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美國KLA
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- KLA-Tencor成立于1975年，位于美國加利福尼亞州的米爾皮塔斯，致力于半導(dǎo)體（芯片）設(shè)備領(lǐng)域的探索。產(chǎn)品主要有芯片缺陷檢測儀、芯片量測儀、實時等離子蝕刻晶圓溫度測量系統(tǒng)、套刻量測系統(tǒng)、表面輪廓儀、納米機械測試儀、芯片封裝設(shè)備等，產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體產(chǎn)品研發(fā)、設(shè)計、制造、檢測等領(lǐng)域。
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