1、采用雙目500萬像素工業(yè)相機，精度更高，細節(jié)更清晰； 2、采用同步觸發(fā)驅動技術，投光采集時間更短，掃描效率高； 3、采用藍光窄帶光源和多種條紋編碼技術，抗干擾能力強，細節(jié)更好； 4、采用多核多線程高速算法及GPU加速，數據三維重建更快更高效； 5、使用維護方便簡捷，全面提升用戶體驗；

陜西天士立科技有限公司/STD2000/IV曲線測試儀可以測試Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR等電子元器件的靜態(tài)直流參數和IV曲線（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導通內阻Rds(on)）。測試種類覆蓋 7 大類別26分類，包括“二極管類”“三極管類（如BJT、MOSFET、IGBT）”“保護類器件”“穩(wěn)壓集成類”“繼電器類”“光耦類”“傳感監(jiān)測類”等品類的繁多的電子元器件高壓源標配1400V（選配2KV），高流源標配100A（選配40A,200A,500A）控制極/柵極電壓40V，柵極電流100mA分辨率至1.5uV / 1.5pA，精度可至0.1%

GWIM-1000型高溫體積表面電阻率測試儀是一款滿足GB／T31838.2-2019固體絕緣材料介電和電阻特性第2部分：電阻特性(DC方法)體積電阻和體積電阻率；等同IEC62631-3-1-2016固體絕緣材料的介電和電阻性能-第3-1部分:電阻特性的確定（直流方法）-體積電阻和體積電阻率-一般方法；