標(biāo)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。采用國(guó)際通用的電流、電壓四端子測(cè)量法(儀器電流源和電壓表兩個(gè)單元分別從獨(dú)立回路連至電極同時(shí)和樣品接觸),可以消除電極與連接導(dǎo)線導(dǎo)通電阻產(chǎn)生的誤差,克服了傳統(tǒng)的二端法測(cè)量粉末電阻率儀器的弊病,可以真實(shí)地、準(zhǔn)確地測(cè)量出粉末樣品的電阻率,因此重復(fù)性也好。四探針?lè)y(cè)試臺(tái)設(shè)計(jì)符合符合ZxinGBT30835-2014《鋰離子電池用炭復(fù)合磷酸鐵鋰正極材料》中關(guān)于粉末電阻率測(cè)試的原理和規(guī)范,參照GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。北京同德創(chuàng)業(yè)專業(yè)鑄造品質(zhì)四探針?lè)ㄍ綁毫B續(xù)測(cè)試粉末“電阻率-壓強(qiáng)曲線,”國(guó)內(nèi)**,行業(yè)領(lǐng)xian,行業(yè)推薦粉末電阻率標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方式。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤(pán)輸入;具有零位、滿度自校功能;電壓電流全自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程;測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。壓力機(jī)構(gòu)采用手動(dòng)操作,壓力(壓強(qiáng))平穩(wěn)可調(diào)、可保持。電子傳感器自動(dòng)同步檢測(cè)、顯示壓力(壓強(qiáng))值和樣本高度。故本測(cè)試臺(tái)可一邊加壓一邊同步測(cè)試電阻率,可方便測(cè)繪粉末樣品“電阻率-壓強(qiáng)”的性能曲線;也可以單獨(dú)作為粉末壓制成片的工具使用,成片后可脫模取出,用普通四探針?lè)y(cè)試相關(guān)參數(shù)!本測(cè)試儀配有成套PC軟件,故不但可以單獨(dú)(脫機(jī))操作,還可以連接PC軟件,自動(dòng)保存當(dāng)前測(cè)試數(shù)據(jù)、查詢并統(tǒng)計(jì)分析歷史數(shù)據(jù)、打印測(cè)試報(bào)告等!本儀器具有測(cè)量精度高,操作簡(jiǎn)便、穩(wěn)定性好,重復(fù)性好,一機(jī)多用使用方便等特點(diǎn)。也是區(qū)別于以往舊款同類測(cè)試臺(tái)新特點(diǎn)!本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗(yàn)和分析固態(tài)和粉態(tài)樣品質(zhì)量的一種重要優(yōu)良工具。北京同德創(chuàng)業(yè)專業(yè)鑄造品質(zhì)三、技術(shù)參數(shù)1.電阻率測(cè)量范圍、分辨率電阻率:15.0×10-6~200.0×103Ω-cm分辨率1.5×10-6~0.1×103Ω-cm(1.0×10-6~200.0×101Ω-cm分辨率0.1×10-6~0.1×101Ω-cm)2.電阻率量程劃分及誤差等級(jí)滿度顯示200.020.002.000200.020.002.000200.020.00Zda拓展量程KΩ-cmΩ-cmmΩ-cm基本誤差±2%讀數(shù)±4字±1.5%讀數(shù)±4字±0.5%讀數(shù)±2字±0.5%讀數(shù)±4字3.數(shù)字電壓表:北京同德創(chuàng)業(yè)專業(yè)鑄造品質(zhì)⑴量程:10mV~100mV,自動(dòng)⑵顯示:4位有效數(shù)字,Zda顯示999.9小數(shù)點(diǎn)、單位自動(dòng)顯示4.數(shù)控恒流源電流輸出:直流電流0.1A~1000mA可調(diào),系統(tǒng)自動(dòng)步進(jìn)調(diào)整。5.粉末測(cè)試臺(tái)部分參數(shù):(1)、試樣成份:成份不限,但不得含有對(duì)測(cè)試臺(tái)和電極有腐蝕作用的成份。(2)、試樣粒度:標(biāo)準(zhǔn)以40目以下60目以上(標(biāo)準(zhǔn)篩網(wǎng)),一般其他粒度也可?。?)、試樣容器:內(nèi)徑:Φ11.28mm(S=1.0cm2)高度:0~20mm可調(diào),帶高度傳感器監(jiān)測(cè),測(cè)量誤差:±0.05mm。(4)、測(cè)試壓強(qiáng)北京同德創(chuàng)業(yè)專業(yè)鑄造品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)壓強(qiáng):P0=4Mpa±0.05Mpa。