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陜西天士立半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀STD2000

¥255000 (具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn))
陜西天士立 STD2000 陜西 西安 2026-04-14 12:33:19
售全國(guó) 入駐:3年 等級(jí):認(rèn)證 營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核
同款產(chǎn)品:電學(xué)測(cè)試(33件)
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產(chǎn)品特點(diǎn):

1、STD2000/半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)
2、一機(jī)多用:一臺(tái)設(shè)備可以覆蓋常見的很多元器件,如Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR、OC/光耦等
3、分辨率高:Z高至1.5uV / 1.5pA,
4、精度有保證:0.1% / 16 位 ADC、1M/S 采樣率
5、測(cè)試參數(shù)全面:靜態(tài)參數(shù)+IV曲線(如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導(dǎo)/Gfe/Gfs、壓降/Vf、內(nèi)阻Rds(on))/6、高壓源:標(biāo)配1400V 選配2KV/7、高流源:標(biāo)配100A 選配40A,200A,500A
8、柵極電壓:40V
9、柵極電流:100mA

產(chǎn)品詳情:

半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀

陜西天士立科技有限公司 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀STD2000

可以測(cè)試Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR、OC/光耦等多種電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)和IV曲線(如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導(dǎo)/Gfe/Gfs、壓降/Vf、內(nèi)阻Rds(on))以及IV特性曲線等

10 五大特點(diǎn).png


222222222.png

第一部分:規(guī)格&環(huán)境

1.1、產(chǎn)品信息

產(chǎn)品型號(hào):STD2000

產(chǎn)品名稱:半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀

1.2、物理規(guī)格

主機(jī)尺寸:深660*寬430*高210(mm)

主機(jī)重量:<35kg

1.3、電氣環(huán)境

主機(jī)功耗:<300W

海拔高度:海拔不超過(guò) 4000m;

環(huán)境要求:-20℃~60℃(儲(chǔ)存)、5℃~50℃(工作);

相對(duì)濕度: 20%RH~75%RH (無(wú)凝露,濕球溫度計(jì)溫度 45℃以下);

大氣壓力:86Kpa~106Kpa;

防護(hù)條件:無(wú)較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導(dǎo)電粉塵等;

電網(wǎng)要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;

工作時(shí)間:連續(xù);

09 設(shè)備示意圖 插到 第二部分 上面 天士立.png

第二部分:應(yīng)用場(chǎng)景和產(chǎn)品特點(diǎn)

一、應(yīng)用場(chǎng)景

1、測(cè)試分析(功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的初始測(cè)試,主要功能為曲線追蹤儀)

2、失效分析(對(duì)失效器件進(jìn)行測(cè)試分析,查找失效機(jī)理。以便于對(duì)電子整機(jī)的整體設(shè)計(jì)和使用過(guò)程提出改善方案)

3、選型配對(duì)(在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測(cè)試,將測(cè)試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對(duì))

4、來(lái)料檢驗(yàn)(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對(duì)入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢,把控器件的良品率)

5、量產(chǎn)測(cè)試(可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備,實(shí)現(xiàn)規(guī)?;⒆詣?dòng)化測(cè)試)

6、替代進(jìn)口(半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀可替代同級(jí)別進(jìn)口產(chǎn)品)

05 應(yīng)用場(chǎng)景.png

二、產(chǎn)品特點(diǎn)

√ 三代半:優(yōu)秀的性能應(yīng)對(duì)第三代半導(dǎo)體及傳統(tǒng)器件,Si, sic,GaN 器件

√ 測(cè)試品類:覆蓋 25 類常見的電子元器件及 IC 類,半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀能測(cè)很多電子元器件(如二極管、三極管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、繼電器等等)

√ 功能豐富:輕松表征元器件“靜態(tài)特性”“IV 曲線”“Cxss”“CV”

√ 分析篩選:功能全面,配置豐富,勝任實(shí)驗(yàn)室場(chǎng)景中各類電參數(shù)表征

√ 量產(chǎn)測(cè)試:1h達(dá) 7K~12K 的測(cè)試效率,可連接“分選機(jī)”“編帶機(jī)”Prober 接口、16Bin。

√ 一鍵加熱:一鍵脈沖自動(dòng)加熱至+130°C,耗時(shí)< 1s;

√ 高壓源:1400V (選配 2KV)

√ 高流源:40A(選配 100A,200A,500A)

√ 驅(qū)動(dòng)電壓:20V/10uA~100mA (選配+40V/10uA~100mA)

√ 漏電測(cè)量:1nA 漏電持續(xù)穩(wěn)定測(cè)量,表現(xiàn)出優(yōu)秀 的一致性和穩(wěn)定性,更有1.5pA微電流測(cè)量選件可供選擇。

√ 高精度:16 位 ADC/DAC,0.1%精度,1M/S 采樣速率.

