本文由 優(yōu)尼康科技有限公司 整理匯編

2025-06-19 17:00 543閱讀次數(shù)

收藏 評(píng)價(jià) 舉報(bào)

• 分享

立即下載

相關(guān)產(chǎn)品

參與評(píng)論

評(píng)論

登錄后參與評(píng)論

登錄或新用戶注冊(cè)

• 微信登錄
• 密碼登錄
• 短信登錄

請(qǐng)用手機(jī)微信掃描下方二維碼
快速登錄或注冊(cè)新賬號(hào)

微信掃碼，手機(jī)電腦聯(lián)動(dòng)

注冊(cè)登錄即表示同意《儀器網(wǎng)服務(wù)條款》和《隱私協(xié)議》

賬  號(hào)：

密  碼：

圖片碼： 看不清？
換一張？

手機(jī)和郵箱號(hào)注冊(cè)新賬號(hào)>> 忘記密碼？

手機(jī)號(hào)：

圖片碼： 看不清？
換一張？

短信碼： 獲取短信碼

手機(jī)和郵箱號(hào)注冊(cè)新賬號(hào)>> 忘記密碼？

更多資料

• KLA P-170全自動(dòng)探針式表面輪廓儀

  KLA P-170 系統(tǒng)的配方設(shè)置快速而簡(jiǎn)單，有點(diǎn)擊式平臺(tái)控制、雙視角光學(xué)和高分辨率數(shù)字?jǐn)z像機(jī)。將光標(biāo)放置在特定的特征上，通過(guò)自動(dòng)處理晶圓、模式識(shí)別、排序和特征檢測(cè)來(lái)實(shí)現(xiàn)完全自動(dòng)化的測(cè)量。[詳細(xì)]

  2025-06-19 17:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• KLA D600 探針式表面輪廓儀

  KLA D600 探針式表面輪廓儀包括一個(gè)200mm自動(dòng)樣品載臺(tái)和具有增強(qiáng)圖像控制的光學(xué)器件。Alpha-Step輪廓儀體積小巧，專為高校、實(shí)驗(yàn)室和研究所設(shè)計(jì)[詳細(xì)]

  2025-06-19 17:03

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• KLA D500 探針式表面輪廓儀

  KLA D500 探針式表面輪廓儀包含140毫米手動(dòng)載物臺(tái)和具有增強(qiáng)影像控制的光學(xué)器件。體積小巧，專為高校、實(shí)驗(yàn)室和研究所設(shè)計(jì)，可為半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體器件、LED、太陽(yáng)能、MEMS、汽車和醫(yī)療行業(yè)提[詳細(xì)]

  2025-06-19 17:04

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• KLA P-7 探針式臺(tái)階儀

  KLA P-7 探針式臺(tái)階儀可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，其掃描可達(dá)150mm而無(wú)需圖像拼接。[詳細(xì)]

  2025-06-19 16:56

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• KLA P-17 探針式臺(tái)階儀

  KLA P-17 探針式臺(tái)階儀將自動(dòng)化與可靠性相結(jié)合，適用于無(wú)需晶圓處理器的生產(chǎn)應(yīng)用。這些應(yīng)用包括用于半導(dǎo)體、功率器件、無(wú)線技術(shù)、LED和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)領(lǐng)域的AlTiC、GaAs、Si、SiC和藍(lán)寶石晶圓的[詳細(xì)]

  2025-06-19 16:59

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• KLA R54 四探針電阻率測(cè)量?jī)x

  KLA R54 四探針電阻率測(cè)量?jī)x是KLA的電阻率測(cè)量產(chǎn)品。從半導(dǎo)體制造到實(shí)現(xiàn)可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品，薄膜電阻監(jiān)控對(duì)于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都相當(dāng)重要。KLA R54 四探針電阻率測(cè)量?jī)x在功能上[詳細(xì)]

  2025-06-27 14:58

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• KLA R50 四探針電阻率測(cè)量?jī)x

  KLA R50 四探針電阻率測(cè)繪系統(tǒng)是KLA電阻測(cè)試系列的產(chǎn)品。電阻測(cè)量和監(jiān)控對(duì)于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都相當(dāng)重要，從半導(dǎo)體制造到可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品。KLA R50 四探針電阻率測(cè)量?jī)x在金屬[詳細(xì)]

  2025-06-27 14:59

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• KLA iNano 納米壓痕儀

  KLA iNano 納米壓痕儀可輕松測(cè)量薄膜、涂層和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納米級(jí)機(jī)械測(cè)試。[詳細(xì)]

