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數(shù)據(jù)采集器
測(cè)振儀
數(shù)據(jù)采集器
表面阻抗測(cè)量
聲級(jí)計(jì)/分貝計(jì)/噪聲計(jì)
測(cè)振儀
數(shù)據(jù)采集器
數(shù)據(jù)采集器
加速度計(jì)
表面阻抗測(cè)量
表面阻抗測(cè)量
表面阻抗測(cè)量
表面阻抗測(cè)量
3D掃描儀/三維激光掃描儀
測(cè)振儀
聲級(jí)計(jì)/分貝計(jì)/噪聲計(jì)
數(shù)據(jù)采集器
計(jì)時(shí)器
數(shù)據(jù)采集器
數(shù)據(jù)采集器
數(shù)據(jù)采集器
數(shù)據(jù)采集器
數(shù)據(jù)采集器
數(shù)據(jù)采集器
表面阻抗測(cè)量
ETS-500藍(lán)光光柵拍照式三維掃描儀
1、采用雙目500萬像素工業(yè)相機(jī),精度更高,細(xì)節(jié)更清晰; 2、采用同步觸發(fā)驅(qū)動(dòng)技術(shù),投光采集時(shí)間更短,掃描效率高; 3、采用藍(lán)光窄帶光源和多種條紋編碼技術(shù),抗干擾能力強(qiáng),細(xì)節(jié)更好; 4、采用多核多線程高速算法及GPU加速,數(shù)據(jù)三維重建更快更高效; 5、使用維護(hù)方便簡(jiǎn)捷,全面提升用戶體驗(yàn);
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng) Keithley DAQ6510
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng) Keysight DAQ970A/973A
PIND?顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀
陜西天士立科技有限公司/IV曲線測(cè)試儀
陜西天士立科技有限公司/STD2000/IV曲線測(cè)試儀可以測(cè)試Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR等電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)和IV曲線(如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導(dǎo)/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導(dǎo)通內(nèi)阻Rds(on))。測(cè)試種類覆蓋 7 大類別26分類,包括“二極管類”“三極管類(如BJT、MOSFET、IGBT)”“保護(hù)類器件”“穩(wěn)壓集成類”“繼電器類”“光耦類”“傳感監(jiān)測(cè)類”等品類的繁多的電子元器件高壓源標(biāo)配1400V(選配2KV),高流源標(biāo)配100A(選配40A,200A,500A)控制極/柵極電壓40V,柵極電流100mA分辨率至1.5uV / 1.5pA,精度可至0.1%
GWIM-1000型高溫體積表面電阻率測(cè)試儀
GWIM-1000型高溫體積表面電阻率測(cè)試儀是一款滿足GB/T31838.2-2019固體絕緣材料介電和電阻特性第2部分:電阻特性(DC方法)體積電阻和體積電阻率;等同IEC62631-3-1-2016固體絕緣材料的介電和電阻性能-第3-1部分:電阻特性的確定(直流方法)-體積電阻和體積電阻率-一般方法;
德國(guó)GMC-I高美測(cè)儀電站安規(guī)及IV曲線測(cè)試儀SEAWARD PV200
德國(guó)GMC-I高美測(cè)儀 光伏組件功率IV曲線測(cè)試儀PROFITEST PV
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數(shù)據(jù)采集器
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數(shù)據(jù)采集器
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3D掃描儀/三維激光掃描儀
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表面阻抗測(cè)量
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數(shù)據(jù)采集器
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