√ 程控軟件:基于 Lab VIEW 平臺(tái)開發(fā)的填充式菜單軟件界面:

√ 夾具工裝:適配各類封裝形式的器件,自動(dòng)識(shí)別器件極性 NPN/PNP.

√ 校準(zhǔn):系統(tǒng)自帶校準(zhǔn)軟件,也可通過(guò) RS232 接口連接數(shù)字表進(jìn)行校驗(yàn)

√ 應(yīng)用廣:半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀在各大電子廠的IQC、實(shí)驗(yàn)室有著廣泛的應(yīng)用;

第三部分:產(chǎn)品介紹

3.1、產(chǎn)品介紹

       半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀是由我公司技術(shù)團(tuán)隊(duì)結(jié)合半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀的多年經(jīng)驗(yàn),以及眾多國(guó)內(nèi)外測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品的熟悉了解后,完全自主開發(fā)設(shè)計(jì)的全新一代“半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀”。軟件及硬件均由團(tuán)隊(duì)自主完成。這就決定了這款產(chǎn)品的功能性和可靠性能夠得到持續(xù)完善和不斷的提升。

       半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀脈沖信號(hào)源輸出方面,高壓源標(biāo)配1400V(選配2KV),高流源標(biāo)配100A(選配40A,200A,500A)柵極電壓40V,柵極電流100mA,分辨率最高至1uV / 1.5pA,精度最高可至0.1%。程控軟件基于Lab VIEW平臺(tái)編寫,填充式菜單界面。采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測(cè)試插座,自動(dòng)補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測(cè)試電纜長(zhǎng)度引起的任何壓降,保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。產(chǎn)品可測(cè)試 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs 等7大類26分類的電子元器件。涵蓋電子產(chǎn)品中幾乎所有的常見器件。無(wú)論電壓電流源還是功能配置都有著極強(qiáng)的擴(kuò)展性。

       產(chǎn)品為桌面放置的臺(tái)式機(jī)結(jié)構(gòu),由測(cè)試主機(jī)和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器,還能夠通過(guò)Prober 接口、Handler 接口可選(16Bin)連接分選機(jī)和機(jī)械手建立工作站,實(shí)現(xiàn)快速批量化測(cè)試。通過(guò)軟件設(shè)置可依照被測(cè)器件的參數(shù)等級(jí)進(jìn)行自動(dòng)分類存放。能夠極好的應(yīng)對(duì)“來(lái)料檢驗(yàn)”“失效分析”“選型配對(duì)”“量產(chǎn)測(cè)試”等不同場(chǎng)景。

        半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀產(chǎn)品的可靠性和測(cè)試數(shù)據(jù)的重復(fù)性以及測(cè)試效率都有著非常優(yōu)秀的表現(xiàn)。創(chuàng)新的“點(diǎn)控式夾具”讓操作人員在夾具上實(shí)現(xiàn)一點(diǎn)即測(cè)。操作更簡(jiǎn)單效率更高。測(cè)試數(shù)據(jù)可保存為EXCEL文本,方便快捷的完成曲線追蹤儀。

3.2、人機(jī)界面(半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀)

06 人機(jī)界面.png

第四部分:功能配置

4.1、配置選項(xiàng)

半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀的功能配置如下

 07 配置選型 天士立.png

4.2、適配器選型

半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀的適配器有如下

08 適配器選型 天士立.png

4.3、測(cè)試種類及參數(shù)

半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀的測(cè)試種類和參數(shù)如下

(1)二極管類:二極管  Diode

Kelvin,Vrrm,Irrm,Vf,△Vf,△Vrrm,Cka,Tr(選配);

(2)二極管類:穩(wěn)壓二極管  ZD(Zener Diode)

Kelvin,Vz,lr,Vf,△Vf,△Vz,Roz,lzm,Cka;

(3)二極管類:穩(wěn)壓二極管  ZD(Zener Diode)

Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz、Roz、lzm、Cka;