  2025-06-27 15:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• KLA iMicro 納米壓痕儀

  KLA iMicro 納米壓痕儀可輕松測(cè)量硬涂層，薄膜和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納米級(jí)機(jī)械測(cè)試?？苫Q的驅(qū)動(dòng)器能夠提供大的動(dòng)態(tài)范圍的力荷[詳細(xì)]

  2025-06-27 15:01

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• NanoMap-D三維表面輪廓儀介紹

  NanoMap-D三維表面輪廓儀介紹[詳細(xì)]

  2024-09-10 22:52

  專利

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• KLA Profilm3D 光學(xué)輪廓儀

  KLA Profilm3D 是一款3D白光干涉輪廓儀。KLA Profilm3D 光學(xué)輪廓儀使用垂直干涉掃描(WLI)技術(shù)與相位干涉(PSI)技術(shù)。以較低的價(jià)格實(shí)現(xiàn)次納米級(jí)的表面形貌研究。采用白光干涉[詳細(xì)]

  2025-06-19 17:01

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• KLA Zeta-20 白光共聚焦顯微鏡

  Zeta-20 白光共聚焦顯微鏡可以對(duì)大部分材料和結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像分析，從光滑到高粗糙度、低反射率到高反射率表面、透明到不透明介質(zhì)。[詳細(xì)]

  2025-06-19 17:05

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• NanoMap-D三維表面輪廓儀簡(jiǎn)易操作手冊(cè)

  NanoMap-D三維表面輪廓儀簡(jiǎn)易操作手冊(cè)[詳細(xì)]

  2024-09-10 23:12

  期刊論文

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 探針接觸式三維輪廓儀產(chǎn)品樣冊(cè)

  探針接觸式三維輪廓儀產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]

  2024-09-11 18:04

  標(biāo)準(zhǔn)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 全自動(dòng)多功能掃描探針顯微鏡/AFM產(chǎn)品樣冊(cè)

  全自動(dòng)多功能掃描探針顯微鏡/AFM產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]

  2016-10-19 17:05

  選購(gòu)指南

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 全自動(dòng)多功能掃描探針顯微鏡/AFM產(chǎn)品樣冊(cè)

  全自動(dòng)多功能掃描探針顯微鏡/AFM產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]

  2016-10-19 17:45

  選購(gòu)指南

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 四點(diǎn)探針測(cè)試儀 四點(diǎn)探針 CDE

  四點(diǎn)探針測(cè)試儀 四點(diǎn)探針 CDE[詳細(xì)]

  2024-09-28 13:20

  報(bào)價(jià)單

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 探針微定位器,適合各種探針和探針臺(tái)的定位器.

  探針微定位器,適合各種探針和探針臺(tái)的定位器.[詳細(xì)]

  2013-10-24 00:00

  操作手冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• PHI X-tool 全自動(dòng)掃描型微區(qū)XPS探針產(chǎn)品樣冊(cè)

  PHI X-tool 全自動(dòng)掃描型微區(qū)XPS探針產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]

  2024-09-11 17:52

  課件

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 探針電子束光刻機(jī)（掃描探針電子束光刻系統(tǒng)P-SPL21）

  公司推出的探針電子束光刻機(jī)P-SPL21,利用探針在近光刻膠表面發(fā)射低能電子的原理實(shí)現(xiàn)光刻效果。該系統(tǒng)的主要特點(diǎn)在于： （1）幾乎無(wú)鄰近效應(yīng)，能實(shí)現(xiàn)3-5nm線寬的超精細(xì)光刻結(jié)構(gòu)； （2）用于發(fā)射電子的探針同時(shí)具有原子力顯微鏡功能，能夠?qū)崿F(xiàn)亞納米級(jí)精準(zhǔn)定位并原位測(cè)量曝光圖型； （3）超高寫場(chǎng)拼接精度（≤2nm），且能夠抑制電子束長(zhǎng)時(shí)間產(chǎn)生的空間漂移（≤5nm）。 百及納米科技的探針電子束光刻系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)光刻與原子力顯微鏡表征的雙重功能，是一款理想的用于微納制造和表征尺寸小于5nm線寬結(jié)構(gòu)的一體化系統(tǒng)。[詳細(xì)]

  2024-09-14 06:17

  產(chǎn)品樣冊(cè)

  |

  • 
  • 
  • 
  •