壓強(qiáng)量程:20Mpa,P=0~20Mpa可調(diào)。(5)、壓力機(jī)構(gòu)采用手動(dòng)操作、壓力平穩(wěn)可調(diào)。四位有效顯示數(shù)00.00~20.00MPa,分別率±0.01MPa。6.測(cè)試儀外形與重量北京同德創(chuàng)業(yè)專業(yè)鑄造品質(zhì)前寬×長(zhǎng)×總高=250mm×220mm×540mm重量=10Kg7.電源:功耗:<10W輸入:220V±10%50Hz8.本儀器工作條件為:溫度:0-40℃相對(duì)濕度:≥60%工作室內(nèi)應(yīng)無(wú)強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾,不與高頻設(shè)備共用電源。[詳細(xì)]
-
2018-10-05 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
-
Ev2靜態(tài)變形模量測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)
- Ev2靜態(tài)變形模量測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]
-
2024-09-28 01:21
應(yīng)用文章
-
半導(dǎo)體激光器參數(shù)測(cè)試儀
- 半導(dǎo)體激光器參數(shù)測(cè)試儀[詳細(xì)]
-
2012-04-28 00:00
安裝說(shuō)明
-
轉(zhuǎn)向參數(shù)測(cè)試儀
- 轉(zhuǎn)向參數(shù)測(cè)試儀[詳細(xì)]
-
2012-07-06 00:00
其它
-
靜態(tài)應(yīng)變測(cè)試分析系統(tǒng) HAD-TST3822
- 靜態(tài)應(yīng)變測(cè)試分析系統(tǒng)型號(hào);HAD-TST3822概述 HAD-TST3822靜態(tài)應(yīng)變測(cè)試分析系統(tǒng)適用于學(xué)生實(shí)驗(yàn)以及小型工程,可單臺(tái)手動(dòng)控制,也可通過(guò)USB與計(jì)算機(jī)連接控制,單臺(tái)計(jì)算機(jī)可控制64臺(tái);有10測(cè)點(diǎn)、20測(cè)點(diǎn)、(10+1)測(cè)點(diǎn)三種采集箱可供用戶選擇,各測(cè)點(diǎn)可分別組橋,方式為全橋、半橋、1/4橋(設(shè)公共補(bǔ)償端子),各測(cè)點(diǎn)參數(shù)單獨(dú)設(shè)定,能同時(shí)測(cè)量應(yīng)變、位移、壓力、力等物理量;高清大面積數(shù)碼管直接顯示測(cè)量結(jié)果,人性化的按鍵操作,用戶可以很方便的查看各測(cè)點(diǎn)的測(cè)量情況。技術(shù)指標(biāo)1.儀器接口:USB2.02.單臺(tái)采集箱測(cè)點(diǎn)數(shù):10、20、10+13.單臺(tái)計(jì)算機(jī)可控制Zda測(cè)點(diǎn)數(shù):640、1280、7044.Z高采樣頻率:1Hz5.A/D分辨率:16位6.顯示方式:計(jì)算機(jī)顯示/LED7.控制方式:計(jì)算機(jī)/手動(dòng)8.擴(kuò)展方式:串行9.Zda采集箱間距離:100m10.Z高分辨率:1με11.測(cè)量應(yīng)變范圍:±19999με12.自動(dòng)平衡范圍:±15000με(R=120Ω,K=2.0時(shí)應(yīng)變計(jì)阻值的±1.5%)13.應(yīng)變計(jì)電阻值范圍:50~10000Ω任意設(shè)定14.應(yīng)變計(jì)靈敏度系數(shù):1.0~3.0自動(dòng)修正15.長(zhǎng)導(dǎo)線電阻修正范圍:0.0~100Ω16.系統(tǒng)不確定度:不大于0.5%±3με17.漂移(程控狀態(tài)):±3με/4小時(shí)(零漂);±1με/℃(溫漂)18.供橋電壓:DC2V±0.1%19.電源:AC220V(±10%)50Hz(±2%)20.功率:約15W21.電磁兼容試驗(yàn)符合A類指標(biāo)22.使用環(huán)境:適用于GB6587.1-86-Ⅱ組條件23.外形尺寸:340mm(長(zhǎng))×239mm(寬)×100mm(高)(10測(cè)點(diǎn)) 340mm(長(zhǎng))×311mm(寬)×100mm(高)(20、10+1測(cè)點(diǎn))24.儀器自重:10測(cè)點(diǎn)約4kg,20測(cè)點(diǎn)約5kg,10+1測(cè)點(diǎn)約4.5kg[詳細(xì)]
-
2018-09-24 10:01
產(chǎn)品樣冊(cè)
-