(4)二極管類:三端肖特基二極管SBD(SchottkyBarrierDiode)

Kelvin 、Type_ident 、Pin_test 、Vrrm、Irrm、Vf、△Vf、V_Vrrm、I_Irrm、△Vrrm、Cka、Tr(選配);

(5)二極管類:瞬態(tài)二極管  TVS

Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka ;

(6)二極管類:整流橋堆

Kelvin 、Vrrm、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka;

(7)二極管類:三相整流橋堆

Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm、Cka;

(8)三極管類:三極管

Kelvin 、Type_ident、Pin_chk 、V(br)cbo 、V(br)ceo 、V(br)ebo 、Icbo、lceo、Iebo、Hfe、Vce(sat)、Vbe(sat)、△Vsat、△Bvceo 、△Bvcbo 、Vbe、lcm、Vsd 、Ccbo 、Cces、Heater、Tr (選配)、Ts(選配)、Value_process;

(9) 三極管類:雙向可控硅

Kelvin、Type_ident、Qs_chk、Pin_test、Igt、Vgt、Vtm、Vdrm、Vrrm、Vdrm rrm、Irrm、 Idrm、Irrm_drm、Ih、IL、C_vtm、△Vdrm、△Vrrm、△Vtm;

(10)三極管類:?jiǎn)蜗蚩煽毓?/p>

Kelvin、 Type_ident、 Qs_chk、 Pin test、 lgt、 Vgt、 Vtm、 Vdrm Vrrm、 IH、IL、△Vdrm△Vrrm、Vtm;

(11)三極管類:MOSFET

Kelvin 、Type_ident、Pin_test、VGS(th) 、V(BR)Dss 、Rds(on) 、Bvds_rz、△Bvds、Gfs、Igss、ldss 、Idss zero 、Vds(on)、 Vsd、Ciss、Coss、Crss、Bvgs 、ld_lim 、Heater、Value_proces、△Rds(on) ;

(12)三極管類:雙MOSFET

Kelvin、 Pin_chk、Ic_fx_chk、 Type_ident、 Vgs1(th)、 VGs2(th)、 VBR)Dss1、 VBR)Dss2、 Rds1(on)、 Rds2(on)、 Bvds1 rz、 Bvds2_rz、 Gfs1、Gfs2、lgss1、lgss2、Idss1、Idss2、Vsd1、Vsd2、Ciss、Coss、Crss;

(13)三極管類:JFET

Kelvin、VGS(off )、V(BR)Dss、Rds(on)、Bvds_rz、Gfs、lgss、 Idss(off)、 Idss(on)、 vds(on)、 Vsd、Ciss、Crss、Coss;

(14)三極管類:IGBT

Kelvin、VGE(th)、V(BR)CES、Vce(on)、Gfe、lges、 lces、Vf、Ciss、Coss、Crss;

(15)三極管類:三端開關(guān)功率驅(qū)動(dòng)器

Kelvin、Vbb(AZ)、 Von(CL)、 Rson、Ibb(off)、Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt;

(16)三極管類:七端半橋驅(qū)動(dòng)器

Kelvin、lvs(off)、lvs(on)、Rson_h、Rson_l、lin、Iinh、ls_Volt、Sr_volt;

(17)三極管類:高邊功率開關(guān)

Kelvin、Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、ll(Iim)、Coss、Fun_pin_volt;

(18)保護(hù)類:壓敏電阻

Kelvin、Vrrm、 Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、 △Vr ;

(19)保護(hù)類:?jiǎn)谓M電壓保護(hù)器

Kelvin 、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr;

(20)保護(hù)類:雙組電壓保護(hù)器

Kelvin、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr;

(21)穩(wěn)壓集成類:三端穩(wěn)壓器

Kelvin 、Type_ident 、Treg_ix_chk 、Vout 、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△IB、VD、ISC、Max_lo、Ro、Ext _Sw、Ic_fx_chk;

(22)穩(wěn)壓集成類:基準(zhǔn)IC(TL431)

Kelvin、Vref、△Vref、lref、Imin、loff、Zka、Vka;

(23)穩(wěn)壓集成類:四端穩(wěn)壓

Kelvin、Type_ident、Treg_ix_chk、Vout、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△lB、VD、Isc、Max_lo、Ro、Ext_Sw、Ic_fx_chk;

(24)穩(wěn)壓集成類:開關(guān)穩(wěn)壓集成器

選配;

