- 美國(guó)KLA資料庫(kù)
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KLA iMicro 納米壓痕儀- KLA iMicro 納米壓痕儀可輕松測(cè)量硬涂層，薄膜和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶(hù)友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納米級(jí)機(jī)械測(cè)試?？苫Q的驅(qū)動(dòng)器能夠提供大的動(dòng)態(tài)范圍的力荷[詳細(xì)]
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2025-06-27 15:01
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- KLA iNano 納米壓痕儀
- KLA iNano 納米壓痕儀可輕松測(cè)量薄膜、涂層和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶(hù)友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納米級(jí)機(jī)械測(cè)試。[詳細(xì)]
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2025-06-27 15:00
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- KLA R54 四探針電阻率測(cè)量?jī)x
- KLA R54 四探針電阻率測(cè)量?jī)x是KLA的電阻率測(cè)量產(chǎn)品。從半導(dǎo)體制造到實(shí)現(xiàn)可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品，薄膜電阻監(jiān)控對(duì)于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都相當(dāng)重要。KLA R54 四探針電阻率測(cè)量?jī)x在功能上[詳細(xì)]
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2025-06-27 14:58
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- KLA Zeta-20 白光共聚焦顯微鏡
- Zeta-20 白光共聚焦顯微鏡可以對(duì)大部分材料和結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像分析，從光滑到高粗糙度、低反射率到高反射率表面、透明到不透明介質(zhì)。[詳細(xì)]
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2025-06-19 17:05
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- KLA D500 探針式表面輪廓儀
- KLA D500 探針式表面輪廓儀包含140毫米手動(dòng)載物臺(tái)和具有增強(qiáng)影像控制的光學(xué)器件。體積小巧，專(zhuān)為高校、實(shí)驗(yàn)室和研究所設(shè)計(jì)，可為半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體器件、LED、太陽(yáng)能、MEMS、汽車(chē)和醫(yī)療行業(yè)提[詳細(xì)]
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2025-06-19 17:04
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- KLA D600 探針式表面輪廓儀
- KLA D600 探針式表面輪廓儀包括一個(gè)200mm自動(dòng)樣品載臺(tái)和具有增強(qiáng)圖像控制的光學(xué)器件。Alpha-Step輪廓儀體積小巧，專(zhuān)為高校、實(shí)驗(yàn)室和研究所設(shè)計(jì)[詳細(xì)]
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2025-06-19 17:03
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- KLA P-170全自動(dòng)探針式表面輪廓儀
- KLA P-170 系統(tǒng)的配方設(shè)置快速而簡(jiǎn)單，有點(diǎn)擊式平臺(tái)控制、雙視角光學(xué)和高分辨率數(shù)字?jǐn)z像機(jī)。將光標(biāo)放置在特定的特征上，通過(guò)自動(dòng)處理晶圓、模式識(shí)別、排序和特征檢測(cè)來(lái)實(shí)現(xiàn)完全自動(dòng)化的測(cè)量。[詳細(xì)]
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2025-06-19 17:00
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- KLA P-17 探針式臺(tái)階儀
- KLA P-17 探針式臺(tái)階儀將自動(dòng)化與可靠性相結(jié)合，適用于無(wú)需晶圓處理器的生產(chǎn)應(yīng)用。這些應(yīng)用包括用于半導(dǎo)體、功率器件、無(wú)線(xiàn)技術(shù)、LED和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)領(lǐng)域的AlTiC、GaAs、Si、SiC和藍(lán)寶石晶圓的[詳細(xì)]
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2025-06-19 16:59
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- KLA P-7 探針式臺(tái)階儀
- KLA P-7 探針式臺(tái)階儀可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，其掃描可達(dá)150mm而無(wú)需圖像拼接。[詳細(xì)]
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2025-06-19 16:56
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