4155B / 4156B 4155B/4156B 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀用戶手冊(cè)
- 4155B/4156B4155B/4156B半導(dǎo)體參數(shù)分析儀描述Asacourtesytocustomers,onthispageyoucanfindPDFversionsofsomeofthetechnicalliteraturefortheseproducts.The4155Band4156BwerediscontinuedonDecember1,2000andareundersupportthroughJanuary31,2006.The4155CSemiconductorParameterAnalyzerreplacesthe4155B,andthe4156CPrecisionSemiconductorParameterAnalyzerreplacesthe4156B.Pleaserefertothewebpagesfortheseproductsformoreinformation.Note:Discontinuedmeansthattheproductisnolongersold,whileobsoletemeansthattheproductisnolongersupported.AgilentTechnologiesnormallysupportsproductsforaminimumof5yearsafterdiscontinuance.[詳細(xì)]
-
2018-09-03 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
-
熱電材料器件轉(zhuǎn)化效率測(cè)試系統(tǒng) CEA產(chǎn)品樣冊(cè)
- 熱電材料器件轉(zhuǎn)化效率測(cè)試系統(tǒng) CEA產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]
-
2016-10-20 10:07
安裝說(shuō)明
-
安全帶整體靜態(tài)負(fù)荷測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)
- 安全帶整體靜態(tài)負(fù)荷測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]
-
2016-10-20 09:55
選購(gòu)指南
-
四探針半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀測(cè)試原理
- 四探針半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀是一種用于測(cè)量材料電阻率的儀器。它采用了四個(gè)探針,通過(guò)測(cè)量材料電阻對(duì)電流的響應(yīng)來(lái)計(jì)算出材料的電阻率。下面將詳細(xì)介紹這種測(cè)試儀的原理和工作過(guò)程。
我們需要了解什么是電阻率。電阻率是材料對(duì)電流的阻礙程度的度量,通常用符號(hào)ρ表示,單位是Ω·m。電阻率越小,材料的導(dǎo)電性越好。而電阻則是電阻率與材料長(zhǎng)度和橫截面積的乘積,可以用來(lái)描述材料的電阻大小。
四探針半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀通過(guò)將四個(gè)探針嵌入待測(cè)試的材料中,形成一個(gè)測(cè)量電流的電路。其中兩個(gè)探針用于施加電壓,另外兩個(gè)探針用于測(cè)量電流。通過(guò)測(cè)量電壓和電流的關(guān)系,就可以計(jì)算出材料的電阻率。
具體的測(cè)試過(guò)程如下:
1. 首先,將待測(cè)試的材料放置在測(cè)試儀的測(cè)試臺(tái)上,并將四個(gè)探針插入材料中。為了確保測(cè)量的準(zhǔn)確性,探針應(yīng)該均勻分布在材料表面,并且彼此之間的距離應(yīng)該足夠遠(yuǎn)。
2. 接下來(lái),通過(guò)測(cè)試儀的控制面板設(shè)置測(cè)量參數(shù),包括施加的電壓和測(cè)量的電流范圍。通常,電壓的大小應(yīng)該適中,既能夠產(chǎn)生足夠大的電流,又不會(huì)損壞材料。
3. 當(dāng)設(shè)置好參數(shù)后,開(kāi)始進(jìn)行測(cè)量。測(cè)試儀會(huì)自動(dòng)施加電壓,并通過(guò)另外兩個(gè)探針測(cè)量電流。根據(jù)歐姆定律,[詳細(xì)]
-
2023-10-11 16:18
其它
Copyright 2004-2026 yiqi.com All Rights Reserved , 未經(jīng)書(shū)面授權(quán) , 頁(yè)面內(nèi)容不得以任何形式進(jìn)行復(fù)制
參與評(píng)論
登錄后參與評(píng)論