(25)繼電器類:4腳單刀單組、5腳單刀雙組、8腳雙組雙刀、8腳雙組四刀、固態(tài)繼電器

Kelvin、Pin_chk、Dip6_type_ident、Vf、Ir、Vl、Il、Ift、Ron、Ton(選配)、Toff(選配);

(26)光耦類:4腳光耦、6腳光耦、8腳光耦、16腳光耦

Kelvin、Pin_chk、Vf、Ir、Bvceo、Bveco、Iceo、Ctr、Vce(sat)、Tr、Tf;

(27)傳感監(jiān)測(cè)類:

電流傳感器(ACS712XX系列、CSNR_15XX系列)(選配);

霍爾器件(MT44XX系列、A12XX系列)(選配);

電壓監(jiān)控器(選配);

電壓復(fù)位IC(選配);

656566.png

第五部分:性能指標(biāo)

陜西天士立半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀STD2000

5.1、電流/電壓源VIS自帶VI測(cè)量單元

(1)加壓(FV)

量程±40V分辨率625uV精度±0.1% 設(shè)定值±3mV

量程±20V分辨率320uV精度±0.1% 設(shè)定值±3mV

量程±10V分辨率160uV精度±0.1% 設(shè)定值±3mV

量程±5V分辨率80uV精度±0.1% 設(shè)定值±2mV

量程±2V分辨率32uV精度±0.1% 設(shè)定值±2mV

(2)加流(FI)

量程±40A 分辨率625uA精度±0.5% 設(shè)定值±30mA

量程±4A 分辨率62.5uA精度±0.2% 設(shè)定值±2mA

量程±400mA分辨率6.25uA精度±0.1% 設(shè)定值±500uA

量程±40mA分辨率625nA精度±0.1% 設(shè)定值±50uA

量程±4mA分辨率62.5nA精度±0.1% 設(shè)定值±5uA

量程±400uA分辨率6.25nA精度±0.1% 設(shè)定值±500nA

量程±40uA分辨率625pA精度±0.1% 設(shè)定值±50nA

量程±4uA分辨率62.5pA精度±0.1% 設(shè)定值±5nA

說(shuō)明:電流大于1.5A自動(dòng)轉(zhuǎn)為脈沖方式輸出,脈寬范圍:300us-1000us可調(diào)

(3)電流測(cè)量(MI)

量程±40A分辨率1.22mA精度±1% 讀數(shù)值±20mA

量程±4A分辨率122uA精度±0.5% 讀數(shù)值±2mA

量程±400mA分辨率12.2uA精度±0.5% 讀數(shù)值±200uA

量程±40mA分辨率1.22uA精度±0.5% 讀數(shù)值±20uA

量程±4mA分辨率122nA精度±0.5% 讀數(shù)值±2uA

量程±400uA分辨率12.2nA精度±0.5% 讀數(shù)值±200nA

量程±40uA分辨率1.22nA精度±1% 讀數(shù)值±20nA

(4)電壓測(cè)量(MV)

量程±40V分辨率1.22mV精度±1% 讀數(shù)值±20mV

量程±20V分辨率122uV 精度±0.5% 讀數(shù)值±2mV

量程±10V分辨率12.2uV 精度±0.5% 讀數(shù)值±200uV

量程±5V分辨率1.22uV 精度±0.5% 讀數(shù)值±20uV

5.2數(shù)據(jù)采集部分VM

16位ADC,1M/S采樣速率

(1)電壓測(cè)量(MV)

量程±2000V分辨率30.5mV精度±0.5%讀數(shù)值±200mV

量程±1000V分辨率15.3mV精度±0.2%讀數(shù)值±20mV

量程±100V分辨率1.53mV精度±0.1%讀數(shù)值±10mV

量程±10V分辨率153uV精度±0.1%讀數(shù)值±5mV

量程±1V分辨率15.3uV精度±0.1%讀數(shù)值±2mV

量程±0.1V分辨率1.53uV精度±0.2%讀數(shù)值±2mV

(2)漏電流測(cè)量(MI)

量程±100mA分辨率1.53uA精度±0.2%讀數(shù)值±100uA

量程±10mA分辨率153nA精度±0.1%讀數(shù)值±3uA

量程±1mA分辨率15.3nA精度±0.1%讀數(shù)值±300nA

量程±100uA分辨率1.53nA精度±0.1%讀數(shù)值±100nA

量程±10uA分辨率153pA精度±0.1%讀數(shù)值±20nA

量程±1uA 分辨率15.3pA精度±0.5%讀數(shù)值±5nA

量程±100nA分辨率1.53pA精度±0.5%讀數(shù)值±0.5nA

(3)電容容量測(cè)量(MC)

量程6nF分辨率10PF精度±5%讀數(shù)值±50PF

量程60nF分辨率100PF精度±5%讀數(shù)值±100PF

5.3、高壓源HVS(基本)12位DAC

(1)加壓(FV)

量程2000V/10mA分辨率30.5mV精度±0.5%設(shè)定值±500mV

量程200V/10mA分辨率30.5mV精度±0.2%設(shè)定值±50mV

量程40V/50mA分辨率30.5mV精度±0.1%設(shè)定值±5mV

(2)加流(FI):

量程10mA分辨率3.81uA 精度±0.5%設(shè)定值±10uA

量程2mA分辨率381nA精度±0.5%設(shè)定值±2uA

量程200uA分辨率38.1nA精度±0.5%設(shè)定值±200nA

量程20uA分辨率3.81nA精度±0.5%設(shè)定值±20nA

量程2uA分辨率381pA精度±0.5%設(shè)定值±20nA

陜西天士立半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀STD2000能測(cè)很多電子元器件(如二極管、三極管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、繼電器等等)產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用在院所高校、封測(cè)廠、電子廠.....

技術(shù)資料

  • 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀
    技術(shù)規(guī)格,參數(shù)性能,功能配置。請(qǐng)下載查看。

    上傳人:陜西天士立科技有限公司

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半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)

陜西天士立科技有限公司/STD2000/半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)可以測(cè)試Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR等電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)和IV曲線(如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導(dǎo)/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導(dǎo)通內(nèi)阻Rds(on))。測(cè)試種類覆蓋 7 大類別26分類,包括“二極管類”“三極管類(如BJT、MOSFET、IGBT)”“保護(hù)類器件”“穩(wěn)壓集成類”“繼電器類”“光耦類”“傳感監(jiān)測(cè)類”等品類的繁多的電子元器件高壓源標(biāo)配1400V(選配2KV),高流源標(biāo)配100A(選配40A,200A,500A)控制極/柵極電壓40V,柵極電流100mA分辨率至1.5uV / 1.5pA,精度可至0.1%

陜西天士立半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀STD2000

1、STD2000/半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng) 2、一機(jī)多用:一臺(tái)設(shè)備可以覆蓋常見的很多元器件,如Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR、OC/光耦等 3、分辨率高:Z高至1.5uV / 1.5pA, 4、精度有保證:0.1% / 16 位 ADC、1M/S 采樣率 5、測(cè)試參數(shù)全面:靜態(tài)參數(shù)+IV曲線(如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導(dǎo)/Gfe/Gfs、壓降/Vf、內(nèi)阻Rds(on))/6、高壓源:標(biāo)配1400V 選配2KV/7、高流源:標(biāo)配100A 選配40A,200A,500A 8、柵極電壓:40V 9、柵極電流:100mA

功率半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀

華科智源功率器件測(cè)試儀,測(cè)試二極管 、IGBT,MOS管,SIC器件靜態(tài)參數(shù),并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線,測(cè)試1600A,5000V以下的各種功率器件,廣泛應(yīng)用于器件設(shè)計(jì),封裝測(cè)試,軌道交通,電動(dòng)汽車 ,風(fēng)力發(fā)電,變頻器,焊機(jī)等行業(yè)的IGBT來(lái)料選型和失效分析。

功率半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀

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Agilent4156C/安捷倫4156C半導(dǎo)體參數(shù)分析儀

Agilent4156C/安捷倫4156C半導(dǎo)體參數(shù)分析儀 Agilent 4155C 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是用于高級(jí)器件表征的精確實(shí)驗(yàn)室臺(tái)式解決方案。Agilent 41501B 擴(kuò)展器將您的功能擴(kuò)展到 1A/200V,并在 Agilent 4155C 上添加了一個(gè)低噪聲接地單元和雙脈沖發(fā)生器。

現(xiàn)貨惠普4155B+HP4155A半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀

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Agilent/安捷倫4155C 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀

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Agilent/安捷倫4155C半導(dǎo)體參數(shù)分析儀

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